瓷片电容-SMD贴片电容检验标准
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工 作 文 件 生效日期 分 發 號
文件名 文件編號 版本狀態 瓷片電容/SMD貼片電容檢驗標準 A
1.0 目的
為深圳市好礼来电子产品厂所使用的瓷片電容/SMD貼片電容提供檢驗依據.
2.0 適用范圍
僅適用于深圳市好礼来电子产品厂所使用的瓷片電容/SMD貼片電容.
3.0 參考資料
《中華人民共和國行業標準---電容器》
4.0 抽樣水准
按MIL-STD-105E正常單次(?)抽樣計劃進行抽樣:
CRI:0 MAJ:0.65 MIN:1.0 (如客戶有要求按客戶要求)
5.0 所需工具
電容測試儀(L.C.R儀)一台 電流表一塊 電壓表一塊
可調直流穩壓源一台 30W烙鐵一把
6.0 檢驗方法
6.1 外觀檢驗
6.1.1 引腳是否氧化、生鏽、脫落、過短.
6.1.2 主體是否變形、破損、破裂.
6.1.3 字跡模糊或標識不清.
6.1.4 用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符是否會脫落.
6.1.5 SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察不能有裂痕.
6.2 容量測量
用電容測試儀(L.C.R儀)【測試頻率為1KHZ,測試電壓為1.0V】對其進行
容量測量,其容量應誤差范圍內..
注#:中括號內要求只有在使用L.C.R儀測試時才參照
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日期 日期
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文件名 文件編號 版本狀態 瓷片電容SMD貼片電容檢驗標準 A
附: 電容容量誤差字母表示
F表示?1% J表示?5%
M表示?20% Z表示(+80,-20)%
6.3漏電流測試
將被測電容按下圖串入線路中,將直流電壓調至與電容耐壓相等,此時μA表
的顯示應小于0.1μA.
6.4 耐壓測試
將被測電容按上圖串入線路中,將直流電壓調至與電容耐壓相等,對其進行連
續充電12小時,不能出現冒湮、變黑、異味、裂開、短路、開路等現象.
6.5 高低溫測試:
將在常溫下測試容量、漏電均正常的電容放入-10?的溫度中2小時.然后用
30W烙鐵對其進行加熱3秒,再測試容量,漏電是否合格.如此連續反復3次高
低溫試驗,其容量,漏電應正常.
6.6 吃錫試驗:
用30W烙鐵對兩焊點做吃錫試驗,3秒內應吃錫良好.
7.0 檢驗標准:
判定 序號 檢驗項目 品 質 要 求
CRI MAJ MIN
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日期 日期
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工 作 文 件 生效日期 分 發 號 文件名 文件編號 版本狀態 瓷片電容SMD貼片電容檢驗標準 A
判定
序號 檢驗項目 品 質 要 求
CRI MAJ MIN 外觀 引腳氧化、生鏽、脫落、過短. ※ 7.1
主體變形、破損、破裂. ※
字跡模糊或標識不清. ※
用手指或棉簽沾酒精輕輕擦試主體字符會脫落. ※
SMD貼片電容需置于20倍顯微鏡下觀察有裂痕. ※ 容量 容量大小超出充許誤差范圍 ※ 7.2
漏電 漏電流超出充許誤差范圍 ※ 7.3
高低溫 容量超出誤差范圍 ※ 7.4
漏電流超出誤差范圍 ※
外觀有破裂,破損 ※ 吃錫 不吃錫或吃錫不夠 ※ 7.5
外觀有破裂,破損 ※
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日期 日期
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