瓷片电容
2009-07-08发布 2009-08-08实施
瓷片电容
本
标准
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规定了这类电容器的优先额定值和特性,适用的质量评定程序、试验和测量方法,以及给出一般特性要求。在详细
规范
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中规定的试验严酷度和要求,应具有与本标准相同或更高的性能水平,因为,降低的性能水平是不允许的。
1 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成
协议
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GB/T2471 电阻器和电容器的优先数系(idt IEC 63~1963)
GB/T2691 电阻器和电容器标志代码(idt IEC 62;1992)
GB 2693 电子设备用固定电容器 第1部分:总规范
GB/T 5966 电子设备用固定电容器 第8部分:分规范:1类瓷介固定电容器(中文)
GB/T 5968 电子设备用固定电容器 第9部分:分规范:2类瓷介固定电容器(中文)
GB/T7725 房间空气调节器
GB/T 11305 电子设备用固定电容器 分规范 (该标准已废止,但未找到替代标准)
2 定义
本标准采用下列定义:
2.1 分类
2.1.1 按电介质种类:
I类电介质、II类电介质、III类电介质。
2.1.2 按温度特性:
温度补偿型、高介电常数型、半导体型。
2.2 I类电介质电容器
也称作温度补偿型电容器,主要分为CC1、CC81系列等,是一种专门设计和用于谐振电路中的电容器,用在低损耗和电容量高稳定性或要求温度系数有明确规定的地方。
陶瓷介质是由它的温度系数(α)来确定。
2.3 II类电介质电容器
主要分为CT1、CT81系列等, 适用于作旁路、耦合或用在对损耗和电容量稳定性要求不高的电路中的具有高介电常数的一种电容器。该类陶瓷介质(见表2)是以在类别温度范围内电容量非线性变化来表征。
2.4 III类电介质电容器
1
主要分为CS1系列等,适用于作旁路、耦合电路中具有半导体特征的一种电容器。该类陶瓷介质(见表2)是以在类别温度范围内电容量非线性变化来表征。
2.5 等级
等级是由在类别温度范围内,电容量相对于20?的电容量的允许最大变化来确定的。等级可以用代码的形式来表示(见表2)。
2.6 额定电压(Ur)
额定电压是在额定温度下,可以连续施加在电容器引出端上的最大直流电压。
注:加在电容器上的直流电压和交流电压峰值之和不应超过额定电压。交流电压的峰值不应超过按允许无功功率所
确定的值。
3 试验用大气条件
3.1 除非别有规定,所有试验和测量就在IEC68-1第5.3条规定的实验用标准大气条件下进行。
温度:15,35?;
相对湿度:45%,75%;
气压:86,106kPa(860,1060mbar)。
在进行测量之前,电容器应在测量温度下存放足够时间,以便使整个电容器达到这一温度。为此目的,规定与试验后恢复时间一样的周期,通常是足够的。
在规定温度以外的温度下进行测量时,如必要,则应将其结果校正到规定温度时的数值。测量期间的环境温度应在试验报告中说明。在有争议时,应采用仲裁温度的一种(按4.3条规定)重复测量。而其他条件应按本规范规定。
3.2 恢复条件
除非另为规定,恢复应在试验用标准大气条件(见4.1条)下进行。如果恢复必须在严格控制的条件下进行,应采用IEC68-1第5.4.1条的控制条件。
3.3 仲裁条件
对于仲裁试验来说,仲裁试验用标准大气条件应从IEC68-1第5.2条 规定的如下条件中选定一种。
温度 相对湿度 气压
20?1? 63%,67% 86,106kPa(860,1060mbar) 23?1? 48%,52% 86,106kPa(860,1060mbar) 25?1? 48%,52% 86,106kPa(860,1060mbar) 27?1? 63%,67% 86,106kPa(860,1060mbar)
3.4 基准条件
作为基准用的标准大气条件采用IEC68-1第5.1条规定的基准。
温度:20?;
气压:101.3kPa(1013mbar)。
2
4 优先额定值和特性
4.1 优先特性
详细规范中所给出的特性值应优先从下列值中选取:
4.1.1 优先气候类别
下限和上限类别温度以及稳态湿热试验的持续时间应从下列值中选取:
a) 下限类别温度:-55?、-40?、-25?、-10?和10?。
?、85?、100?和125?。 b) 上限类别温度:70
c) 稳态湿热试验的持续时间:4d,10d;21 d和56 d。
寒冷和干热试验的严酷度分别为下限和上限类别温度。
4.1.2 优先额定值
4.1.2.1 额定温度
本规范所包括的电容器的额定温度等于上限类别温度。
4.1.2.2 额定电压(Ur)
额定电压优先选取50V。如果必须采用其他值时,应符合GB 2693的要求。 4.1.2.3 类别电压(Uc)
按照GB 2693的2.2.17的定义,因为额定温度规定为上限类别温度,所以,类别电压等于额定电
压。
4.1.2.4 标称电容量的优先值和相关的允许偏差
4.1.2.4.1 对于I类电介质电容器
a) 标称电容量的优先值
标称电容量应优先从GB/T2471中的E6、E12和E24系列中选取。
b) 优先标称电容量允许偏差见表1
表1
CR<10pF CR?10pF
优先系列 允许偏差 字母代码 允许偏差 字母代码 E6 M G ?20% ?2pF
E12 K F ?10% ?1pF
J D ?5% ?0.5pF E24 G C ?2% ?0.25pF
F B ?1% ?0.1pF
c) 电容量温度特性
按GB/T 5966中的2.52.5。
4.1.2.4.2 对于II类电介质电容器
3
a) 标称电容量的优先值
标称电容量应优先从GB/T2471中的E3、E6和E12系列中选取。
b) 优先标称电容量允许偏差见表2
表2
优先系列 允许偏差 ,, 字母代码
-20,+80 Z
E3和E6 -20,+50 S
E6 ?20 M
E6和E12 ?10 K
c) 电容量温度特性
表3中用X表示的是施加和不施加直流电压时的电容量温度特性优先值,还给出了等级代码的方法。例如:温度范围在-55?,125?,不施加直流电压时电容量相对变化为?20,的介质被称为2C1级介质。
表3
施加和不施加直流电压时,在 类别温度范围和对应的数字代码 等 类别温度范围内,相对于20'C
级 时,测得的电容量最大相对变 —55,125? —55,85 ? 一40,85 ? ,25,85 ? 1O,85 ? 字 化,,
母 不施加 施加额定 代 直流电压 直流电压 码 (V) (V) 1 2 3 4 6 2B 土10 +10,一15 , X X X , 2C 土20 +20,,30 X X X , , 2D +20,一30 +20,一40 , , , X 2E ,22,,56 ,22,,70 , X X X X 2F ,30,,80 +30,,90 , X X X X 2R 土15 +15,,40 X , , , , 2X 土15 +15,一25 X , , , ,
对于介质温度特性的温度范围的定义与类别温度范围相同
4.1.2.4.3 对于III类电介质电容器
a) 标称电容量的优先值
标称电容量应优先从GB/T2471中的E3、E6和E12系列中选取。
b) 优先标称电容量允许偏差见表4
表4
允许偏差 ,, 字母代码
-20,+80 Z
-20,+50 S
?20 M
?10 K
c) 电容量温度特性
4
表5中用X表示的是施加和不施加直流电压时的电容量温度特性优先值,还给出了等级代码的方法。例如:温度范围在-55?,85?,不施加直流电压时电容量相对变化为+30%/-80%的介质被称为3F2级介质。
表5
施加和不施加直流电压时,在类 类别温度范围和对应的数字代码
等 别温度范围内,相对于+20'C时,
级 测得的电容量最大相对变 —55,125? —55,85 ? 一40,85 ? ,25,85 ? 1O,85 ? 字 化,,
母 不施加 施加额定
代 直流电压 直流电压 1 2 3 4 5
码 (V) (V)
3A 土5 +10,一15 X , , , ,
3B 土10 +20,,30 , , X X X
3C 土20 +20,一40 , X X X ,
3D +20,一30 ,22,,70 , , X X X
3E ,22,,56 +30,,90 , X , X ,
3F ,30,,80 +15,,40 , X , X ,
3G ,40,,25 +15,一25 X X , , ,
5 技术要求与试验方法
5.1 专门预处理
详细规范中除非另有规定,在本标准内,试验或试验顺序之间有规定时,应按下列条件进行专门预 处理;即将电容器放在上限类别温度下或在详细规范中可能规定的更高温度下经1 h后,接着在试验的标准大气条件下恢复24?1 h。
注:2类瓷介电容器电容量控对数规律随时间不断地减小(这叫做老化)。倘若将电容器加热到其介质的居驻点以上的温度,就发生“去老化”,即通过“老化”而减小的电容量又重新恢复。从电容器再次冷却时起“老化”又重新开始。专门顶处理的目的是为了使电容器达到与其先前的历史无关的一种确定状态(详细内容见附录A的A4)。 5.2 外观要求
5.2.1 试验方法:目测
5.2.2 技术要求:
a) 外表面无可见损伤,无凹陷,无突起;
b) 表面涂层完整无花纹、无起泡;
c) 标志内容正确、完整、清晰,用沾水的棉球擦三次仍清晰完整。
d) 引脚无氧化、无锈迹、无污物、无变形、无折断。
5.3 结构尺寸
5.3.1 试验方法:用游标卡尺测量
5.3.2 技术要求:外观尺寸、引脚间距、引脚直径等设计图纸或产品书中的尺寸符合规定值要求。
其中电容本体厚度(包括芯片厚度):
5
a) 对于直流电压型的瓷片电容:要求在1.8mm以上,上限不能超过4.0mm(包括),测量位置
为电容本体两侧凸出处。
b) 对于交流电压型的瓷片电容(如CT7型交流瓷介电容器(安全规格)):下限为1.8mm,Y1类
上限为6mm,Y2类上限为5mm,测量位置为电容本体两侧凸出处。 绝缘涂层厚度应均匀、不能露出内部芯片。
5.3.2.1 对于自动插件机使用编带瓷片电容外观尺寸、引脚间距、引脚直径包装等,要求符合以下规定
值。
a) 编带规格:
符号 尺寸(mm) 公差(mm)
?0.3 P 12.7
?0.3 P 12.7 0
?0.7 P 3.85 1
?1.0 P 6.35 2
d 0.45- 0.65
?0.5 F 5
?h ?1 0
?0.5 W 18
?0.5 W 9 1
?1.5 W 1.5 2
H 20 +1.5/-1.0
H 16 +1.0/-0 0
φ4.0 ?0.2 D 0
?0.3 t 0.6 1
t 1.5 max 2
D 12.5 max
?S 0.5
b) 编带包装方式
6
编带盒的包装要求:
1、在包装方面首先要确保元件不易变形,自动取料时顺畅,盒子不夹住元件。
2、盒子的外形尺寸要求如下:长度不能超过340mm、宽度不能超过62mm、高度不能超过330mm。 5.4 性能要求
5.4.1 电容量
按GB 2693的4.7和下列细则:
5.4.1.1 测量条件
在20?的条件下按下表内的电压和频率测试:
a) 对于I类电介质电容器
特性项目 测量频率 测量电压
1MHz?20,或100KHz?20%(仲裁温度补偿型(1000pF及以下)
频率为1MHz) 1?0.2V(除非在详细规范中
1KHz?20,或100KHz?20%(仲裁温度补偿型(1000pF以上) 另有规范) 频率为1KHz)
b) 对于II类电介质电容器
等 级 测量电压 仲裁电压
(1.0?0.2)V (1.00?0.02)V 2B、2C和2X
(0.3?0.2)V (0.30?0.02)V 2D、2E、2F和2R
频率:Cn>100pF者,对测量而言f,1 kHz?20,;对仲裁试验:f,1 kHz
Cn?100pF者,f,200KHz详细规范中除非另有规定。(因外检仪器无法达到1MHz,在有争议时,以1MHz测试数据为准)
c) 对于III类电介质电容器
等 级 测量电压 仲裁电压
(1.0?0.2)V (1.00?0.02)V 3A、3B和3C
(0.3?0.2)V (0.30?0.02)V 3D、3E、3F和3G
测量频率:f=1 kHz?20,,仲裁频率:f=1 kHz。
5.4.1.2 技术要求:电容量应符合标称值,并考虑规定的允许偏差。
5.4.2 损耗角正切
按GB 2693的4.8和下列细则:
5.4.2.1 测量条件:与6.4.1.1相同精度;测量仪器的精度应使测量误差不超过0.001。 5.4.2.2 技术要求:
a) 对于I类电介质电容器
C?30pF时:品质因数Q?1000 R
C <30pF时: 品质因数Q?400+20 C RR
7
注:损耗角正切值tgδ应为Q的倒数;C为电容的标称容量(pF) R
b) 对于II类电介质电容器
温度特性 2B、2C、2X 2D、2E、2F、2R 损耗角正切值tgδ ?0.025 ?0.035
c) 对于III类电介质电容器
温度特性 3A、3B、3C、3G 3D、3E、3F 损耗角正切值tgδ(额定电压?25V) ?0.035 ?0.05
损耗角正切值tgδ(额定电压<25V ?0.075
5.4.3 绝缘电阻
按GB 2693的4.5和下列细则:
5.4.3.1 测量条件
按GB 2693的4.5.2和下列细则:
a) 对于Ur<100V者,测量电压为Ur;对于Ur?100V者,测量电压为10Ur。
b) 电压应直接加到规定值,持续时间为l min?5 s。
c) 绝缘电阻应在lmin结束时测量。
d) 进货检验时,如果绝缘电阻达到要求值时,试验可以在更短的时间内结束。
e) 详细规范中除非另有规定,电源的内阻和电容器标称电容量的乘积不应超过1 s。
f) 充电电流不应超过0.05A。
5.4.3.2 技术要求:
a) 对于I类电介质电容器
绝缘电阻(Ri)应大于或等于下列要求:
>10nF C型式 C?10nF RR
Ri Ri* C R
10 000 MΩ 100 s 绝缘型
非绝缘型
b) 对于II类电介质电容器
绝缘电阻(Ri)应大于或等于下列要求:
>25nF CC?25nF RR
型式 Ri Ri* C R
绝缘型
4 000 MΩ 100 s 非绝缘型
c) 对于III类电介质电容器
8
绝缘电阻(Ri)应大于或等于下列要求:
C >25nF C?25nF RR
型式 Ri Ri* C R
绝缘型
1000 MΩ 25s 非绝缘型
5.4.4 耐电压
按GB 2693的4.6和下列细则:
5.4.4.1 试验条件
绝缘电阻和标称电容量的乘积小于或等于1 s。
充电电流不超过0.05A。
5.4.4.2 按GB 2693的4.5.2表l规定的测量点之间施加下列电压。检验施加电压的时间为1 min。
额定电压(V) 试验电压
2.5Ur ?500
>500 1.5Ur+500 5.4.4.3 技术要求:电容器在试验期间应无击穿或飞弧。
5.4.5 电容量温度特性
5.4.5.1 专门预处理
按6.1。
5.4.5.2 试验条件
按GB 2693的4.24.1.2和4.24.1.3和下列细则:
a) 对于I类电介质电容器
+100?α>-150 -150?α>-1500 -1500?α>-5600
SL(1C)和UM(1D)
0.3%或0.05pF(取较大者) 1%或0.05pF(取较大者) 2%或0.05pF(取较大者)
b) 对于II和III类电介质电容器
温度,? 温度标记 施加直流电压UR
20?2 a ----
θ1?3 b ----
20?2 d ----
θ2?2 f ----
θ2?2 f X
20?2 g X
θ1?3 b X
20?2 a ----
9
θ1—下限类别温度;
θ2—上限类别温度。
注
1 一表示不施加直流电压。
X表示施加直流电压。
2 应在每个中间温度下进行测量,以保证符合4(1的要求。
3 在“d”点测得的电容量作为基准电容量。
4 由于在6(1条注中所叙述的效应,在温度标记“f”、“b”和“g”上施加直流电压时测得的电容量是与时间
有关的。这种时间的关系包含在规定的电容量变化极限内。在第一个和最后一个温度标记“a”之间所测得的电
容量变化,也包括了老化的关系。在施加直流电压测量的结果有争议的情况下,可以在温度记“f“和“b”两
次测量之间商定一个固定的时间间隔。
5.4.5.3 技术要求
在施加和不施加直流电压时的温度特性不应超过5.1.2.4中电温度特性规定值。 5.4.6 引出端强度 (按GB 2693的4.13)
5.4.6.1 引出端弯曲
取引脚长度的一半处按相反方向连续弯曲两次(共四次),弯曲角度为90度,引脚应无断裂;试验后应无可见损伤;如果在详细规范中说明引出端是刚性,则本试验不适用。
5.4.6.2 引出端抗拉力
对于非线状引出端任取元器件的一根引脚,沿引脚轴线方向施加20N的拉力时间为10?1S,引脚应无松动或脱落;试验后应无可见损伤,电容量和损耗角正切符合要求。
对于线状引出端任取元器件的一根引脚,沿引脚轴线方向施加下表中规定的拉力时间为10?1S,引脚应无松动或脱落;试验后应无可见损伤,电容量和损耗角正切符合要求。
5.4.7 耐焊接热
5.4.7.1 专门预处理(在有争议时采用此方法)
按6.1。
5.4.7.2 初始测量
5.4.7.3 应按6.4.1测量电容量。
5.4.7.4 对于有铅产品:
a) 试验方法:将电容引脚浸过助焊剂后,沿轴线方向浸入260?5?、Sn63pb37的熔融焊锡
槽中10?1S,样品本体距熔融焊料2mm,试验至少恢复4h。
b) 技术要求:试验后,外观、性能无异常。
10
对于无铅产品:
a) 试验方法:将电容引脚浸过助焊剂后,沿轴线方向浸入265?5?、Sn96.5Ag3Cu0.5的熔融焊锡槽中10?1S,样品本体距熔融焊料2mm,试验至少恢复4h。
b) 技术要求:试验后,外观、性能无异常。
对于无铅产品:( Sn0.5Ag0.7Cu焊料)
a) 试验方法:将电容引脚浸过助焊剂后,沿轴线方向浸入270?3?、Sn0.5Ag0.7Cu的熔融焊锡槽中
10?1S,样品本体距熔融焊料2mm,试验至少恢复4h。
b) 技术要求:试验后,外观、性能无异常。
5.4.7.5 恢复:4 h。
5.4.7.6 最后检查、测量和要求
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 应按6.4.1测量电容量,其变化不应超过下列要求:
对于I类电介质电容器:
-5温度系数10/? 要求(取最大者)
+100?α>-750 5%或0.5pF
-750?α>-1500 1%或1pF
SL(1C)和UM(1D)
α<-1500 3%或1pF
对于II和III类电介质电容器:
等 级 要 求
2B、2C、 2X、3A、3B和3C ?10,
2D、2R、3D、3G ?15,
2E、2F、3E、3F ?20,
注:代码说明见表3和表5。
5.4.8 可焊性
5.4.8.1 对于有铅产品:
a) 测试方法:将元器件引脚浸过助焊剂后,沿轴线方向浸入235?5?、Sn63pb37的熔融焊锡槽中2
?0.5S,样品本体距熔融焊料1.8mm,取出后放大3~10倍观察。
b) 技术要求:浸入部分应上锡明亮光滑,浸润面积大于95,,只允许有少量分散的如针孔不浸润或弱
浸润之类的缺陷,且这些缺陷不出现在同一位置。
6.4.8.2 对于无铅产品:
a) 试验方法:将元器件引脚浸过助焊剂后,沿轴线方向浸入240~245?、Sn96.5Ag3Cu0.5的熔融焊锡槽中2~3S,样品本体距熔融焊料1.6mm,取出后用3,10倍放大镜观察。
b) 技术要求:浸入部分应上锡明亮、光滑,浸润面积大于95,,只允许有少量分散的如针孔不浸润或
11
弱浸润之类的缺陷,且这些缺陷不出现在同一位置。
对于无铅产品(Sn0.5Ag0.7Cu焊料)
a) 试验方法:将元器件引脚浸过助焊剂后,沿轴线方向浸入260?3?、Sn0.5Ag0.7Cu的熔融焊锡槽中
2~3S,样品本体距熔融焊料1.6mm,取出后用3,10倍放大镜观察。 b) 技术要求:浸入部分应上锡明亮、光滑,浸润面积大于95,,只允许有少量分散的如针孔不浸润或
弱浸润之类的缺陷,且这些缺陷不出现在同一位置。
5.4.9 温度快速变化
按GB 2693的4.16和下列细则:
5.4.9.1 专门预处理
1。 按6.
5.4.9.2 初始测量
应按6.4.1测量电容量。
5.4.9.3 循环次数:5次。
在极限温度下放置时间为30min。
5.4.9.4 恢复:24 h?2 h。
5.4.9.5 最后检查、测量和要求
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 应按6.4.1测量电容量,其变化不应超过下列要求:
等 级 要 求
2B、2C、 2X、3A、3B和3C ?10,
2D、2R、3D、3G ?15,
2E、2F、3E、3F ?20,
注:代码说明见表3和表5。
5.4.10 振动
5.4.10.1 测试方法
将电容器的引线安装在相应的板上并将板牢固固定在振动的平台上,然后在三个互相垂直方向上分
别振动2H,振动频率为10-55Hz,位移峰值振幅为0.75mm。
5.4.10.2 技术要求
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 应按6.4.1测量电容量,其变化不应超过6.4.7.6(b)要求。 5.4.11 冲击(参考项目)
按GB 2693的4.19和下列细则:
5.4.11.1 专门预处理
按6.1。
5.4.11.2 初始测量
12
应按6.4.1测量电容量。
5.4.11.3 详细规范应规定采用下列优先严酷度中的一个:
脉冲形状:半正弦波。
加速度峰值 对应的脉冲持续时间
ms m,s2(g)
294(30) 18
490(50) 1l
981(100) 6 5.4.11.4 最后检查、测量和要求
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 应按6.4.1测量电容量,其变化不应超过6.4.7.6(b)要求。 5.4.12 气候顺序
按GB 2693的4..21和下列细则:
5.4.12.1 专门预处理
按6.1。
5.4.12.2 初始测量
应按6.4.1测量电容量。
5.4.12.3 干热
应能承受IEC68-2-2的试验Ba,采用温度为+85?,时间为16h。 5.4.12.4 循环湿热,试验Db,第一个循环
应能承受IEC68-2-30的试验Db,采用温度为+55?,时间为24h。 5.4.12.5 寒冷
应能承受IEC68-2-2的试验Aa,采用温度为-25?,时间为2h。 5.4.12.6 中间检查和要求
c) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
d) 按6.4.4进行耐压试验,应无飞弧或击穿现象。
5.4.12.7 循环湿热,试验Db,其余循环
按GB 2693的4.21.6和下列细则:
5.4.12.7.1 试验条件
不施加电压。
类 别 24 h为一次的循环次数
5 ———,——,56 l ———,——,21 1 ———,——,10 O ———,——,04
5.4.12.7.2 恢复:24 h?2 h。
5.4.12.7.3 最后检查、测量和要求
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
13
b) 应测量电容器并符合下列要求。如果电容量小于允许最小值时,则在其他的测量之后电容器按6.1进行专门预处理。
对于I类电介质电容器,应符合下表中的要求:
项目 温度系数和等级 要求
+100?α?-750(1A) ?C/C?2%或1pF(取较大者)
(1B)
电容量 +100?α?-750(1F) ?C/C?3%或1pF(取较大者)
SL (1C)
-750>α?-1500(1F)
和UM (1D)
DF ?常温值的2倍
所有α和等级 Ri Ri?2500 MΩ或Ri*C?25 s,(取较小者) R
对于II类电介质电容器,应符合下表中的要求:
要 求
测量项目 测量条 2B,2C和 2D和2R 2E 2F
件 2X
电容量 ΔC,C?10, ΔC,C ? ΔC,C ? ΔC,C?
6.4.1 15, 20, 30,
损耗角正切 tanδ?0.05 tanδ?0.07 tanδ?0.07
6.4.2
绝缘电阻 6.4.3 Ri?1 000 MΩ或Ri?C?25 s,取较小者 R
注:代码说明见表二
对于III类电介质电容器,应符合下表中的要求:
DF 项目 电容量
3A、3B、3C ?C/C?10% DF?0.1
3D、3G ?C/C?15% DF?0.1
3E、3F ?C/C?20% DF?0.1
其中:Ri?500 MΩ或Ri?C ?12.5 s,取较小者 R
5.4.13 稳态湿热
a) 测试方法:将瓷片电容放在温度55??2?,相对湿度90%,95%的环境中放置时间参照5.1.1(c);
b) 技术要求:取出充分除去表面水滴并在常态下恢复24 h?2 h后,外观无可见损伤,电气性能无异常
5.4.13.1 专门预处理
按6.1。
5.4.13.2 初始测量
14
应按6.4.1测量电容量。
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 按6.4.4进行耐压试验,应无飞弧或击穿现象。 5.4.13.3 循环湿热,试验Db,其余循环
按GB 2693的4.21.6和下列细则:
5.4.13.3.1 试验条件
样本的—半施加额定电压而样本的另一半不施加电压。 5.4.13.3.2 恢复:24 h?2 h。
5.4.13.3.3 最后检查、测量和要求
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 应测量电容器并符合下列要求。如果电容量小于允许最小值时,则在其他的测量之后电容器按
6.1进行专门预处理并应符合6.4.12.7.3(b)中的要求。 5.4.14 耐久性
按GB 2693的4.23和下列细则:
5.4.14.1 专门预处理
按6.1。
5.4.14.2 初始测量
应按6.4.1测量电容量。
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 按6.4.4进行耐压试验,应无飞弧或击穿现象。 5.4.14.3 试验条件
温度:上限类别温度;
电压:1.5UR;
持续时间:1 000 h。
5.4.14.4 恢复:24 h?2 h。
5.4.14.5 最后检查、测量和要求
a) 电容器应进行外观检查,应无可见损伤并且标志清晰。
b) 应测量电容器并符合下列要求。如果电容量小于允许最小值时,则在其他的测量之后电容器按
6.1进行专门预处理。
对于I类电介质电容器,应符合下表中的要求:
项目 温度系数和等级 要求
+100?α?-750(1A) ?C/C?3%或1pF
(1B) (取较大者)
+100?α?-750(1F)
电容量 ?C/C?5%或1pFSL (1C)
15
-750>α?-1500(1F) (取较大者)
和UM (1D)
DF ?常温值的1.5倍
Ri Ri?4000 MΩ或
所有α和等级 Ri*C?40s, R
(取较小者)
对于II类电介质电容器,应符合下表中的要求:
要 求
测量项目 测量条 2B,2C和 2D和2R 2E 2F
件 2X
电容量 ΔC,C? ΔC,C ?20, ΔC,C ?20, ΔC,C?30,
6.4.1 20,
损耗角正切 tanδ?0.05 tanδ?0.07 tanδ?0.07
6.4.2
C?50 s,取较小者 绝缘电阻 Ri?2000 MΩ或Ri?R
6.4.3
注:代码说明见表二
对于III类电介质电容器,应符合下表中的要求:
要 求
测量项目 测量条件 3G 3D 3A、3B和3C 3E、3F
电容量 6.4.1 ΔC,C?20,
损耗角正切 6.4.2 tanδ?0.07 tanδ?0.1
绝缘电阻 6.4.3 Ri?700 MΩ或Ri?C?17.5 s,取较小者 R
5.4.15 标志耐溶剂性(参考项目)
按GB 2693的4.32。
5.5 产品RoHS相关要求
用于出口欧盟的物料应符合美的企业标准QML-J11.006 产品中限制使用有害物质的技术标准(RoHS指令)中的相关规定。
6 检验规则
检验分进货检验和型式检验。
6.1 进货检验
6.1.1 进货检验的项目为表(1)中1~6、8-10项。
进货检验的检验项目、要求、检验方法、质量特性、不合格(缺陷)程度描述、不合格(缺陷)类别及编码、抽样
方案
气瓶 现场处置方案 .pdf气瓶 现场处置方案 .doc见习基地管理方案.doc关于群访事件的化解方案建筑工地扬尘治理专项方案下载
见表(1), 进货检验的抽样方案为QMG-J11.001-2007a。
型式检验
16
6.1.2 下列情况之一,应进行型式检验:
a) 产品确认时;
b) 连续供货每年至少进行一次;
隔一年以上使用时; c) 间
d) 产品的设计、工艺、材料有重大变动时;
e) 进货检验结果与上次型式检验有较大差异时;
f) 主管部门认为有必要时。
6.1.3 型式检验的项目为表(1)中1-18项。
6.1.4 型式检验的检验项目、要求、检验方法、质量特性、不合格(缺陷)程度描述、不合格(缺陷)
类别及编码见表(1),抽样方案见表(2)。
17
表(1) 进货检验、型式检验的检验项目、要求、不合格(缺陷)分类及编码
检验项目属性 序标准要求质量不合格 不合格 检验项目 检验方法 不合格(缺陷)程度描述 抽样方案 号 的章条号 特性 (缺陷)类别 (缺陷)编码 代号 类别
1 外观外表面有可见损伤,无凹陷,无突起; C C101
要求 表面涂层有花纹、起泡; QMG-J11.C C102
标志内容不正确、不完整、不清晰,用沾水的棉球擦三001-2007a 1 铭牌标志 6.2.1 目测 C
次模糊。 (IV) C C103
引脚氧化、锈迹、污物、变形、折断。 C C104 2 结构用游标卡尺外观尺寸、引脚间距、引脚直径等设计图纸或产品书中(5;0,1) 2 包装质量 6.3 C C C201 尺寸 测量 的尺寸不符合规定值要求。
3 性能3 电容量 6.4.1 6.4.1 B 电容量应超出规定的允许偏差。 B B301 QMG-J11.001-
要求 4 损耗角正切 6.4.2 6.4.2 B 损耗角正切超过0(035或详细规范规定更小的值。 B B302 2007a (IV) CR?25nF, 绝缘电阻小于4,000 MΩ; (5;0,1) 5 6.4.3 6.4.3 A A A303 绝缘电阻 CR>25nF,CR x绝缘电阻应小于或等于100 MΩ。
(5;0,1) 6 耐电压 6.4.4 6.4.4 A 电容器在试验期间有击穿或飞弧。 A A304
在施加和不施加直流电压时的温度特性超过表2规定(5;0,1) 7 电容量温度特性 6.4.5 6.4.5 B B B305 值。
(5;0,1) 8 引出端强度 6.4.6 6.4.6 B 不符合标准要求 B B306
(5;0,1) 9 耐焊接热 6.4.7 6.4.7 B 不符合标准要求 B B307
浸入部分应上锡明亮光滑,浸润面积小于95,,有大量
(5;0,1) 10 6.4.8 6.4.8.1 B B B308 可焊性 分散的如针孔不浸润或弱浸润之类的缺陷,且这些缺陷
出现在同一位置。
(5;0,1) 11 温度快速变化 6.4.9 6.4.9 B 不符合6.4.9.5要求 B B309
试验后,电容器应进行外观检查,有可见损伤或标志不(5;0,1) 12 振动 6.4.10 6.4.10.1 B B B310 清晰。
(5;0,1) 13 冲击(参考项目) 6.4.11 6.4.11 B 实验后不符合6.4.11.4要求 B B311
(5;0,1) 14 气候顺序 6.4.12 6.4.12 B 实验后不符合6.4.12要求 B B312
(5;0,1) 15 稳态湿热 6.4.13 6.4.13 B 实验后不符合6.4.13.3.3要求 B B313
18
(5;0,1) 16 耐久性 6.4.14 6.4.14 B 实验后不符合6.4.14.5要求 B B314 标志耐溶剂性(参(5;0,1) 17 6.4.15 6.4.15 B 实验后不符合6.4.15要求 B B315 考项目)
18 RoHS检测 6.5 6.5 A RoHS测试不符合规定要求 A A1101 (2;0,1)
表(1)(完)
19
表2 型式检验抽样方案
不 合 格 类 别
样 本 大 小 A类不合格 B类不合格 C类不合格 D类不合格
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
n=10 0 1 0 1 0 1 1 2 7 标志、包装、运输和贮存
7.1 标志
按GB 2693的2.4和下列细则:
7.1.1 标志项目
标志中给出的内容通常从下列项目中选取。每项的相对重要性由它在项目顺序中的位置来表示。
g) 标称电容量;
h) 额定电压”(直流电压可以用符号„„或——表示),
i) 标称电容量允许偏差;
j) 介质等级,见表2;
k) 制造年和月(或周);
l) 制造厂名称或商标;
m) 气候类别;
n) 制造厂的型号名称;
7.1.2 电容器上应清晰地标出a)、b)和c)并尽可能标出其余认为必要的项目。电容器上的标志内容应
避免任何重复。
7.1.3 电容器的包装上应清楚地标出6.1.1所列项目的全部内容。
7.1.4 任何附加标志应不致引起混淆。
7.2 包装
包装用材料不应含有影响电容器质量的酸性碱性或其它腐蚀性的物质。简易的包装由制造方与使用方协商确定,需要长期贮存或长途运输的元件应作防潮包装。
7.3 运输和贮存
7.3.1 运输
在避免受到机械损伤和直接雨淋的条件下可用任何运输工具运输。
7.3.2 贮存
应存放在环境空气温度-10?~40?,相对湿度不大于80%的清洁、通风良好、周围无腐蚀气体的环境中。简易包装的电容器贮存为半年,包装箱包装的电容器贮存期为两年。
20
附录A
2类瓷介电容电容量的老化
A1 引言
瓷介电容器所采用的大多数2类陶瓷介质,都具有铁电特性并呈现出一个居里温度。介质在这个温度以上具有高度对称的立方晶体结构,而低于居里温度时,立方晶体结构的对称性就降低。即使在单晶体内这种状态的转变也是很明显的。在实际陶瓷中通常被扩大到—个有限的温度范围之内,但在所有的情况下,它是电容量,温度曲线上的某一个峰值。
在热波动的影响下,在介质冷却至居里温度之后,在一段很长的时间内,晶体点阵中的离子会连续运动到势能较小的位置,这就引起了电容量老化现象。从此电容器的电容量不断地减小。如果将电容器加热至高于居里温度的某一个温度,则就会起到消除老化作用,即通过老化而使电容量减小的部分恢复,而在电容器再次冷却时,会重新开始老化。
A2 电容量老化规律
从冷却至居里温度之后的第1小时内,电容量的减小是不好确定的。但从这时间之后它按对数规律减小(见K(Wplessner,phys($oc(v01(69B,p1261,1956)这个规律可用一个老化常数表示。
老化常数K用介质老化过程中引起的电容量减小的百分比来表示。其介质的老化过程是以‘十倍’的变化方式进行的,即是在某一个时间内,例如1 h到loh,电容器的老化增加十倍。由于电容量减小的规律呈对数的,在l h到100h之间老化,则电容量减小的百分比将是2K,在1 h到1 000h之间老化将是3K。
这可以用下列数字方程表示:
ct=c1?(1-k* lgt /100) „„„„„„„„(A1)
式中:Ct——老化过程开始后t小时的电容量:
c1——老化过程开始后1小时的电容量;
Kl老化常数用每十倍的(与上述定义相同)百分比表示;
t--从老化过程开始起经过的时间,h。
对于一种具体的陶瓷介质,其老化常数可由制造者给出或可以由电容器消除老化并在两个已知的时间之后测量的电容量来确定。
K由下列方程算出:
K,100(Ct1-Ct2)/(ct1*lgt2-ct2*lgt1) „„„„„„„„(A2)
如果电容量进行过三次或多次测量的话,则它可以从C与lgt的关系图中给出的斜率推导出K值。它也可以是lgc与lgt所绘出的图。
在电容器老化期内的测量应保持在一个恒定的温度下。由温度特性而引起的电容量的变化不致掩盖由于老化所引起的变化。
A3 电容量的测量和电容量允许偏差
21
因为老化,必须规定电容量在允许偏差范围内的老化标准。这是固定在1 000 h,因为在实用中,在此时间以后,电容量再进一步减小是不多的。
为了推算1 000 h后的电容量c1000,老化常数必须知道或上述条款测定时,可以采用下列
公式
小学单位换算公式大全免费下载公式下载行测公式大全下载excel公式下载逻辑回归公式下载
:
c1000,Ct(1-K*(3-lgt) /100) „„„„„„„„(A3)
对于工厂测量,从测量时间老化到1 000 h电容量减小将是知道的,并可以采用不对称的检验偏差来补偿。
例如:如果知道电容量的减小为5,,那么电容器可以按+25,,一15,的极限检验而不是按 +20,检验。
电容量通常是以20?下的值标示的,而且必须在这个温度下测量或必须将结果校正到这个温度下的值。误差可能是由于手上的热引起的,因此电容器必须用夹子取放。
A4 专门预处理(见4(1)
在本标准内许多试验中要求测量电容量变化,电容量变化是由一个给定的条件(如气候顺序)引起的,为了避免老化干扰的作用,在这些试验之前应进行专门预处理,在上限类别温度下保持1 h,接着在试验用标准大气条件下保持24 h。
对居里温度低于上限类别温度的电容器,这就会导致消除老化,随后使电容器进行24 h老化。
如果可能使电容器进行24 h老化,还要安排试验之后的恢复,使老化引起的电容量变化减至最小。
如果介质的居里温度高于上限类别温度,那么专门预处理不会完全使电容器消除老化,但是将仍然会使电容器变成一种状态,在这种状态下,它的电容量与它以前的历史无关并将达到仍然是完全消除老化同样的效果。为了使电容器完全消除老化,可以要求温度升高达160?。在这个温度可能对包封层有损伤。因此,在要求这种电容器完全消除老化的少数情况下,各种必要措施的细节应在详细规范中考虑。
22