IPC-JEDEC 9702 Chinese
IPC/JEDEC-9702 CN
板极互连的单向弯曲特性描述
IPC/JEDEC-9702 CN
2004 年6月
本标准由IPC开发
3000 Lakeside Drive, Suite 309S, Bannockburnm IL 60015-1249
Tel. 847.615.7100 Fax 847.615.7105
www.ipc.org
IPC/J...
IPC/JEDEC-9702 CN
板极互连的单向弯曲特性描述
IPC/JEDEC-9702 CN
2004 年6月
本标准由IPC开发
3000 Lakeside Drive, Suite 309S, Bannockburnm IL 60015-1249
Tel. 847.615.7100 Fax 847.615.7105
www.ipc.org
IPC/JEDEC-9702 CN
板极互连的单向弯曲特性描述
由IPC产品可靠性委员会(6-10)SMT连接可靠性测试方法
任务组(6-10d)和JEDEC封装器件可靠性测试方法委员
会(JC-14.1)开发
鼓励本标准的使用者参加未来修订版的开发。
联系方式:
.
IPC
3000 Lakeside Drive, Suite 309S
Bannockburn, Illinois
60015-1249
Tel 847 615.7100
Fax 847 615.7105
If a conflict occurs
between the English
and translated versions
of this document, the
English version will
take precedence
本文件的英文版本与翻
译版本如存在冲突, 以
英文版本为优先。
IPC 中国
上海办公室
电话:(8621)54973435/36
深圳办公室
电话:(86755)86141218/19
北京办公室
电话: (8610)67885326
苏州办公室
电话: (86 512)67164877
JEDEC
Solid State Technology
Association
2500 Wilson Boulevard
Arlington, VA 22201-3834
Tel 703 907.7560
Fax 703 907.7583
此页留作空白
鸣谢
目录
1 前言................................................................. 1
2 引言................................................................. 1
3 范围................................................................. 1
4 术语和定义...................................................... 1
5 单位符号和术语缩写....................................... 2
6 抽样................................................................ 2
7 仪器................................................................ 2
7.1 万能试验机.................................................. 2
7.2 应变测量设备............................................... 3
7.3 连续性监视设备........................................... 3
8 程序................................................................ 3
8.1 元器件样本................................................... 3
8.2 测试板材料................................................... 4
8.3 测试板厚度和金属层数................................. 4
8.4 测试板表面涂覆........................................... 4
8.5 测试板焊盘.................................................. 4
8.6 测试板布局.................................................. 4
8.7 测试板菊花链链路....................................... 4
8.8 板组装......................................................... 5
8.9 存储............................................................. 6
8.10 应变片........................................................ 6
8.11 装配的测试板.............................................. 6
8.12 四点弯曲测试.............................................. 7
9 失效准则和分析.............................................. 8
附录A 万能试验机配置□例................................ 9
附录B 测试报告建议....................................... 12
图
图7-1 万能试验机.............................................. 2
图8-1 测试板布局............................................... 4
图8-2 矩形封装方位........................................... 5
图8-3 单个封装的菊花链结构(示例)............... 6
图8-4 应变片放置位置........................................ 7
图9-1 互连断裂模式(焊料球阵列器件)............. 8
图A.1 配置示例(PWB厚度= 1.00mm)............ 9
图A.2 配置示例(PWB厚度= 1.55mm)........... 10
图A.3 配置示例(PWB厚度= 2.35mm)........... 11
表
表7-1 万能试验机要求........................................ 3
表8-1 推荐的测试板厚度和层数......................... 4
表8-2 测试板布局要求........................................ 5
表8-3 单向弯曲测试要求.................................... 7
表B.1 测试报告建议(设备和材料)................. 12
表B.2 测试报告建议(印制板组装)................. 12
表B.3 测试报告建议(测试结果).................... 13
此页留作空白
板极互连的单向弯曲特性描述
1 前言
本文件是一份关于单向弯曲测试的出版物,其
目的是描述元器件板级互连的断裂强度特性。
本文件适用于采用常规再流焊接技术连接到印
制板上的表面贴装元器件。单向弯曲特性描述
的结果为元器件板级互连对可能发生在常见的
非周期板组装和测试操作过程中的弯曲载荷的
抗断裂力提供了评估方法,并补充了有关运输、
装卸或现场操作过程中的机械冲击或撞击的现
有标准。
2 引言
半导体器件有各种各样的封装结构,并被应用
于很多场合。考虑到封装构造和最终应用条件
的差异,建立关于弯曲测试的单一鉴定要求是
不可行的,然而,统一的测试方法和标准的可
靠性特性描述报告程序,对确保足够好的产品
质量则越来越有必要。
3 范围
本文件详细说明了确定板级器件互连对非周期
板组装和测试操作过程中弯曲载荷的抗断裂力
的常用方法。单向弯曲测试通过/失败的鉴定通
常取决于每个器件的用途,不在本文件的范围
之内。
4 术语和定义
为了更好地理解本文件,下面列出了本文件涉
及的术语及定义。
通用术语
元器件: 已封装的半导体器件
互连: 用于电学互连的导电部件,例如焊料
球、引线等。
单向测试: 不可逆转,直到出现失效才终止的
测试
应变相关术语
整块PWB应变: 均匀印制板的四点弯曲应变,
忽略由于封装导致的任何影响。
微应变: 无量纲单位,106×(长度变化)÷(原始
长度)
应变:无量纲单位,(长度变化)÷(原始长度)
应变率: 应变的变化量除以这个变化被测量到
的时间间隔。
应变� : 粘附于基底的平面铜箔图案,在受到
应变时其电阻值会发生变化。
应变� 单元: 由蛇形铜栅图案构成的应变片敏
感区域
单轴应变� : 只包含一个应变片单元的应变
片,也就是可以检测沿单轴方向的应变。
机械测试设备术语
砧座: 有圆形接触表面的四点组合夹具支撑物
横梁部件: 相对测试设备底座移动的万能试验
机夹合/扣拴部件,可产生样本测试所必要的
力。
四点弯曲夹具: 把样本支撑在两个砧座或滚轴
上,并用另外两个砧座或滚轴在相对面对称地
给样本施加载荷的测试部件。
载荷跨距: 对测试样本施加载荷的两个砧座或
滚轴之间的距离。
滚轴: 以圆柱形棒作为接触表面的四点组合夹
具支撑物。
支撑跨距: 支撑测试样本的两个砧座或滚轴之
间的距离。
万能试验机: 可以利用横梁部件的可控线性运
动产生拉伸/压缩载荷的测试设备。
电学测试术语
菊花链: 可以与其他导电链路串联连接起来形
成连续的电学网络的导电链路(像一条雏菊的
链)。
实时测量: 测量测试过程中菊花链的导通状
况,即就地而不是在测试中断的状态下测量。
此页留作空白
本文档为【IPC-JEDEC 9702 Chinese】,请使用软件OFFICE或WPS软件打开。作品中的文字与图均可以修改和编辑,
图片更改请在作品中右键图片并更换,文字修改请直接点击文字进行修改,也可以新增和删除文档中的内容。
该文档来自用户分享,如有侵权行为请发邮件ishare@vip.sina.com联系网站客服,我们会及时删除。
[版权声明] 本站所有资料为用户分享产生,若发现您的权利被侵害,请联系客服邮件isharekefu@iask.cn,我们尽快处理。
本作品所展示的图片、画像、字体、音乐的版权可能需版权方额外授权,请谨慎使用。
网站提供的党政主题相关内容(国旗、国徽、党徽..)目的在于配合国家政策宣传,仅限个人学习分享使用,禁止用于任何广告和商用目的。