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IPC-JEDEC 9702 Chinese IPC/JEDEC-9702 CN 板极互连的单向弯曲特性描述 IPC/JEDEC-9702 CN 2004 年6月 本标准由IPC开发 3000 Lakeside Drive, Suite 309S, Bannockburnm IL 60015-1249 Tel. 847.615.7100 Fax 847.615.7105 www.ipc.org IPC/J...

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IPC/JEDEC-9702 CN 板极互连的单向弯曲特性描述 IPC/JEDEC-9702 CN 2004 年6月 本标准由IPC开发 3000 Lakeside Drive, Suite 309S, Bannockburnm IL 60015-1249 Tel. 847.615.7100 Fax 847.615.7105 www.ipc.org IPC/JEDEC-9702 CN 板极互连的单向弯曲特性描述 由IPC产品可靠性委员会(6-10)SMT连接可靠性测试方法 任务组(6-10d)和JEDEC封装器件可靠性测试方法委员 会(JC-14.1)开发 鼓励本标准的使用者参加未来修订版的开发。 联系方式: . IPC 3000 Lakeside Drive, Suite 309S Bannockburn, Illinois 60015-1249 Tel 847 615.7100 Fax 847 615.7105 If a conflict occurs between the English and translated versions of this document, the English version will take precedence 本文件的英文版本与翻 译版本如存在冲突, 以 英文版本为优先。 IPC 中国 上海办公室 电话:(8621)54973435/36 深圳办公室 电话:(86755)86141218/19 北京办公室 电话: (8610)67885326 苏州办公室 电话: (86 512)67164877 JEDEC Solid State Technology Association 2500 Wilson Boulevard Arlington, VA 22201-3834 Tel 703 907.7560 Fax 703 907.7583 此页留作空白 鸣谢 目录 1 前言................................................................. 1 2 引言................................................................. 1 3 范围................................................................. 1 4 术语和定义...................................................... 1 5 单位符号和术语缩写....................................... 2 6 抽样................................................................ 2 7 仪器................................................................ 2 7.1 万能试验机.................................................. 2 7.2 应变测量设备............................................... 3 7.3 连续性监视设备........................................... 3 8 程序................................................................ 3 8.1 元器件样本................................................... 3 8.2 测试板材料................................................... 4 8.3 测试板厚度和金属层数................................. 4 8.4 测试板表面涂覆........................................... 4 8.5 测试板焊盘.................................................. 4 8.6 测试板布局.................................................. 4 8.7 测试板菊花链链路....................................... 4 8.8 板组装......................................................... 5 8.9 存储............................................................. 6 8.10 应变片........................................................ 6 8.11 装配的测试板.............................................. 6 8.12 四点弯曲测试.............................................. 7 9 失效准则和分析.............................................. 8 附录A 万能试验机配置□例................................ 9 附录B 测试报告建议....................................... 12 图 图7-1 万能试验机.............................................. 2 图8-1 测试板布局............................................... 4 图8-2 矩形封装方位........................................... 5 图8-3 单个封装的菊花链结构(示例)............... 6 图8-4 应变片放置位置........................................ 7 图9-1 互连断裂模式(焊料球阵列器件)............. 8 图A.1 配置示例(PWB厚度= 1.00mm)............ 9 图A.2 配置示例(PWB厚度= 1.55mm)........... 10 图A.3 配置示例(PWB厚度= 2.35mm)........... 11 表 表7-1 万能试验机要求........................................ 3 表8-1 推荐的测试板厚度和层数......................... 4 表8-2 测试板布局要求........................................ 5 表8-3 单向弯曲测试要求.................................... 7 表B.1 测试报告建议(设备和材料)................. 12 表B.2 测试报告建议(印制板组装)................. 12 表B.3 测试报告建议(测试结果).................... 13 此页留作空白 板极互连的单向弯曲特性描述 1 前言 本文件是一份关于单向弯曲测试的出版物,其 目的是描述元器件板级互连的断裂强度特性。 本文件适用于采用常规再流焊接技术连接到印 制板上的表面贴装元器件。单向弯曲特性描述 的结果为元器件板级互连对可能发生在常见的 非周期板组装和测试操作过程中的弯曲载荷的 抗断裂力提供了评估方法,并补充了有关运输、 装卸或现场操作过程中的机械冲击或撞击的现 有标准。 2 引言 半导体器件有各种各样的封装结构,并被应用 于很多场合。考虑到封装构造和最终应用条件 的差异,建立关于弯曲测试的单一鉴定要求是 不可行的,然而,统一的测试方法和标准的可 靠性特性描述报告程序,对确保足够好的产品 质量则越来越有必要。 3 范围 本文件详细说明了确定板级器件互连对非周期 板组装和测试操作过程中弯曲载荷的抗断裂力 的常用方法。单向弯曲测试通过/失败的鉴定通 常取决于每个器件的用途,不在本文件的范围 之内。 4 术语和定义 为了更好地理解本文件,下面列出了本文件涉 及的术语及定义。 通用术语 元器件: 已封装的半导体器件 互连: 用于电学互连的导电部件,例如焊料 球、引线等。 单向测试: 不可逆转,直到出现失效才终止的 测试 应变相关术语 整块PWB应变: 均匀印制板的四点弯曲应变, 忽略由于封装导致的任何影响。 微应变: 无量纲单位,106×(长度变化)÷(原始 长度) 应变:无量纲单位,(长度变化)÷(原始长度) 应变率: 应变的变化量除以这个变化被测量到 的时间间隔。 应变� : 粘附于基底的平面铜箔图案,在受到 应变时其电阻值会发生变化。 应变� 单元: 由蛇形铜栅图案构成的应变片敏 感区域 单轴应变� : 只包含一个应变片单元的应变 片,也就是可以检测沿单轴方向的应变。 机械测试设备术语 砧座: 有圆形接触表面的四点组合夹具支撑物 横梁部件: 相对测试设备底座移动的万能试验 机夹合/扣拴部件,可产生样本测试所必要的 力。 四点弯曲夹具: 把样本支撑在两个砧座或滚轴 上,并用另外两个砧座或滚轴在相对面对称地 给样本施加载荷的测试部件。 载荷跨距: 对测试样本施加载荷的两个砧座或 滚轴之间的距离。 滚轴: 以圆柱形棒作为接触表面的四点组合夹 具支撑物。 支撑跨距: 支撑测试样本的两个砧座或滚轴之 间的距离。 万能试验机: 可以利用横梁部件的可控线性运 动产生拉伸/压缩载荷的测试设备。 电学测试术语 菊花链: 可以与其他导电链路串联连接起来形 成连续的电学网络的导电链路(像一条雏菊的 链)。 实时测量: 测量测试过程中菊花链的导通状 况,即就地而不是在测试中断的状态下测量。 此页留作空白
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