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mhdd全集MHDDALLHutil1.28Hutil使用说明 中国长城计算机深圳股份有限公司PC事业部 中国长城计算机深圳公司PC事业部评测中心 广州七喜电脑股份有限公司 三星硬盘专用HUTIL硬盘诊断工具使用说明 一、概述: Samsung三星硬盘专用诊断工具HUTIL For DOS。HUTIL全称SAMSUNG HDD URILIRY,可以设置最大的可寻址容量,将硬盘写零或格式化,诊断盘片是否有问题等。但需要注意的是,个别功能使用不当,会删除硬盘上的所有数据,请谨慎使用。对于一般用户来说,使用诊断功能就足够了。 二、所有支...

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中国长城计算机深圳股份有限公司PC事业部 中国长城计算机深圳公司PC事业部评测中心 广州七喜电脑股份有限公司 三星硬盘专用HUTIL硬盘诊断工具使用说明 一、概述: Samsung三星硬盘专用诊断工具HUTIL For DOS。HUTIL全称SAMSUNG HDD URILIRY,可以设置最大的可寻址容量,将硬盘写零或格式化,诊断盘片是否有问题等。但需要注意的是,个别功能使用不当,会删除硬盘上的所有数据,请谨慎使用。对于一般用户来说,使用诊断功能就足够了。 二、所有支持的驱动器列表: Serial系列 Model型号 SpinPiont P120 SP2014N,SP2514N SpinPiont P80SD SP040GJ ,SP080HJ,SP120IJ,SP160JJ SpinPiont P80 SP0401N, SP0802N, SP1203N, SP1604N, SP0812N, SP1213N, SP1614N, SP0211N, SP0612N SpinPiont V80 SV0401N, SV0802N, SV1203N, SV1604N, SV0211N, SV0612N SpinPiont VL40 SV0211H, SV0311H, SV0401H, SV0411N, SV0211N SpinPiont PL40 SP0411N, SP0211N, SP0311N SpinPiont V60 SV1204H, SV0813H, SV0602H, SV0301H SpinPiont P40 SP8004H, SP6003H, SP4002H, SP2001H, SP80A4H, SP60A3H, SP40A2H, SP20A1H SpinPiont V40 SV8004H, SV6003H, SV4002H, SV2001H, SV8014H, SV6014H, SV6013H, SV4012H, SV3012H, SV2011H SpinPiont V30 SV6004H, SV4003H, SV3002H, SV2002H, SV0802H SpinPiont P20 SP4004H, SP3003H, SP2002H, SP1001H 三、使用 方法 快递客服问题件处理详细方法山木方法pdf计算方法pdf华与华方法下载八字理论方法下载 : ◆注:该程序是一个实DOS程序,必须在纯DOS环境下运行 ◆将要检测的硬盘挂在第一个IDE接口,并设置为主盘 ◆请先制作一张1.44MB的DOS启动软盘 ◆下载HUTIL 检测软件,利用WinRAR/Winzip软件对下载的文件进行解压缩,把解压缩后得到的两个文件HUTIL.EXE和HUTIL128.CFG分别拷贝到DOS启动软盘的根目录下。或者运行解压缩后得到的Install.exe,然后把一张空白软盘插进软驱当中,并点击确定按钮即可制作一张能够直接启动Hutil程序的启动软盘。 ◆在主板CMOS当中设置软驱启动优先 ◆利用软盘引导系统进入纯DOS模式 ◆在DOS命令行模式(A:\>)下,键入命令HUTIL.exe ◆遵照以下网址可以直接下载到 HUTIL 检测软件 http://www.hedy.com.cn/hedy-product/samsung/fla/Hutil1.28.zip 运行程序后,我们可以看到4个选项:Test 、Tool 、Option 、Exit to dos。 1、 Test 选项下面有两个选项,Short test / long test 。 这两个选项是最常用的,其主要是利用S.M.A.R.T功能对硬盘的各项参数进行检测,用户可以通过这两个选项快捷方便地检查出硬盘存在的问题,其中Short test 测试项目将会对整个硬盘的磁道和扇区进行随机性扫描,所以测试速度非常快,但测试结果可能会不准确!Long test测试项目会将整个硬盘的磁道和扇区全部都检查一遍,测试所花费的时间相对会长一些,但测试结果准确性较高!至于什么时候选用长测,什么时候选用短测,用户可以这样判定:怀疑硬盘存在坏道可能性比较大时,直接选用长测,怀疑是其它硬件故障,可以直接选用短测,基准测试次数为10次以上为妥。 按照提示输入循环测试的次数! 假若在测试当中出现“IRQ TIME OUT”的提示,这说明系统没有检测到硬盘: 这时,请选择OPTION—AUTO DETETION项目,按回车键: 软件会自动检测IDE接口上面挂接的硬盘驱动器,利用键盘上面的↑↓箭头选定要测试的三星硬盘驱动器,按回车键选定后再返回TEST项目继续测试! TEST项目共包括九个子项目的测试,假若每个子项目都出现Testing…Pass!和Test ok.的字样,说明该项测试通过!Long Test项目也与此相同。 每个子项目的测试内容所代表的意义如下: 1)、HEAD TEST:硬盘物理磁头测试。测试硬盘上面每个GMR磁头(Giant Magnetoresistive heads)巨型磁阻磁头是否能够正常工作,硬盘磁头是硬盘读取数据的关键部件,不同的硬盘有不同的磁头测试数目。假若该项测试失败,说明硬盘中磁头组件的某部分被损坏,造成部分或全部磁头无法正常读写的情况。磁头组件损坏的方式和可能性非常多,主要包括磁头接触面脏、磁头磨损、磁线圈、音圈受损、磁铁移位等。一般表现为通电后,磁头动作发出的声音明显不正常,硬盘可能无法被系统BIOS检测到;或者无法分区格式化,格式化后发现从前到后都分布有大量的坏簇。 2)、PES TEST: PES(Position Error Signal),位置错误信号测试。磁头在硬盘处于等待状态时,必须停留在规定的安全着陆区域。硬盘内部设置有PES信号发生器逻辑电路,用于监控磁头的飞行高度、位置、载入和载出。假若该项测试失败,说明磁头存在悬臂变形、移位等机械故障,导致无法正常复位,或者是硬盘的伺服口已经破损,磁道伺服信息错误。 3)、CHECK CHANNEL INTEGRITY:通道完整性检查。主要包括硬盘的I/O通道检测、DSP芯片、主控制芯片相关逻辑电路信号的检测。如果该项目测试无法通过,有可能是硬盘的电子线路板中部分线路断路或短路,某些电气元件或IC芯片损坏等。有部分可以通过观察线路板发现缺陷所在,有些则要通过仪器测量后才能确认缺陷部位。一般表现为硬盘在通电后不能正常起转,或者起转后磁头寻道、读写不正常。 4)、CHECK M.C. :检查硬盘M.C.区域。M.C.区域是硬盘的系统信息区,硬盘内部的一个系统保留区。里面又分成若干模块,保存了硬盘出厂的SN号码、参数、设置和内部控制程序等重要信息。假若该项测试失败,则表现为硬盘在通电自检时读不出某些模块的信息或者校验不正常,主板BIOS无法检测到该硬盘或检测到该硬盘却无法对它进行读写操作,硬盘无法进入Ready状态等。解决该类问题必须重新刷写硬盘的FirmWare固件。 5)、CHECK S.M.A.R.T.: S.M.A.R.T.测试。S.M.A.R.T技术(Self Monitoring Analysis And Reporting Technology):硬盘自我监测、分析和 报告 软件系统测试报告下载sgs报告如何下载关于路面塌陷情况报告535n,sgs报告怎么下载竣工报告下载 技术。在ATA-3标准中S.M.A.R.T.技术被正式确立起来。其工作原理是利用硬盘内置的硬件监测电路和主机上的监测软件对被监测对象的运行情况与历史记录及预设的安全值进行分析、比较,当出现安全值范围以外的情况时,会自动向用户发出警告,自动降低硬盘的运行速度,把重要数据文件转存到其他安全扇区。不过用户需要注意的是,对于偶发性故障(故障是偶然出现的,之前没有任何迹象),比如电路板芯片烧毁,突发的撞击导致磁头、介质损坏等故障,S.M.A.R.T.技术是无能为力的。假若该项测试无法通过,则说明S.M.A.R.T.监测的硬盘主要对象部分,包括磁头、磁碟、马达、电路、电机、信号发生器等存在潜在性缺陷或物理故障。此时建议用户抓紧时间备份数据,并把硬盘交由销售商维修为妥。 6)、WRITE VERIFY: 硬盘写入校验。硬盘厂家的专利技术,其原理是:磁头将数据写到磁介质后,硬盘自动对写入的数据和读入的数据做一个ECC(Error Correction Code)错误校验,正确后继续写入下一个数据。如果出现写入校验错误。那么很有可能是磁盘表面磁介质损伤、磁头写入功能不正常、硬盘DRAM内存缓冲区错误。 7)、RANDOM SURFACE SCAN/ READ SURFACE SCAN:随机表面扫描/表面扫描。这项功能主要针对硬盘表面扇区进行扫描。假若该项测试无法通过,说明硬盘的扇区存在逻辑错误或者物理错误,这方面主要包括校验错误(ECC错误和CRC错误)、扇区标志错误(IDNF错误)、地址信息错误(AMNF错误)、坏块标记错误(BBM)等原因导致该扇区失效。修复这类故障通常可以采用磁盘零填充或者低级格式化的方法解决!进行这两项功能都会对硬盘的数据进行清零,并重写每个扇区的校验码和标志信息。如果不是因为碰撞、磁头摩擦或其他原因导致磁盘表面介质出现的物理性损坏,譬如划伤、掉磁等的话,大部分的坏扇区可以纠正为正常状态。 8)、DEFECT ANALYSIS:缺陷分析。检查硬盘出厂时的G-list(增长缺陷表,Grown defects list)和P-list (永久缺陷Permanent defects list)记录。如果该项目无法通过,则说明这些在出厂时已经设置的磁道列表记录信息已经被丢失或破坏。这时硬盘表现为硬盘全部扇区都无法正常访问。这类问题利用软件是很难重建这些记录信息的,要解决该问题必须把硬盘返回工厂维修。 9)、LOGICAL TEST:不详。 2、 Tool 工具选项菜单: (此菜单不建议客户使用,一般硬盘出厂已经设置好了,最好不用自行更改,如有修改需要,请咨询相关技术人员为妥) SET MAX ADDRESS…………………………………修改硬盘的最大容量 ERASE HDD ………………………………………………………擦除硬盘 SET MAX UDMA MODE………………… 设置硬盘UDMA接口通道模式 AUTOMATIC ACOUSTIC MANAGEMENT…………………自动声音管理 SELF DIAGNOSTIC………………………………………… 硬盘自我诊断 48BIT LBA SUPPORT…………………………………48位LBA硬盘支持 该项目当中比较常用的是自动声音管理功能。假若用户感觉三星硬盘在使用的过程当中噪声比较大,那么可以利用该功能设置进行调整。具体的使用方法如下: 选择AUTOMATIC ACOUSTIC MANAGEMENT,按回车键,进入设置模式: 在设置AAM MODE模式下面一共有三个设置值可选,更改不同的设置值请移动光标到AAM MODE项,再按回车键更改。 AAM MODE设置值说明:1、DISABLE ,禁用AAM功能,此时硬盘寻道时间最快,此时硬盘性能最好,但噪声也最大。 2、FAST,启用AAM功能,此时硬盘进入快速寻道模式,硬盘噪声适中。 3、QUIE, 启用AAM功能,此时硬盘噪声最小。设置完毕后,把光标移动到PROCESS项,按回车键,稍等一会儿就会出现设置完成的信息。 出现Process Completed的字样,说明已经AAM寄存器的设置值已经保存! 3、 OPTION选项菜单: DRIVE INFORMATION………………………………察看硬盘内部信息 AUTO DETECTION………………………………… 自动检测 ABOUT HUTIL………………………………………察看HUTIL软件信息 该项目当中比较有用的功能是第一项DRIVE INFORMATION。通过该功能,用户可以查看硬盘的一些相关信息,比如硬盘的SN号码,固件版本号。硬盘LBA参数等。 � EMBED PBrush ��� 2 第 页 共2页 2 第 页
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