第 14卷 第 4期
2002年 7月
强 激 光 与 粒 子 束
HIGH POW ER I ASER AND PARTICI E BEAM S
VO1.14,NO.4
Ju1.,2002
文章 编 号 : 1oo1-4322(2002)04—0489—04
平焦场光栅光谱仪
吴 军, 杨家敏, 丁永坤, 丁耀南, 王跃梅, 张文海, 郑志坚, 杨向东
(中 国工 程物 理研究 院 激光 聚变研 究 巾心 .四川 绵 IN 62l900)
摘 要 : 介绍了用于 X光能谱测量研究的平焦场凹面光栅光谱仪的原理、结构及象差校正的
设计
领导形象设计圆作业设计ao工艺污水处理厂设计附属工程施工组织设计清扫机器人结构设计
方法。
利用 2 400L/ram的变栅距光栅设计和建立了一台平焦场光栅光谱仪,其测谱范围为 1.5~l0nm 通过在星光
装 置 上 利 用 该 谱 仪 测 量 C 。H。 O 等 离 子 体 的 发 射 谱 线 ,对 谱 仪进 行 了 实 验 考 核 ,表 明 该 谱 仪 分 辨 率 达 到
0.02nm。并成 功 应用 于辐 射加 热等 离子 体的 吸 收谱测 量研 究 中。
关 键词 : 凹 面光 栅 ; 光谱 仪 ; 象 差
中 图分 类号 : TL81 7 .1 文献 标识 码 : A
对等离子体产生的 x光能谱的研究,可以得到许多关于等离子体的重要信息 。实验室内所获得的 x光属
软 x光波段,使用光栅谱仪测量。由于透射式光栅谱仪 的谱分辨率较差 ,只能达到 0.1~0.2nm,不能适应谱
分辨率要求很 高的测量 ,而通 常的反射式光栅谱仪 均采用恒定栅距的 凹面光栅作分 光成像元 件 ,就 必须满 足
罗兰圆的结构 ,记录面为一柱 面 ,难 以实现与其它记 录设备 ,如条纹相机 ,分 幅相机 的配接 。
已经研 制 的反射 式平焦场光栅谱 仪 ,采 用一块变栅距 凹面光栅作 分光元 件 ,X 光掠入射 到光栅 上 ,可 以形
成几乎是平面的记录焦面。目前,国内实验室使用的大多是 1 200I /ram 的平焦场光栅谱仪口],其摄谱范围为 5
~ 30nm,对于波长更短的 XUV能区的谱线则无法聚焦。而我们使用的是 2 400I /ram的变栅距 凹面光栅 ,其
摄谱 范围为 1.5~lOnm,扩充 了 1 200I /ram 光栅谱仪短波方 向的摄谱范 围。
在星光装置上用低 z的c 。H 。O 材料等离子体作为 x光光源,5FW 软 x光胶片记录,成功地获得了碳和
氧离 子的发射谱 线。
1 原 理 和 结 构
对任一种光栅谱仪 ,其衍射光束与波长 的关系均满足光栅方程
since— sin/3'一 k2/d (1)
若光栅常数 d是常量,则对于每一个确定的波长 和光谱级数 k来说 ,衍射角 仅取决于入射角 a。只要谱仪
的狭缝 s和光栅 G均位于直径等于光栅凹面曲率半径为 R的罗兰圆上时,其衍射光束焦面必然处在此圆上 ,
如 图 1(a)所示 。但 当采用变栅距光栅时 ,由于 d成 了变量 ,于是衍射 角 就与 a和 (_f有关 ,通 过变 化 d就 能调
节 。如果 d的变化规律设计得当,就可以如图 1(b)那样 ,使某一波段的衍射光交点处在几乎平直的焦面内。
(
(a)concave grating with invariable line space
VG
(h)CO rlcave grating witb variable J ine space
Fig 1 imaging comparison between two concave grating
l 两种 凹面光栅 成像 比较
· 收稿 日期 :2001一l0一l0; 修 订 日期 :2002—03一l8
基金项目:国家 863激光技术领域资助课题(863—4l0—3-4 2)
作者简介:吴 军(1976一).男,硕士研究生,从事等离子体诊断及光与原子分子相互作用研究;绵R J 9l 9—986信箱
丁永坤Ll 965一),男,研究员,第一作者指导教师;
杨向东(1943一),男.教授,杠!j士生导师,第一作者指导教师。
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强 激 光 与 粒 子 束 第 l4卷
由于凹面光栅的凹槽都是等间距 ,平行和直线型的等原因,当使用凹面光栅谱仪摄谱时,象差是不可避免
的。对于凹面光栅象差的校正口 ,如图 2所示定义矩形坐标系。以凹面光栅 的球面顶点 0为坐标原点 轴在光
栅的法线方向,垂直于 。点 , 轴和 轴分别垂直 ,平行于光栅凹槽。把光源和衍射像点都置于 一_),平面内。图
2中 ,A( , ,0)是 光源 ,B( .r , ,0)是波 长为 的 阶衍 射像 点 ,P( t , )是距 离 0点的第 个 凹槽 上 的一
点 。考 虑光通过 B点 ,在 P点的衍射 ,和 卢分别为人射角和衍射角 ,光路
函数
excel方差函数excelsd函数已知函数 2 f x m x mx m 2 1 4 2拉格朗日函数pdf函数公式下载
F为
F 一 (AP>+ (PB>+ nmA (2)
根据 费米定律【4],此方程满足 aFl~ =0和 aFlat=0。如 图 3所示 ,凹槽数 和位 置的关 系为
一
1 + 训;+惫训;+ 训;+..·) (3)
式中: 一是从中心 。起,间距转化的数量; 是 训 等于零时的凹槽间距;尺是凹面曲率半径 ;b 是控制参数 。引
进极坐标 ,对 训, 幂级数展 开得到光路 函数
F — r+ r + 训F1 o+ t F2o+ Fo2+ t 。F3o+ 训 Fl 2+ 训 F22+ 训 F4o+ 训 F22+ F04+ O(w ) (4)
式中:O(w。)是 训 的更高阶项 ;F 为
F J— C J+ E(mA) 03M,| 5)
式中:c 和 ,的明确表达式见参考文献[3]。
应用可象差校正的凹面光栅设计摄谱仪的使用方法时,条件 aF/~ =0和 aF/at一0,也就是说 F ,一0必须
满足 ,否则无法获得聚焦的像点。但是,即使使用这种光栅也不可能在整个波长范围内得到清晰的像点 ,所以设
计凹面光栅时通常使 F ,为零或最小值以减少象差。方程(4)中,F。。与光栅色散有关 ,F 。与水平聚焦条件有关,
F。 与 象散有关 ,F。。与 彗形象差有关 ,其它 F ,与较高阶的象差有关 。
2 400I /mm的平焦场谱仪的原理如图 4所示。人 ⋯ ⋯
1 5 10 nm — I 算得到光栅对波长.~ 区域形成平焦场,如图 。 二一一一\ “l 、7 、. 5所示
,焦平面位于光栅VG的垂直面,距光栅顶点o I \ l /\ ~-l I nm
为235mm。底片或条纹相机阴极放置在焦面上。谱线 88.65~ I / \ l
波长 与在焦面上的位置 的关系为 l 届=83 0。 5
A
z
= do(sina
.
-- sin
㈤
。。
谱 仪 的实物照 片如图 6所示 。左 前端为狭缝 ,缝宽 Fig
. 4 。f flat-fi。Id鲫 ti g p。 Ir0g ph, p 、 ipIe
0.1mm,位置连续可调,中部为光栅室,光栅放置在光 图4 平焦场光谱仪原理示意图
栅室中支架上,通过调整光栅支架可进行人射角调整。
下方 为可调支架 ,可对 整个谱仪 系统进行两维平 动和一维转动调节 ,以方便 整个谱仪 瞄靶 ,其 中两维平 动 可采
用手动和电动两种方式调节。光栅室右侧为一个电动快门暗盒 ,为活动件 ,暗盒可取下装卸底片,暗盒支撑架可
前后平移及倾斜微调,以保证底片或条纹相机阴极正确落在焦面上。谱仪后端可与 CCD接口。
由图 5知,变栅距光栅的焦面特性随入射角的变化非常灵敏E ,故对入射角的调整特别重要 。谱仪的调整
主要通过光学仪器监测和几何测量完成 ,我们使用正入射观察方法 ],通过观察从光栅反射的狭缝零级像的位
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第 3期 吴 军等:平焦场光栅光谱仪
200
Fig.5 Calculated focal curve of tile 2 4001 /ram aberration—corrected collcave grating Fig.6 2 4001 /ram flat field grating spectrograph
图 5 2 400L/ram 光栅 的聚 特 性 圈 6 2 400L/mm平 场 光栅 谱仪
置来确定光栅谱仪的入射角。
2 实验结果
实验 采用低 Z的 C H 。()。作 为样 品靶 ,在 星光装置上 利用
波长为 0.35t~m的激光辐照样品靶产生等离子体。激光能量为
4.4J,激 光脉宽约为 600ps,激 光焦斑 约为~200t~m。实验 布置如
图 7所示 。在靶前 向用 2 400I /ram 的平 焦场光栅谱仪 测量等离
子体 中的碳 和氧离 子发 射谱线 ,谱仪 采用 5FW 软 X 光胶 片记
录 ,在靶前 向同时采 用针孔相机测量激光焦斑 。
利用平焦场谱仪测量得到的激光辐照样品靶等离子体发射
的谱线 x光胶片记录如图 8所示,其中可见非常清晰的碳和氧
sampIv largel
Fig.7 Diagram of expe riment arrangement
图 7 实 验 卉i置示 意图
离子 的发 射谱线 。在黑密度 计上对 X光记录胶片进行黑度扫描 ,获得谱线 黑度与位 置扫描 曲线 。利 用 5FW 软
x光胶片对 x光的响应特性圳及 2 400I /ram平焦场光栅的光栅方程,编程计算处理谱线黑度与位置扫描曲
线,得到 C H () 等离子体发射谱线结果,如图 9所示。从图 9中,可以看到清晰的氧和碳离子 He—n,He一 及
I.y—n谱线 。测量谱线 的半宽 度 ,如图 9中的碳离子发射谱线 i,可以得 到该谱仪谱分辨率达 到约 0.02nm。
Fig 8 Measu retllellt record of emissinn specl rum of(:jH【__()..sample plasma、、ith a 2 400i mnl flat field raIlI specI rograph
8 2 4001 nm 平 场 i}警仪测 }1 j刮 的 CjH () 样 IfI等离子 体发 t谱 f
Fig 9 ResuIt of measu ring em ission spectrun1 of C sH~sO c,sam ple plasm a
图 9 c5Hl 60 样品等离子体发射谱测量结架。其中.氧离子发射谱为:atls IMp,b:is 一Is3p.c:I s一2p.d:is 一is2p
碳 离子 发射 谱为 efls一5p.f:I s一4p.g:ls一3p,h:l s一2p i:ls ls3p.J:I s I s2p
r, L。.。。 。。.r. L 。 0
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492 强 激 光 与 粒 子 束 第 14卷
3 谱 仪 应 用
现在我们已成功地应用 2 400I /mm的变栅距凹面光栅谱仪在星光装置上获得了高分辨率的 c H () 的
吸收谱 ,波长范围为 1.6~5.5nm,如图 10所示。并通过对比x射线的源光谱获得实验透射光谱,如图 ll所
示 。
(a)with the diagnostic hole open
(h)with the diagnostic hole covered th C⋯I II“0 sample
Fig.10 Raw X—ray spect ru|n im ages from the diagnosti。hole
measu red with 2 400L/mm flat field grating spect ro一(;raph:
图 10 (a)源 X射 线光 谱记录 ;4b)Cl。Hl 6()6吸 收谱 记录
}2
1 0
()8
0 6
0 4
0 2
2 3 4 5 6
wave]engh/nlTI
Fig.1l Diagram of absorption spect runl of 4:l¨Hl b()“sample
图 11 Cl0H.6O6样 吸收潜l圣I
4 结 论
利用 2 400I /ram 的变栅距光栅设计和建立了一台测谱范围为 1~5nrn的平焦场光栅谱仪,通过打靶实验
测谱表明,该谱仪谱分辨率已达到 0.02nm。目前该谱仪采用软 x光胶片记录,只能测时间积分的 x光谱,为了
实现时间分辨率的谱测量,正在开展该谱仪与门控分幅相机的配接实验工作。
参考 文献 :
[1] 丁耀南,何海恩.姚震宇,等.透射光栅时间分辨谱仪[J].强激光与粒子束,1 991.3(2):237 241.4Ding Y N.He H E,Yao Z Y,el a
Time—resolved X—ray 1 ransimission grating specl romeler.High p0"fJ,.1asel and pal title ~llllS.1991.3 42):237 241)
[2:
[3j
4:
[5:
[6:
[7
[83
何绍堂 .陈 渊,淳于 书泰 ,等.一台高分辨袖珍式掠入射光栅 谱仪[J].强激光 与粒子束,1 990.2 44):455 460.(He S T,Chen Y,
Cbunyu S F,et a1.A compact high reso]ution grazing—incidence grating spectrometer.H;gh powe, “ r,。and parthle~eult1
.i.1 990. 2(4)1
45j 460)
Harada F,Kita T.Aberration corrected concave gratings[J:. 4ppl .1 980.19 423):3987 3993.
Namioka T.Fermit’s principle[J:..,Opt 山,f'l959,49 44):44 6 460.
Nakano N.Kuroda H .Kita T.et a1.Development of a flat—field grazing—incidence XUV spectrometer and its application in picosecond XUV
spectr0sc0py[J].Appl Opt.1 984,23 414):2386⋯ 2392.
倪元龙.毛楚生.吴 江.等.平焦场光栅光谱仪[J].强激光与粒子束.1991.3(2):242—248.(Ni Y L,Mao C S.Wu J,et a1.A flat
field grating spectrograph for X—ray laser research.High powrl。lasez‘and particle beams,1991,3(2)}24 2 248)
Yang J M,Ding Y N,Zheng z J.et a1.Study of response of film 5F to soft—X—ray[J].Acta Opti~le Sinict.1997,17(5):599 603.
Yang J M.Absorption measurement of radiatively—healed low—z mixture[J].c Phys lett,2001,18 44);550—552.
Flat field grating spectrograph for soft X—ray laser research
WU Jun, YANG Jia—min, DING Yong—kun. DING Yao—nan.
WANG Yao—mei· ZHANG Wen—hai. ZHENG Zhi—jian. YANG Xiang—dong
(Research Center of Laser Fusion,CAE1 i .0.Boa’91 9-986 Mianyang 621 900。China)
Abstract: This paper presents the principle.structure and aberration—corrected designing of a flat focal field concave grat—
ing spectrograph. W e designed and constructed a spectrograph instrument using varied spaced concave grating with 2 400一
grooves/mm.Spectral range of detection is 1.5~ 1Onm.Typical soft X—ray line spectra emitted from laser plasma of C Hl 6O6
target has been obtained with this spectrograph instrum ent on ’Xing—gnang II’laser facility.The experiment results indicate that
the spectral resolution is 0.02nm . Absorption spectrum of laser—produced plasma has been observed successfully with the de—
Vlee.
Key words: concave grating; spectrograph; aberration
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