一、名词解释辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。俄歇电子:X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子（实际是离子）处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。背散射电子：入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹性散射部分；背散射电子的作用深度大，产额大小取决于样品原子种类和样品形状。溅射：入射离子轰击固体时，当
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面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。物相鉴定：指确定材料（样品）由哪些相组成。电子透镜：能使电子束聚焦的装置。质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。蓝移：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术。11、球差：即球面像差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不同造成的。轴上物点发出的光束，经电子光学系统以后，与光轴成不同角度的光线交光轴于不同位置，因此，在像面上形成一个圆形弥散斑，这就是球差。12、明场像：用另外的装置来移动物镜光阑，使得只有未散射的透射电子束通过他，其他衍射的电子束被光阑挡掉，由此得到的图像13、暗场像：或是只有衍射电子束通过物镜光阑，投射电子束被光阑挡掉，由此得到的图像14、X射线的强度：是指行垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。常用的单位是J/cm2.s。15、衍射衬度：主要是由于晶体试样满足布拉格条件程度差异以及结构振幅不同而形成电子图像反差。16、热重法：在程序控制温度条件下，测量物质的质量与温度关系的一种热分析方法。17、结构因子：是指一个单胞对X射线的散射强度，由于衍射强度正比于结构因子模的平方，消光即相当于衍射线没有强度，因此可通过结构因子是否为0来研究消光规律18、弯曲振动：键长不变而键角变化的振动，可分为面内变弯曲振动和面外弯曲振动等。19、二次离子：固体表面原子以离子态发射叫做二次离子。20、系统消光：因F2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。复型：就是将样品表面形貌复制下来的薄膜复制品。物相分析：指确定材料由哪些相组成（即物相定性分析或称物相鉴定）和确定各组成相的含量（常以体积分数或质量分数表示，即物相定量分析）。特征振动频率：某一键或基团的振动频率有其特定值，它虽然受周围环境的影响，但不随分子构型作过大的改变，这一频率称为某一键或基团的特征振动频率。差示扫描量热法：指在程序控制温度条件下，测量物质（样品）与参比物之间的功率差随温度或时间变化的函数关系的技术。X射线光电效应：当X射线的波长足够短时，起光子的能量就很大，以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来，而它本身则被吸收。它的能量就传递给该电子了，使之成为具有一定能量的光电子，并使原子处于高能的激发态。这种过程我们称之为光电吸收或光电效应衍射角：入射线与衍射线的交角。磁透镜：产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。28、像散：由透镜磁场的非旋转对称引起的像差。29、色差：由于电子的波长或能量非单一性所引起的像差，它与多色光相似，所以叫做色差。30、吸收电子：入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。31、特征X射线：原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。利用特征X射线可以进行成分分析。32、二次电子：二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自表面50-100?的区域，能量为0-50eV。它对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。33、分辨率：是指成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离34、景深：是指当成像时，像平面不动，在满足成像清晰的前提下，物平面沿轴线前后可移动的距离35、焦长：焦长是指物点固定不变（物距不变），在保持成像清晰的条件下，像平面沿透镜轴线可移动的距离。36、像差：由于透镜几何形状和电磁波波长变化对电磁透镜聚焦能力不一样造成的图像差异37、等厚干涉条纹：在电镜下我们会看到整个楔形晶体是亮暗相间的条纹，这些条纹很像地图上的等高线，每一条纹对应晶体的相等厚度区域所以叫等厚干涉条纹38、弯曲消光条纹：当样品厚度一定时，衍射束强度随样品内反射面相对布拉格位置偏移矢量S变化而呈周期摆动，相应的投射束强度按相反周期摆动，摆动周期为1/T，因而在电镜内显示出相应的条纹。39、衬度：像平面上各像点强度的差别40、双束近似：假定电子束透过晶体试样成像时，除投射束外只存在一束较强的衍射束，而其他衍射束则大大偏离布拉格条件，他们的强度都可以视为零41、消光距离：表示在精确符合布拉格条件时透射波与衍射波之间能量交换或强度振荡的深度周期。42、X射线：波长很短的电磁波特征X射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。43、连续X射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。44、荧光X射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线45、二次特征辐射：利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线46、Ka辐射：电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线47、相干散射：X射线通过物质时在入射电场的作用下，物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动，同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线，称之为经典散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同，位相差恒定，在同一方向上各散射波符合相干条件，称为相干散射48、非相干辐射：散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的49、原子散射因子：为
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的光谱表观形态）可分为（连续）光谱、（带状）光谱和（线状）光谱3类。分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。分子散射包括（瑞利散射）与（拉曼散射）两种。X射线照射固体物质（样品），可能发生的相互作用主要有（弹性散射）、（非弹性散射）（光电子）和（俄歇电子、荧光X射线、吸收、透射）等。多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（X射线衍射仪法）。依据入射电子的能量大小，电子衍射可分为（高能）电子衍射和（低能）电子衍射。依据电子束是否穿透样品，电子衍射可分为（透射式）电子衍射与（反射式）电子衍射。衍射产生的充分必要条件是（衍射矢量方程或其它等效形式）加I.1'丰0。）°透射电镜的样品可分为（直接）样品和（间接）样品。单晶电子衍射花样标定的主要方法有（尝试核算法）和（标准花样对照法）。扫描隧道显微镜、透射电镜、X射线光电子能谱、差热分析、扫描电镜的英文字母缩写分别是（STM）、（TEM）、（XPS）、（DTA）（SEM）。XRD是X射线衍射分析，EPMA是电子探针分析。透射电镜主要由电子光学系统、电源与控制系统、真空系统三大部分组成。电子光学系统通常称为镜筒，是其核心，主要由照明系统、成像系统、观察系统三大部分组成。成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。利用电子束与样品作用产生的特征X射线来分析样品的微区成分，有能谱仪、电子探针二种方法。透射电镜的复型技术主要有一级复型法、二级复型法、萃取复型法三类。在光谱法中，测量的信号是物质内部能级跃迁所产生的发射、吸收或散射光谱的特征波长和强度。根据光谱的波长是否连续，可将光谱分为三种类型，即线状光谱、带状光谱和连续光谱。根据衍衬成像原理，透射电镜可进行二种衍衬成像操作，分别得到明场像和暗场像。电子探针分析主要有三种工作方式，分别是点分析、线分析和面分析。高能电子束照射在固体样品表面时激发的信号主要有背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子等。（至少答四种信号）X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。32•扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。33、X射线物相定量分析方法有外标法、内标法、直接比较法等。34、电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。35、透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和球面像差两因素影响。36、材料的性能由其内部的微观组织结构决定37、.X射线的本质是电磁波（电磁辐射），与所有的基本粒子一样，X射线具有_波粒二象性。波长较长的X射线，能量较低,穿透性弱，称为软^射线，可用于非金属的分析。X射线的频率V、波长入ch以及其光子的能量£、动量p之间存在如下关系：£=h=h，?='38、K系特征谱线包含Ka和KB两种类型谱线，其中波长入Ka大于K能量EKa小于—EKB强度IKa大于IKB（填大于，小于或等于）39、当X射线照射物质时，其强度随透入深度呈—指数_衰减。40、一束X射线通过物质时，它的能量会分为三部分：_被散射，被吸收，通过物质继续传播。41、非相干散射会增加连续背底，给衍射图象带来不利的影响42、只有当入射x射线的波长入—小于_?k时才能产生荧光辐射。43、产生衍射必须满足布拉格方程；在满足布拉格方程的方向并不一定都有衍射线发生。44、用单色x射线照射多晶体粉末试样，衍射线分布在一组以入射线为轴的圆锥面上。在45、垂直于入射线的平底片上，得到一组同心圆。一般用以试样为轴的圆筒底片来记录，可看到一系列的对称弧线。46、获得衍射花样的基本方法有劳埃法、周转晶体法、粉末主。47、结构振幅是以单个电子散射能力为单位的、反映一个晶胞散射能力的参量，是单位晶胞中所有原子散射波叠加的波。48影响多晶体衍射强度的因数有多重性因子、吸收因子、结构因数、温度因子、角因子。49、X射线衍射仪的主要组成部分有X射线发生器、测角仪、探测器、记录单元和自动控制单元。50、透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置就是电磁镜，它由—线圈、铁壳、极靴、三部分组成。51、为使景深和焦长明显增大，在电镜中插入一个直径较小—的光阑。孔径半角越小—，景深越大53、透射电镜是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。电子枪是透射电镜的电子源。电子束斑直径为几十微米。常用的是热阴极三极电子枪。由发夹形钨丝阴极、栅极帽和阳极组成。54、在透射电镜的成像系统中，物镜是一个强激磁、短焦距透镜，像差小，它决定了电镜的分辨率。作用是形成电镜的第一幅高分辨率电子显微图像或电子衍射花样O56、质厚衬度是建立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和_透射电镜小孔径角成像基础上的成像原理。57、复型成像是根据复型膜的质厚衬度成像，而晶体薄膜成像是根据衍射衬度成像。让透射束通过物镜光阑，而把衍射束挡住得到图象衬度的方法叫明场成像。58倒移矢量ghkl的大小_晶粒间距倒数和方向_垂直晶粒_。59、若倒易阵点G落在厄瓦尔德球面上，则可能发生衍射。60、相机常数乂是一个协调正、倒空间的比例常数61、明场像看到的是透射束成像。暗场像看到的是衍射束成像。62、背散射电子来自样品表层几百纳米的深度范围，且随样品原子序数增大而增多，既可用作形貌分析，也可用来显示原子序数衬度，定性地作成分分析。二次电子在表层5-10nm深度发射出来，能非常有效地显示样品的表面形貌。特征X射线可用来判定微区中存在的元素。63、SEM的构造包括电子光学系统、信号收集处理、图象显示和记录系统、真空系统。64、在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子被称为二次电子。它在表层5-10nm深度发射出来，能非常有效地显示样品的表面形貌。65、在透射电镜中主要有三种光阑：聚光镜光阑、物镜光阑、选区光66、粉末法可分为照相法和衍射法。在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜-谢乐法、聚焦照相法和针孔法。67、SEM的构造包括电子光学系统、信号收集处理、图象显示和记录系统、真空系统。68扫描电子显微镜的放大倍数是阴极射线电子束在荧光屏上的扫描宽度与电子枪电子束在样品表面的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是_亮_衬度，而裂纹、凹坑则是_暗_衬度。70、分辨率最高的物理信号是俄歇电子或二次电子—为5nm,分辨率最低的物理信号是—特征X射线为100nm以上。71、扫描电子显微镜可以替代金相显微镜进行材料金相观察，也可以对断口进行分析观察。72在透射电镜的成像系统中，物镜是一个强激磁、短焦距透镜，像差小，它决定了电镜的分辨率。作用是形成电镜的第一幅高分辨率电子显微图像或电子衍射花样。74、电子束斑大小、检测信号的类型以及检测部位的原子序数是影响扫描电子显微镜分辨率的三大因素。（入射电子激发电压）75、多晶体衍射的计数测量方法有连续扫描测量法和阶梯扫描测量法两种。76、布拉格公式2甲山&=入77、晶带定律hu+kv+lw=0。78通常将窗口安在与靶面成3°-6°的方向上接受X射线。79外标法同素异形体，内标法仅限于粉末试样
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