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基础物理实验-双棱镜干涉测菲涅尔双棱镜顶角

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基础物理实验-双棱镜干涉测菲涅尔双棱镜顶角物理研究性实验报告使用双棱镜干涉测菲涅尔双棱镜顶角摘要:在我们所做的菲涅尔双棱镜干涉实验中,通过干涉现象测得了激光波长。通过查阅文献我们发现使用已知波长的激光,结合干涉实验和二次成像法,我们可以求得菲涅尔双棱镜的顶角。这一研究帮助我们更好的理解整个光路、成像过程以及双棱镜的内部构造。一、实验目的1.熟练掌握光学仪器进行等高共轴调节的方法和技术。2.用实验研究菲涅尔双棱镜干涉,用已知波长的激光,结合二次成像法,测得双棱镜的顶角。3.学会用虚像法分析光路图。二、实验原理(1)基本原理菲涅尔双棱镜可以看作是由两个底面相接...

基础物理实验-双棱镜干涉测菲涅尔双棱镜顶角
物理研究性实验 报告 软件系统测试报告下载sgs报告如何下载关于路面塌陷情况报告535n,sgs报告怎么下载竣工报告下载 使用双棱镜干涉测菲涅尔双棱镜顶角摘要:在我们所做的菲涅尔双棱镜干涉实验中,通过干涉现象测得了激光波长。通过查阅文献我们发现使用已知波长的激光,结合干涉实验和二次成像法,我们可以求得菲涅尔双棱镜的顶角。这一研究帮助我们更好的理解整个光路、成像过程以及双棱镜的内部构造。一、实验目的1.熟练掌握光学仪器进行等高共轴调节的方法和技术。2.用实验研究菲涅尔双棱镜干涉,用已知波长的激光,结合二次成像法,测得双棱镜的顶角。3.学会用虚像法分析光路图。二、实验原理(1)基本原理菲涅尔双棱镜可以看作是由两个底面相接,棱角很小(约为1°)的直角双棱镜合成。若置单色光源S0射来的光束通过双棱镜的折射后,变成两束相重叠的光,这两束光仿佛是从光源S0的两个虚像S1和S2射出的一样(如图1)。由于S1和S2是两个相干光源,所以若在两束光相重叠的区域内放一屏,即可观察到明暗相间的干涉条纹。现在根据波动理论中的干涉条件来讨论虚光源S1和S2所发出的光在屏上产生的干涉条纹的分布情况。如图2所示,设虚光源S1和S2的距离为a,D是虚光源到屏的距离,另P为屏上任意一点,r1和r2分别为从S1和S2到P点的距离,则由S1和S2发出的光线到达P点的光程差是:∆L=𝑟ଶ−𝑟ଵ另N1和N2分别为S和S在屏上的投影,O为N1N2的中点,并设OP=x,则从ΔS1N1P及ΔS2N2P得𝑟12=𝐷2+(𝑥−𝑎/2)2𝑟22=𝐷2+(𝑥+𝑎/2)2两式相减,得𝑟22−𝑟12=2𝑎𝑥另外又有𝑟22−𝑟12=(𝑟2−𝑟1)(𝑟2+𝑟1)=∆𝐿(𝑟2+𝑟1)通常D比a大得很多,所以r2+r近似等于2D,因此光程差为∆L=𝑎𝑥𝐷(1.1)若λ为光源发出的光波波长,干涉极大和干涉极小处的光程差为∆L=𝑎𝑥𝐷ቐ𝑘𝜆(𝑘=0,±1,±2,⋯)明纹2𝑘+12𝜆(𝑘=0,±1,±2,⋯)暗纹即明、暗条纹的位置为x=൞𝐷𝑎𝑘𝜆(𝑘=0,±1,±2,⋯)明纹(2𝑘+1)𝐷𝑎𝜆2(𝑘=0,±1,±2⋯)暗纹(1.2)由上式可知,两干涉亮纹(或暗纹)之间的距离为∆x=𝐷𝑎𝜆(1.3)所以当用实验方法测得Δx,D后,已知单色光源波长为λ,即可算出两虚光源之间距离a=𝐷𝜆∆𝑥(1.4)分析实验光路图,将双棱镜简化为图右侧的三棱镜,取入射光线为从光源S垂直入射。设三棱镜底角为A,对棱镜射入空气这次折射,法线与入射光线夹角为i,与出射光线夹角为γ。出射光线与水平线夹角为δ,棱镜折射率已知为n。由折射定律可知i=A,且nsini=sinγ=sin(𝛿+𝑖)则nsinA=sin(𝛿+𝑖)=𝑠𝑖𝑛𝛿𝑐𝑜𝑠𝐴+𝑐𝑜𝑠𝛿𝑠𝑖𝑛𝐴因A和δ都很小,由小角近似sinA≈A,cosδ≈1,得A=𝑠𝑖𝑛𝛿𝑛+1(1.5)因sinδ≈tgδ=𝑎2𝐷ଵ(1.6)结合式(1.4),式(1.5),式(1.6)可得A=𝐷𝜆2(𝑛+1)𝐷ଵΔ𝑥(1.7)设双棱镜顶角为C,由C=180°-2A可求得顶角大小。(2)实验 方案 气瓶 现场处置方案 .pdf气瓶 现场处置方案 .doc见习基地管理方案.doc关于群访事件的化解方案建筑工地扬尘治理专项方案下载 1)光源的选择由式(1.3)可知,当光源、双棱镜及屏的位置确定以后,干涉条纹的间距Δx与光源波长λ成正比。也就是说,当用不同波长的光入射双棱镜后,各波长产生的干涉条纹将相互错位叠加。因此,为了获得清晰的干涉条纹,实验必须使用单色光源,则使用已知波长为650nm的激光。2)测量方法条纹间距Δx可直接用测微目镜测出。本方法为了提高虚光源之间距离a的精度,故不采用二次成像法得到a,使用干涉法算出a。使用二次成像法测D,D1当保持物、屏位置不变且间距D大于4f时,移动透镜可在其间两个位置成清晰的实像,一个是放大像,一个是缩小像,分别测出成缩小像和放大像时的物距S和S’,则物到像屏之间的距离(即虚光源到测微目镜叉丝分划板之间的距离)D=S+S’。3)光路组成本实验具体光路为图所示,S为半导体激光器,K为扩束镜,B为双棱镜,P为偏振片,E为测微目镜。L是为测虚光源间距a所用的凸透镜,透镜位于L1位置将使虚光源S1、S2在目镜处成放大像,透镜位于位置L2位置将使虚光源在目镜处成缩小像。所有这些光学元件都放置在光具座上,光具座上附有米尺刻度,可读出各元件位置。三、实验仪器光具座、双棱镜、测微目镜、凸透镜、扩束镜、偏振片、白屏、可调狭缝、半导体激光器。四、实验内容(一)各光学元件的共轴调节①调节激光束平行于光具座沿导轨移动白屏,观察屏上激光光点的位置是否改变,相应调节激光方向,直至在整根导轨上移动白屏时光电的位置均不再变化,至此激光光束与导轨平行。②调双棱镜与光源共轴将双棱镜插于横向可调支座上进行调节,使激光点打在棱脊正中位置,此时双棱镜后面的白屏上应观察到两个等亮并列的光点。此后将双棱镜置于距激光器约30cm的位置。③粗调测微目镜与其它元件等高共轴将测微目镜放在距双棱镜约70cm处,调节测微目镜,使光点穿过其通光中心。(切记:此时激光尚未扩束,决不允许直视测微目镜内的视场,以防激光灼伤眼睛。)④粗调凸透镜与其他元件等高共轴将凸透镜插于横向可调支座上,放在双棱镜后面,调节透镜,使双光点穿过透镜的正中心。⑤用扩束镜是激光束变成点光源在激光源与双棱镜之间距双棱镜20cm处放入扩束镜并进行调节,使激光穿过扩束镜。在测微目镜前放置偏振片,旋转偏振片使测微目镜内视场亮度适中(注意:在此之前应先用白屏在偏振片后观察,使光点最暗)。⑥用二次成像法细调凸透镜与测微目镜等高共轴通过“大像追小像”,不断调节透镜与测微目镜位置,直至虚光源大、小像的中心均与测微目镜叉丝重合。⑦干涉条纹调整去掉透镜,适当微调双棱镜,使通过测微目镜观察到清晰的干涉条纹。(二)物理量的测量①测条纹间距Δx。连续测量20个条纹的位置xi。如果视场内干涉条纹没有布满,则可对测微目镜的水平位置略作调整;视场太暗可旋转偏振片调亮。②测量虚光源缩小像时透镜物距S注意:i.不能改变扩束镜、双棱镜及测微目镜的位置;ii.用测微目镜读数时要消空程。③用上述同样方法测量虚光源放大像时透镜物距S'。五、数据处理六、参考文献[1]麻福厚,张建秋.干涉方法测菲涅尔双棱镜棱角及玻璃折射率[J].物理实验,1996(02):59-60.[2]基础物理实验(修订版)4.11光的干涉实验1(分波面法)
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