芯片测试报告范文

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芯片测试报告范文severalgroupnumber,thenwithb±a,=c,cisismethylbtwoverticalboxbetweenofaccuratesize.Per-2~3measurement,suchasproceedsofcvaluesareequalandequaltothedesignvalue,thentheverticalinstallationaccurate.Forexamplea,b,andcvalueswhileonhorizontalverticalerrorsformeasurement,Generalinironanglecodebitatmeasurementlevelpointsgriderrors,specificmethodisfrombaselinetomethylverticalboxcenterlinedistancefora,,tobverticalboxdistanceforb,listcanmeasuredseveralgroupnumber,thenwithb±a,=c,cisismethylbtwoverticalboxbetweenofaccuratesize.Per-2~3measurement,suchasproceedsofcvaluesareequalandequaltothedesignvalue,thentheverticalinstallationaccurate.Forexamplea,b,andcvalueswhileonhorizontalverticalerrorsformeasurement,Generalinironanglecodebitatmeasurementlevelpointsgriderrors,specificmethodisfrombaselinetomethylverticalboxcenterlinedistancefora,,tobverticalboxdistanceforb,listcanmeasuredseveralgroupnumber,thenwithb±a,=c,cisismethylbtwoverticalboxbetweenofaccuratesize.Per-2~3measurement,suchasproceedsofcvaluesareequalandequaltothedesignvalue,thentheverticalinstallationaccurate.Forexamplea,b,andcvalueswhileonhorizontalverticalerrorsformeasurement,Generalinironanglecodebitatmeasurementlevelpointsgriderrors,specificmethodisfrombaselinetomethylverticalboxcenterlinedistancefora,,tobverticalboxdistanceforb,listcanmeasuredPowerbank2000-4000芯片测试报告目的：鉴于原powerbank2000-4000芯片的输出电流不能满足不断升级、更新手机的需求，继而寻找高电流出去芯片，代替原有芯片，特针对此芯片芯片进行测试，为今后的更改做好铺垫。测试工具：电子负载、稳压电源、万用表、电子温度计、数字电流表。测试内容：1、输出电流不断上升，输入电压不断下降的状态下，输出效率变化分布；2、输入为恒压的状态下，不断的提高输出电流，输出效率的变化；3、输出电流不断上升时，芯片发热温度变化；测试方案：1、控制输出电流从0.3A-1.9A逐一递升变化（每0.1A）；稳压电源输出为4V，以实际电路输入电压为准，并读取电子负载上的显示参数（输出电压、电流）；电路板输入电压U0输出电压U1输入电流I0输出电流I12、控制输出电流从0.3A-1.9A，不断调整输入电压，使之为定值，并读取电子负载上的显示参数（输出电压、电流）；3、控制输出电流从0.3A-1.9A逐一递升变化（每0.1A）；芯片等周围部件的温度变化；测试数据：1、输出电流不断上升，输入电压不断下降的状态下，输出效率变化分布；2、恒压下的效率变化；输入3V恒压时，随电流的上升，转换效率的变化情况输入3.7V恒压时，随电流的上升，效率的变化情况输入4V恒压时，随电流的上升，效率的变化情况3、常温下，输出电流不断上升时，芯片发热温度变化

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