文件编码(008-TTIG-UTITD-GKBTT-PUUTI-WYTUI-8256)检具能力指数CgCgkCg=(Tgo-Tgu)/6S=Tg/6SCgk=min(Tgo-Xbar)或(Xbar-Tgu)/3S式中Cg——量检具重复精度能力系数Cgk——量检具准确精度能力系数Tgo——控制上限Tgu——控制下限Xbar——测量值的平均值S——测量值的
标准
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偏差图中:To为零件公差上限Tu为零件公差下限Tm为零件公差中心Ta为被测零件的实际尺寸T=To-Tu,T为零件公差△X=Ta-TmTm=1/2(To+Tu)Tgo=Ta+1/2×λ×(To-Tu)=1/2(To+Tu)+△X+1/2λ×(To-Tu)=1/2×To×(1+λ)+1/2×Tu×(1-λ)+△XTgu=Ta-1/2×λ×(To-Tu)=1/2(To+Tu)+△X-1/2λ×(To-Tu)=1/2×To×(1-λ)+1/2×Tu×(1+λ)+△Xλ一般取~(现取)Tgo=×To+×Tu+△XTgu=×To+×Tu+△XTg=Tgo-Tgu=×(To-Tu)=×T此主题相关图片如下:HYPERLINKCgk是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。进行Cgk
分析
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的方法是:1:让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25次;2:用这组数据计算出标准差和平均偏移值;3:确定被测产品的公差范围;4:用公式计算出Cgk(可能各公司的公式会不同)。下面是一个计算的图示:此主题相关图片如下:HYPERLINK上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题此主题相关图片如下: