cpk发生率

CPK：ComplexProcessCapabilityindex是现代企业用于 表 关于同志近三年现实表现材料材料类招标技术评分表图表与交易pdf视力表打印pdf用图表说话 pdf 示制成能力的指标。CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))Cpk——过程能力指数CPK=Min[(USL-Mu)/3s,(Mu-LSL)/3s]USL规格上限LSL规格下限规格公差=USL--LSLCpk应用讲议Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个 工程 路基工程安全技术交底工程项目施工成本控制工程量增项单年度零星工程技术标正投影法基本原理 或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。同Cpk息息相关的两个参数：Ca,Cp.Ca:制程准确度。Cp:制程精密度。Cpk,Ca,Cp三者的关系：Cpk=(1-ICaI)*Cp,Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(。)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u).规格公差二规格上限一规格下限；规格中心值=(规格上限+规格下限)/2；8•依据公式：Ca=(X-U)/(T/2)，计算出制程准确度：Ca值9•依据公式：Cp=T/6o，计算出制程精密度：Cp值依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)，计算出制程能力指数：Cpk值Cpk的评级标准：(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk>2.0特优可考虑成本的降低A+级2.0>Cpk>1.67优应当保持之A级1.67>Cpk>1.33良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级B级1.33>Cpk>1.0一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C级1.0>Cpk>0.67差制程不良较多，必须提升其能力D级0.67>Cpk不可接受其能力太差，应考虑重新整改 设计 领导形象设计圆作业设计ao工艺污水处理厂设计附属工程施工组织设计清扫机器人结构设计 制程。PPK：Pp（PerformaneeIndiesofProcess）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能。（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限。公式中的K是定义分布中心p与公差中心M的偏离度，p与M的偏离为£=|M-u|关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。”所谓PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求$1.67；而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求$1.33；—般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制。统计过程控制SPC 培训 焊锡培训资料ppt免费下载焊接培训教程 ppt 下载特设培训下载班长管理培训下载培训时间表下载 考核试题一、概念题，请简要叙述下列术语的意义。1、UCL,LCL:上下控制限：UCL=X+ARUCL=X—AR222、SPC:StatisticalProcessControl的简称，即统计过程控制。它能科学地区分出生产过程中产品质量的偶然波动与异常波动，从而对生产过程的异常及时告警，以便采取 措施 《全国民用建筑工程设计技术措施》规划•建筑•景观全国民用建筑工程设计技术措施》规划•建筑•景观软件质量保证措施下载工地伤害及预防措施下载关于贯彻落实的具体措施 ，消除异常，恢复过程的稳定。3、USL,LSL:上下规格限，一般指标准要求。4、Cpk,Ppk:CPK：过程能力指数，指长期的。PPK:性能能力（初始能力）指数，指短期的能力。5、Xbar,R,o::Xbay:均值（一般指子组均值）；R：极差，R二MaxX—MinXii标准差，二、选择题生产部sorting50k时，用快速检测夹具检测plate和magnet高度，应该使用（B）控制图A．Xbar-RchartB.npchartC.cchartD.Xbar-schartMUB,GAP,黄斑等指的是（B）A.不良B.缺陷C.产品D.OQAreject3.IPQA每小时用高度仪检测pin的高度后，所收集的数据应该用（A）控制图。A.Xbar-RchartB.npchartC.uchartD.Xbar-schart4.以下哪个选项不属于过程的重要输入（C）A.自动粘和机B.净化室C.控制图D.操作工5.Sigma指的是（A）A.标准差C.方差C.公司标志D.极差三、正误题。TOC\o"1-5"\h\z做machinebuyoff时，Cp大于1.33，这台机器能力可以接受了。（X）只有超出USL和LSL才需要采取措施。（X）SPC意思是统计过程控制。（V）我们的子组容量都是4。（X）没有超出控制界限的点，系统不会报警。（X）四、计算题。14，15，16，17，18，19，20，21，22，23，24，25，26，27，28，29，30，31，1.做32片后得到一组数据：1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11，12，1332。请计算这组数据的Xbar，R，g。1234567891011121314151617181920212223242526272829303132Xbay=16.5R=31cr=9.382．以下是一系列数据，每组样本数为4，共计抽样10组。在空白处1）计算并补齐空格。2）请计算Xbar-Rchart,Xbar-Schart的控制界限并绘制Xbar-R图，并判定是否处于受控状态Xbar-SXbarUCL=LCL=Xbar-RXbarUCL=LCL=SampleX1X2X3X4XbarRS1686061636383.5625856655358125.1035958475254125.604625959646152.455515055566585351505383.5676252565857104.1686054616560114.559565762615962.941061535664UCLs=9.033LCLs=0Sbay=3.98UCLx=64.147UCLr=20.292UCLx=64.13647LCLx=51.153LCLr=0LCLx=51.16353D4=2.28D3=0A3=1.63B4=2.27B3=0每天抽样500件中的不良数为12，15，19，13，9，26，18，14，17，18，16，24，11，31，16，10，16，17，20，15，8，13，12，17，18，试计算控制限，并建立P-chart.np=YnpkUCLnp=np+3〈np(1-p)依照公式做LCLnp=np-3〈np(1-p)C1circularpin的高度范围是：0.0955—0.1025，做machinebuyoff得到mean=0.996,g=0.0003，试计算过程能力指数Cpk,并估计过程平均不合格率DPPM。此题错误Mean=0.996>USL=0.1025發生率（O圍分標準等級評分劃分標準[(Remote)2(VeryLow)3(Low)4(Moderate)5(Moderate)6(Moderate)7(High)8(High)9(VeryHigh)10(VeryHigh)描述幾乎不可能發生有輕度發生的可能有可能發生偶爾發生，但不佔有大的比例經常發生幾乎不可避免發生率1/1500K1/150K1/15K1/2K1/4001/801/201/81/31/2Cpk二1・67>1.50>1.33>1・17>1.00>0.83>0.67>0.51>0.33<0.33附录I推荐的带有PpK值的PFMEA频度评价准则可能性可能的失效率Ppk频度很高：失效待续发生M100/1000件<0.551050/1000件M0.559高：失效经常发生20/1000件M0.78810/1000件$0.867中等：失效偶尔发生5/1000件M0.9462/1000件$1.0051/1000件$1.104低：失效较少发生0.5/1000件$1.2030.1/1000件$1.302极低：失效不大可能发生W0.01/1000件$1.671计算范例由可能的失效率为5/1000件来确定PpK值的计算过程演示如下:缺陷率=——=0.05.1000卫竺=0.0025除以2得出高于或低于规范以外的部分.2使用“Z”表查到尾值为0.0025所对应的“Z”值为2.81.1.Z=旦丄式中,X=均值SL=规范2.PpK=min(SLupper—X,X-SLlower)30s3．用Z式替代Z2.81PpK=—=—=0.9367心0.94注:当存在有效的统计数据时,FMEA小组可用以上PpK值作为指南，为确定频度提供帮助。