音频功放测试

音频功放测试在熟悉ＬＤＯ的测试之后，相信你已经掌握了一般的直流参数测试，接下来将为你准备了一个比LDO相对有点难度的芯片测试实例，那就是我们经常接触到的音频功率放大器，本文以目前流行的音频功放LM4990为例做详细介绍，此例中既包含了直流测试，也有交流参数的测试，属于LDO的晋级篇，熟悉本例之后将对以后的大规模SOC测试有很大帮助，具体如下： 1、芯片简介 LM4990 音频功率放大器适用于移动电话、音乐播放器、DVD、笔记本电脑以及其他便携式电子产品。在5V 电源供电，输出信号的THD 小于1% 的条件下，能够向8Ω...

在熟悉ＬＤＯ的测试之后，相信你已经掌握了一般的直流参数测试，接下来将为你准备了一个比LDO相对有点难度的芯片测试实例，那就是我们经常接触到的音频功率放大器，本文以目前流行的音频功放LM4990为例做详细介绍，此例中既包含了直流测试，也有交流参数的测试，属于LDO的晋级篇，熟悉本例之后将对以后的大规模SOC测试有很大帮助，具体如下： 1、芯片简介 LM4990 音频功率放大器适用于移动电话、音乐播放器、DVD、笔记本电脑以及其他便携式电子产品。在5V 电源供电，输出信号的THD 小于1% 的条件下，能够向8Ω 负载提供1.25W 的连续功率。LM4990 的工作电源电压范围为2.2V~5.5V，可通过外部电阻来设置增益。基本应用图及功能框图如下：序号名称说明 1 SHUTDOWN 芯片关断引脚，低电平有效 2 BYPASS VDD/2引脚，推荐外接1uf电容，电容可选 3 IN+ 正差分输入引脚 4 IN- 负差分输入引脚 5 VO1 正差分输出引脚 6 VDD 电源引脚，外接1uf电容 7 GND 接地引脚 8 VO2 负差分输出引脚具体资料参考如下： LM4990芯片资料下载 2、测试参数及规范测试项目工作条件最小值最大值 Open－Short IQ SHUTDOWN= 0 V，VDD=3.6V，负载断开 -0.1uA 1uA ICC SHUTDOWN= 3.6 V，VDD=3.6V，负载断开 1mA 6mA VBYPASS SHUTDOWN= 3.6 V，VDD=3.6V，负载断开 1.66V 1.86V Vo1 SHUTDOWN= 3.6 V，VDD=3.6V，负载断开 1.66V 1.86V Vo2 SHUTDOWN= 3.6 V，VDD=3.6V，负载断开 1.66V 1.86V Voffset Vo1-Vo2 -40mV 40mV VOP-P SHUTDOWN= 3.6 V，VDD=3.6V，VSINP-P=2.0Vp-p，驱动负载 3.8V 4.2V THD SHUTDOWN= 3.6 V，VDD=3.6V，VSINP-P=2.0Vp-p，驱动负载 -100dB -50dB PO SHUTDOWN= 3.6 V，VDD=3.6V，VSINP-P=3.0Vp-p，驱动负载 0.45W 1.2W 3、测试图基于以上测试参数，本例选用eagle测试机，当然，目前市场上的V50、ASL1000、AST2000等都可以满足测试需求，后两者需要配置相关测试板卡，相比之下，eagle会更合适一些，具体见下图： - ４、测试项目说明： 1：Open－Short测试:主要测试各管脚对地及对电源的ESD保护二极管是否正常，也能检测到芯片和测试机的连接状态是否正常，所以有时也叫连接性测试。测试条件：FSS9（VDD）=0V，K1、K2、K3断开，除VDD和GND脚外，其它脚拉出100uA电流，分别测试管脚1、2、3、4、5、8的电压VShort; 测试规范：-0.8 V 0.45W 5、测试程序由于篇幅较大，在此不一一显示，请下载后参考：　LM4990＿program ６、调试难点 1、 openshort测试一般较为简单，只要连接OK，不用花太多时间进行调试。 2、 IQ测试，一定要记住要断开K1，因为K1是连接电源上的电容到地的，如果K1闭合，那么测试时就先要对电容进行充电，因为测试IQ时选择的电流量程会比较小，所以需要很长时间的充电，浪费测试时间，另外电容也存在漏电，会影响测试结果，所以测试时K1一定要断开。 3、ICC测试也比较简单，直接测试电源端电流即可，基本不存在什么问题，不过要记住这时输入端不能有信号进入，不然可能测试不稳。可直接由APU7加0V电压进行控制 4、静态输出共模电压测试，条件如同ICC测试，只不过由于BYPASS端接1UF电容，所以要等待足够长的时间才能测到比较稳定准确的电压值。 5、THD测试，主要难点在于测试板的结构，和地线的干净与否关系甚为重大，如果THD测试值太差，请务必考虑地线的布局是否合理，另外BYPASS电容最好离芯片管脚越近越好。 6、功率测试时，由于电流比较大，输出端务必使用开尔文接触进行测试，否则可以调试好，但量产时会出现种种问题。 7、测试数据 Datalog for Serial#: 207, Site #2 **** DEVICE PASSED **** Software Bin Number: 1 Hardware Bin Number: 1 TEST# RESULT UNITS LOWER UPPER TEST NAME 1 -0.5066 V -0.8 -0.2 INP 1.1 -0.5115 V -0.8 -0.2 INN 1.2 -0.515 V -0.8 -0.2 SD 1.3 -0.5043 V -0.8 -0.2 VO1 1.4 -0.5053 V -0.8 -0.2 VO2 1.5 0.502 V 0.2 0.8 BP 1.6 0.6557 V 0.2 0.8 INP 1.7 0.6606 V 0.2 0.8 INN 1.8 0.6664 V 0.2 0.8 SD 1.9 0.5884 V 0.2 0.8 VO1 1.1 0.5892 V 0.2 0.8 VO2 1.11 0.645 V 0.2 0.8 BP 2 0.0065 uA -0.1 1 Iq 3 2.3131 mA 1 6 Icc 4 1.8056 V 1.65 1.85 Vbypass 4.1 1.7655 V 1.65 1.85 Vo1 4.2 1.7698 V 1.65 1.85 Vo2 4.3 -4.2888 mV -30 30 voffset 5 4.05 V 3.8 4.2 VOp-p 5.1 -57.5724 dB -100 -50 THD 6 0.51 W 0.45 1.2 PO 对本篇文章有疑问者，可直接发送mail至ictest@ictest8.com共同讨论作者：derek sun 2008/06/11

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