smt元器件焊接强度推力测试标准

元器件焊接强度推拉力无铅工艺判定标准NO物料名称检测方式图片试验测试方法推力标准仪器（Kgf）推1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件；1CHIP0402推力力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊， 记录 混凝土 养护记录下载土方回填监理旁站记录免费下载集备记录下载集备记录下载集备记录下载 元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件；2CHIP0603推力力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件；3CHIP0805推力力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推1、消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件；4CHIP1206推力力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。1、用剪钳消除pin角边缘的塑胶材质部分；拉PIN脚拉2、选用推力计，将仪器归零，使用专用拉力测试夹具，垂5SIM卡连接（六个力直成90度向上拉起，器脚）计3、检查元器件是否拉掉是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推力（六1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件；推2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行SIM卡连接个脚）6力推力试验；器（左右方向）计3、检查元器件是否破裂，记录元器件破裂的数值；4、≥判合格。推1、消除阻碍SOT23元器件边缘的其它元器件；7SOT23推力力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推1、消除阻碍SOP5IC元器件边缘的其它元器件；8SOP5IC推力力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推1、消除阻碍SOP6IC元器件边缘的其它元器件；9SOP6IC推力力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件；10晶体推力（两2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；个脚）力3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；计4、≥判合格。推1、消除阻碍RF连接器边缘的其它元器件；11RF连接器推力（六2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；个脚）力3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；计4、≥判合格。第1页，共2页1、检查元器件是否为良品，将元器件平放于平台上；推力（两推2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行12微动开关力推力试验；个脚）计3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥判合格。推力推1、消除阻碍弹片式电池连接器元器件边缘的其它元器件；13电池连接器(两个触片/力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行两个脚)计推力试验；3、检查元器件脱焊的力，≥判合格。推力推1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；14电池连接器(两个触片/力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行三个脚）计推力试验；3、检查元器件脱焊的力，≥判合格。推力推1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；15电池连接器(三个触片/力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行五个脚)计推力试验；3、检查元器件破裂的力，≥判合格。推力推1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；16电池连接器（3PIN刀力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行片式)计推力试验；3、检查元器件破裂的力，≥判合格。推力(小)推1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；从插孔处17耳机插座力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行向后推计推力试验；备注：没3、检查元器件脱焊的力，≥判合格。推力(小)推1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；从后向插18耳机插座力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行孔处推计推力试验；备注：没3、检查元器件脱焊的力，≥判合格。推力1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。USB插座按照充电推192、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行插拔方向力推力试验；推（有定计3、检查元器件脱焊的力，≥判合格位柱）推力1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。USB插座按照充电推202、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行插拔方向力推力试验；推（无定计3、检查元器件脱焊的力，≥判合格位柱）推力推1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。21T-Flash卡座按T-Flash力2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行卡插拔方计推力试验；向推3、检查元器件脱焊的力，≥屏蔽罩无变形判合格实验的时候，必须力量施加为渐进（无冲击），并持续10S。第2页，共2页