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JBT 5000.14-98 重型机械通用技术条件 铸钢件无损探伤

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JBT 5000.14-98 重型机械通用技术条件 铸钢件无损探伤 JB/T 5000. 14-1998 前 言 本标准的附录A、附录B都是标准的附录 本标准的附录C是提示的附录。 木标准由机械工业部冶金设备标准化技术委员会提出并归口。 本标准负责起草单位:第二重型机械集团公司 本标准参加起草单位:西安重型机械研究所 本标准主要起草人:陈元良 中华人民共和国机械行业标准 重型机械通用技术条件 铸钢件无损探伤 JB/T 5000. 14-1998 The heavy mechanical general techniques and standards ...

JBT 5000.14-98 重型机械通用技术条件 铸钢件无损探伤
JB/T 5000. 14-1998 前 言 本标准的附录A、附录B都是标准的附录 本标准的附录C是提示的附录。 木标准由机械工业部冶金设备标准化技术委员会提出并归口。 本标准负责起草单位:第二重型机械集团公司 本标准参加起草单位:西安重型机械研究所 本标准主要起草人:陈元良 中华人民共和国机械行业标准 重型机械通用技术条件 铸钢件无损探伤 JB/T 5000. 14-1998 The heavy mechanical general techniques and standards Non-destructive testing of steel casting 范围 本标准规定了应用于铸钢件的超声波探伤、射线探伤、磁粉探伤、渗透探伤无损探伤方法以及相应 的质量等级。 本标准适用于厚度等于或大于30 mm的碳钢和低合金钢铸件的超声波探伤,不适用于奥氏体铸钢 等铸件的超声波探伤(本标准所用的超声波探伤方法限于A型显示脉冲反射法)、厚度为5^-300 mm 铸钢件的X射线,7射线照相、铁磁性铸钢件的表面及近表面缺陷的磁粉探伤、铸钢件表面开口缺陷的 渗透探伤 凡采用本标准规定的无损探伤检验必须在设计图样、工艺文件、订货技术协议等指导铸钢件制造的 技术文件上对采用的无损探伤方法种类、探伤标准、探伤部位、探伤深度范围(指采用超声波双晶探头对 近表面探伤时)、探伤时期、质量水平(或采用通用等级)等加以规定。 2 引用标准 下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所不版本均 为有效.所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性 GB 3721-83 磁粉探伤机 GB 4792-84 放射卫生防护基本标准 GB 5097-85 黑光源的间接评定法 GB 5618-85 线型像质计 ZB J04 003-87 控制渗透探伤材料质量的方法 ZB J04 006-87 钢铁材料磁粉探伤方法 3 应用要求 无损探伤应用原则 应用无损探伤时,必须根据对铸钢件采用无损探伤的必要性、可靠性、经济性、可行性的原则,确 定无损探伤方法种类、探伤标准及质量验收水平 3.1.2 若本标准不能满足采用者的要求时,可附加补充条文或选用其他标准,或制订专用标准。 3. 1. 3 超声波探伤、射线透照探伤主要是用于检验铸钢件的内部缺陷。但是,由于以上两种方法具有 各自的特性,采用时应充分利用其优点。磁粉探伤应用于检验铸钢件表面和近表面的缺陷,而渗透探伤 仅能发现表面开口的缺陷,因此,渗透探伤一般只应用于非铁磁性材料的表面检验(非铁磁性材料不能 被磁化) 国家机械工业局 1998-09-30批准 1998-12-01实施 JB/T 5000. 14-1998 3. 1.4 用于铸钢件最终状态(交货时)的质量评价性的无损探伤,其探伤时期,必须安排在最终热加工 之后进行;对于有延迟裂纹倾向的材料的探伤时期,必须安排在充分时效之后(这类材料的焊接部的探 伤时期必须安排在焊后24h之后)进行;同时,应用磁粉探伤或渗透探伤时还必须安排在最终机械加工 (或表面打磨)之后进行 3.2 探伤人员 3.2. 1 对铸钢件的探伤、撰写和签发检测结果 报告 软件系统测试报告下载sgs报告如何下载关于路面塌陷情况报告535n,sgs报告怎么下载竣工报告下载 的无损探伤人员,必须持有国家有关部门颁发的相 应的探伤方法种类以及相应的技术等级的无损检测人员技术资格证书。 3.2.2 无损检测人员的技术资格证书分超声彼探伤人员资格证书、射线探伤人员资格证书、磁粉探伤 人员资格证书、渗透探伤人员资格证书;各种探伤方法又分I级、II级、皿级,I级是初级,II级是中级、 m级是高级;持有II级及II级以上的技术资格探伤人员才能撰写、签发检测结果的报告。 3.2.3 从事铸钢的无损探伤人员,还应该具备丰富的铸钢材料、铸造工艺学、金属热处理、焊接工艺学 以及铸钢中缺陷等有关知识。 3.2.4 无损探伤人员除具有良好的身体素质外,视力还应该符合下列要求: a)矫正视力不得低于1.0,并且每年复查一次; b)从事射线评片人员应能辨别距离400 mm远的一组高为。. 5 mm、间距为。. 5 mm的印刷字母; c)从事磁粉探伤、渗透探伤的人员,不得有色盲、色弱。 4 超声波探伤及其质,等级 4.1 超声波探伤仪 4.1.1 应选用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其发生、接收和放大频率至少为1^-5 MHz, 4. 1.2 仪器的水平线性和垂直线性及衰减(或增益)器精度应符合有关标准的规定。 4. 1.3 仪器和探头的组合灵敏度.在达到所探铸件最大声程处的探伤灵敏时,至少应剩余10 dB的灵 敏度余量。 4.2 探头 4.2. 1纵波直探头的频率一般采用2^-2.5 MHz,晶片直径在10^-30 mm范围间,当被检铸钢件的探 伤面较粗糙时,建议进行使用有软保护膜的纵波直探头。 4.2.2建议用2-2.5 MHz,12-25 mm的纵波双晶探头,两晶片之间的声绝缘必须良好 当检测截 面小于或等于25 mm时,建议使用夹角12。的双晶探头。 4.2.3 为了缺陷的评定和定位,允许采用其他型式、频率和尺寸的探头。 4.3 试块 4.3. 1 对比试块用铸造碳钢或铸造低合金钢材料制成,其超声波特性应类似被检铸件,制作对比试块 的材料必须预先进行超声波探伤,不允许存在等于或大于丸 mm当量的内部缺陷(双晶探头用的对比 试块不允许存在等于或大于自mm当量内部缺陷)。对比试块的侧面要标明试块的名称、编号、材质、 透声性 4.3.2 4. 3.3 平底孔试块用于按4. 7.2调整探伤仪确定探伤灵敏度 供纵波直探头用的对比试块规格见图1,其尺寸见表1。当被检测的铸钢件的厚度大于250 mm 时,要制作最大探测距离等于铸件厚度的试块来补充。 JB/TSOQO.14一1998 其余邻 丸士0_5 B士n_5 夕10.O3lA 头摆半 图 1 表 1 二墨岂亡 纵波直探头用对比试块图 纵波直探头用的对比试块尺寸 rllnl 编号 一 .总长 L 探测距离B 试块直径 平底孔直径d CS子1 45 25 5O 6 CSZ~2 70 50 5O CSZ一3 95 75 50 CSZ4 170 150 75 〔名2一5 270 250 100 〔写26 B+20 B 125 4.3.4 供纵波双晶探头用的对比试块见图2,其尺寸见表2。 :5·。几 厂一 门、、,,八、、洲L,、丫 一甲 甲 甲 一甲 甲 甲 一甲 甲 「爱, 250士0.5 9 ? 由 只 ???? ?? ? ??? ? ? ? ? , ? ? ? ?? 1 法 9遗鹿云后奋 1卫澎1;19 gX叻3士0.05 一任兀角百「叹 夕}0.03lA gX必3 沪0.1 豁黔 图2 纵波双晶探头用对比试块图 135 JB/T 5000. 14-1998 表 2 ,个平底孔的探测距离1明细表 序号 。1 5 25 6 } — 一一十 、?? ? ? ? ? ? ???????? 。? ? ?????? ? ?????? ? ? ?? 4.4 祸合齐弓 m合AN应具有良好的透声性、润湿性、不锈蚀成品及声阻抗合适的物质,通常可选用机油、机油与黄 甘油混合剂、浆糊或水作荆合剂;在调整仪器、校核仪器和探伤时必须使用相同的藕合剂。 4.5 对铸钢件的要求 4.5. 1 在超声波探伤之前,铸钢件应至少进行一次奥氏体化热处理。 4.5.2 最终评价性超声波探伤的探伤时期,应安排在最终热处理和粗加工之后进行 4.5.3 铸件应安排在外观检查合格后进行超声探伤,铸件的探伤面及底面没有影响超声波探伤的异 物,已加_I_的表面应达到Xa6. 3 km,未加工的表面需打磨平滑。 4.5.4 妨碍超声波探伤的机械加工工序应安排在超声波探伤之后进行 4.6 铸钢件可探性的判断 探伤前必须进行可探性判断,符合要求后才能进行探伤检验,先将仪器“抑制’,旋钮置于零位,使用 频率2-2.SMHz中任一频率的纵波直探头.对铸钢件的最大探测距离处(最厚处)或反射杂波最多处, 进行探测;若此时的噪声信号反射幅度比选定为纵波同声程探伤灵敏度的反射回波低sdB以上时,则 该铸件适合超声波探伤(即可探性符合要求)。 如果不能满足上述要求,可降低探伤频率至1 MHz再按上述方法测试.若此时满足上述要求的话, 可以采用这种频率探伤,但这时必须在探伤报告中加以说明。 如果降低频率测试的结果仍不能满足超声波可探性的要求,则应采用热处理的方法来改善铸件透 声性,并在满足超声探伤的可探性要求后才能进行超声波探伤。 4.7 仪器调整 4.7.1 水平扫描线调整 将仪器中的“抑制”旋钮置于零位,利用试块,将即将探测的铸钢件最大探测距离取一定的比值调整 在水平扫描线上 4. 7. 2 纵波直探头一般级探伤灵敏度的仪器调整 利用本标准规定的一组九 mm的平底孔试块(试块厚度包括被测件最大厚度),作郊 mn。的“距离- 振幅”曲线 这就是探伤时判断缺陷大小的灵敏度曲线。曲线可以画在坐标纸_L,也可以直接画在仪器 的示波屏上,在示波屏上标记“距离一振幅”曲线时,若被检铸件厚度内的超声波衰减超过了显示系统的 动态范围,则可以将曲线分段标记。 4.7.3 纵波直探头特级探伤灵敏度的仪器调整 先按4. 7.2的方法制作此 mm的“跟离一振幅”曲线,在探伤时将灵敏度提高12 dB的增益值后使 用。此时的丸mm-12 dB的。距离一振幅”曲线,相当于翻mm的’‘距离一振幅”曲线 4.7.4 纵波双晶探头探伤灵敏度的仪器调整 先将仪器的衰减器(或增益器)预留的储备量不得小于表面粗糙度补偿量。再测试本标准规定的一 组弗 mm平底孔双晶探头用对比试块;调整仪器,使其中反射波最高的平底孔回波幅度达到仪器荧光 屏满刻度的80 ,在此情况下不改变仪器任何参数对距离不同的平底孔逐一测试,制作近距离的 匀 mm"距离一振幅”曲线。 4.7.5 表面粗糙度及材质影响的补偿 当工件探伤面比对比试块的探伤表面粗糙时,当工件内部的透声性比试块内部的透声性差时,或以 上两者都存在时,应对探伤灵敏度进行声能损失补偿 JB/T 5000.14-1998 声能损失的测量也可用下面的方法:首先在铸件上选择一处或数处内部材质及表面粗糙度基本上 能代表其他部位,同时探测面基本平行于底面的部位为测量点.然后选择一块厚度同测量点处的铸件厚 度基本一致的试块,调节仪器的衰减器,使测量点的底面反射波高(或平均波高)同试块的底面反波高一 致时,读出这两种底面面反射波的分贝差值,这个差值就是因表面粗糙和内部透声性所造成的声能 损失 4.7.6 当仪器调整后,在制作和使用“距离一振幅”曲线时,除仪器上衰减器(或分度增益控制器)外,仪 器上其他所有装置(旋钮)和使用的探头均不得改变 4.8 探伤方法、部位和灵敏度 4.8. 1 探伤方法 铸钢件超声波探伤一般以纵波垂直反射法为主,必要时探伤人员可采用其他型式的探头作为辅助 检测。 4.8.2 按订货技术文件或图样上规定的探伤部位、范围和检验深度及相应的探头进行检验 4.8.3 探伤灵敏度 按订货技术文件或图样上规定的探伤灵敏度等级调整仪器和探伤 4.8.3. 1 一般级 指纵波直探头时用粥m。平底孔作为探伤灵敏度。 4.8.3.2 特级 指纵波直探头时用比06 mm平底孔探伤灵敏度12 dB的灵敏度作为探伤灵敏度(即 $6 mm-12 dB) 4.8.3.3 纵波直探头探伤时,未注明探伤灵敏度等级的按一般级探伤灵敏度探伤 4.8.3.4 双晶探头的探伤灵敏度一般为归mm平底孔 4.9 扫查要求与缺陷的测定 4,9., 探头的移动 为了使缺陷不漏检,探头移动速度不得大于150 mm/s,每次扫查至少要叠压换能器直径(或宽度) 的15% 因铸件儿何形状的限制而扫查不到的部位、必须在探伤报告中注明 4.9.2 缺陷的标定 4.9.2. 1 因凡缺陷的反射波高度连续达到或超过图样或技术文件规定的探伤灵敏度等级的“距离 振 幅”曲线的缺陷.必须按此“距离一振幅”曲线的灵敏度划缺陷反射面积(反射范围) 4.9.2.2 凡因缺陷而引起的底波连续降低了12 dB或]12 dB以上时 也必须按底波降低12 dB值划缺 陷区反射的面积 4.9.2.3 缺陷区反射面积的划分:当缺陷反射出现上述4. 9. 2. 1,4. 9. 2. 2的情况时.移动探头,使缺陷 波高等于探伤灵敏等级的“距离一振幅”曲线时、或因缺陷而引起的底波降低了12 dB时的探头晶片中心 点的轨迹包围的范围,就是缺陷区反射面积。 4.9.2.4 缺陷区面积大小的计算,是以缺陷反射范围中最大尺寸和与其垂直方向的最大尺寸的乘积 当缺陷区边缘的间距小于25 mm时的两个或两个以卜的缺陷区,在计算面积时把它们当作一个大缺陷 区对待,其总面积等于各相邻缺陷区面积的总和。 4.9.2.5 由于探测距离〔深度)很长,或探伤表面弯曲.在铸件表面所划出的缺陷面积,可能同缺陷实际 大小反射面积有较大的差别,这时应采用声束扩散图形加以综合考虑,进行修正,以较实际地反映缺陷 大小 4. 9. 2. 6 当对铸件的探测面同底面平行的区域进行纵波检验时.要慎重检验底波降低12 d1i及 12 dB 以仁且无缺陷反射波的区域,以确认是否由于探头接触不良、藕合剂不足或缺陷方向不利于超声波的反 射引起的。如果反射回波损失的理由不明,就应该加以重视,并应进一步加以研究探讨(如提高探伤灵 敏度或改变探伤频率探测,或者采用其他可行的无损探伤方法);若仍不能出结论,则由供需双方协商或 请有关部门处理 4.9.2.7 双晶探头所发现的缺陷的标定,根据各图样或有关技术文件规定的探伤灵敏度,参照以上方 JB/T 5000. 14-1998 法来处理 4.9.3 探伤灵敏度的核查 探伤时应定期核查探伤灵敏度,探伤工作结束时,也应核查探伤灵敏度,当发现灵敏度改变时,需重 新校正,并对前次核查以来完成的探伤工作重新进行探伤 4.10 验收质量等级 4. 10. 1铸钢件超声波探伤的验收等级的选择确定,应从铸件的使用条件、大小形状、材料、缺陷的情况 及分布,并考虑到铸钢件生产的具体情况。验收等级应在有关技术文件或图样上规定 4. 10.2 铸钢件超声波质量验收等级分类见表3(不包括双探头所发现的缺陷) 表 3 缺陷等级的分类 质量等级 缺陷面积 mmZ 允许缺陷最大长度 m m 7 484 40 2 l 900 一 60 3 1 936 80 4 3 025 100 5 4 900 120 6 7 744 150 7 10 000 180 4. 10.3 双晶纵波探头发现缺陷的允许值(双晶纵波探头发现的缺陷允许值一般不是以缺陷面积大小 来衡量)是以缺陷的反射当量大小来衡量探伤所发现缺陷的允许值,(其数值)由设计部门、供需双方另 行规定 4. 10.4 设计人员提出的或供需双方同意的其他验收标准 4. 11 探伤报告 探伤报告应包括下列内容。 4. 11. 1 委托探伤的单位、探伤面报告编号、铸钢件名称、生产编号、炉号、图号、材质、热处理状态,探伤 的状态、探伤标准。 4. 11.2 使用仪器、探头、频率、祸合剂,纵波直探头灵敏度。 4. 11.3 在铸件草图上标明检测区域、使用探头、可探性,如果有几何形状限制而未检测的部位,也必须 在草图L标明 4. 11.4 缺陷的尺寸、位置等其他应该说明的情况 4. 11.5 评定的质量等级及探伤结论。 4. 11.6 探伤人员签名、签发报告人签名、报告日期 4. 12 铸钢件经供需双方同意的按附录A(标准的附录)补充要求做横波检验的部位及需检验层的范围 和验收标准。 5 射线透照探伤及其质t等级 5.1 安全防护 5.1.1 X射线和Y射线对人体有不良影响,应尽量避免射线的直接照射和散射线的影响 5. 1.2 应按照G13 4792--84中第2章的要求,对探伤人员进行射线剂量监督。 5.1.3 探伤人员应备有剂量笔、剂量仪或其他剂量测试装置,在进行Y射线探伤时每次都应测定工作 场所和Y射线源容器附近的射线剂量,以便了解射线源位置 免受意外照射 5. 1.4 在透照现场设置安全线,在安全线上应有明显警告标志,夜间应设红灯。 JB/T 5000.14-1998 5.2 对铸钢件的要求 5.2.飞 对表面的要求 表面必须清理干净,经外观检查合格后才能进行射线探伤;尤其是表面不规则状态在底片上的图像 应不掩盖铸钢件中的缺陷或不与缺陷相混淆;否则必须进行修理 52.2 标记 透照部位、底片放置位置的表面应有永久性或半永久性标记;并且这些标记应与透照底片L定位标 记有严密的相对应关系;作为对每张射线底片重新定位的依据。不适合打印标记时,应采用透照部位详 细草图或其他可靠标记方法。修后重新透照的底片应在底片上加上返修标记“R"(铅字)。 5.3 探伤条件的确定 5.3. 1 射线照相灵敏度 5. 3. 1. 1 射线照相灵敏度用下式表示: K_二X 100 式中:K-一以分数表示的射线照相灵敏度,%; d— 射线照相底片可辨认到的最细钢线直径,mm; t— 铸钢件被透照处的厚度,mm 5.3. 1.2 射线照相灵敏度分为A级(普通灵敏度级)和B级(高灵敏度级): A级射线照相灵敏度K, 2.0%; B级射线照相灵敏度KB成1.5% 但透照厚度小于10 mm时,底片上必须读出直径为。. 2 mm的像质计钢线 5.3.2 射线源的选择 X射线管电压的选择按图3,其他射线源可根据透照厚度和灵敏度级别按表4选择 ??????? ??? ??? ??? ??? ? ????????? ? ? ? ? 6 6 8 10 20 透照厚度 30 40 60 80 100 150 图3 管电压与透照厚度关系 表4 不同透照厚度范围的射线源 B级适用厚度范围 射 线 源 A级适用厚度范围 口〕1n is=1r 阳CO ??? ? ?1一2MVX射线 李ZMVX射线 20- 100 40--2001' 50--.200 40 90 60- 150 60- 150 址 50 1)透照度范围为40^ 60 mm时,必须采用0.4-0. 7厚的钢(或合金钢)或铜制的前屏及后屏 JB/T 5000. 14-1998 5.3.3 胶片的选择 5.3. 3. 1 胶片数量:当满足规定的像质计和黑度要求时,允许将两张或多张感光速度相同或不同的胶 片放在同一暗盒内;不过,在两张胶片之间不得使用中间屏 5.3.3.2 胶片种类:在适当曝光时间内应根据铸钢件厚度、照相灵敏度和增感方式选择胶片种类, A级方法应使用3型或者粒度更小的胶片;B级方法应使用2型或I型胶片。胶片类型的选择见表50 表5 射线胶片的分类 感 光 速 度??????胶 片 类 型 超微粒胶片 很慢 微粒胶片 慢 中等颗粒的胶片 较大颗粒的胶片 中等速度 快速 5.3.4 增感屏的选择 本标准中应使用金属和金属荧光增感屏。金属屏的厚度可按表6选择。 表6 金属屏厚度的选择 篇一)\\} A级 B级 <400 kV 0,02-0 . 25 mm京丁、后屏为铅增感屏 'sa 1r 0.05--0.25 mm前、后屏为铅增感屏 阴Ca 0.1一。. 5 mm前、后屏为铅、,或,增感屏一。.4--0.7 mm前、后屏为,或铜增感屏 1一 2 MV 0. 1--1. 0 mm前、后屏为铅增感屏 2一6MV 1.0^-1.5 mm前、后屏为铜或俐增感屏 6一 12 MV 前屏厚度为1.。一1. 5 mm,后屏厚度小于1. S mm,增感屏材料可用铜、钢或袒 >12 MV 1,。~1,5二m前屏为担或钨增感屏,后屏不用 注 表中钢质增感屏的材料也可用合金钢制造。loo kV以下射线源 可不用前屏 5.3.5 像质计 像质计是用来检查透照技术和胶片处理的质量 应根据铸钢件厚度、探伤灵敏度等按GB 5618选 用,当工件用一个或多个暗盒同时进行曝光时,在每张底片上至少要有一个像质计的影像出现 5.4 探伤操作技术 5.4.1 透照方向的选择 若无其他要求,透照方向应以铸钢件最小厚度的方向。透照时射线束应指向被检部位的中心,并在 该点与被检区平面或曲面的切线垂直。但是,如果认为必要,可以从有利于发现缺陷的其他方向进行透 照。或在不可能从以铸钢件最小厚度的方向透照时,也可采用其他方向透照 5. 4.2 铸钢件透照方向的透照厚度的确定 透照厚度是指实际的透照厚度.当厚度实测不可能时,可采用制图方法来确定 5. 4.3 透)M的布置 5.4.3. 1 射线源、像质计、铸钢件及胶片的透照位置按图4布置 JB/T 5000. 14-1998 射线源 工件 一 胶片 图4 透照位置布置图 5.4.3.2 每张底片_r应有像质计图像。如透照厚度变化较大 可在1_件厚的部位和薄的部位各放一个 像质计。如采用3600周向曝光法.则可在每个象限的工件上各放置一个像质计。 5.4.3.3 像质计必须放在铸件的射线源一侧 当不可能时.才可放在铸件的胶片一侧,并用"r”字给 予标记。但必须通过对比试验,使实际灵敏度达到3. 3.1的规定 5,4.4 焦距的确定 确定射线源到工件的最小距离(.f),加上工件透照厚度(t)即为所需的焦距 r值可按附录以标准 的附录)中的任意一种方法确定 5.4.5 散射线的屏蔽 5.4.5. 1 为了提高射线照相灵敏度,可采用如下几种方法屏蔽散射线: a)在射线源的窗口加铅罩和滤光板; b)工件非透照部位用厚铅板屏蔽; c)暗盒后边垫大于2 mm厚铅板屏蔽; d)透照工作台用6 mm厚铅板覆盖; c)用铅丸、铁豆砂和补偿液屏蔽。 5.4.52 为测定胶片背散射线的影响,可在暗盒后贴B形铅f 胶片显vl;后不应呈现B形字图像 5.4.6 曝光 5.4.6. 1 应根据设备、胶片、增感屏和其他具体条件制作或选用合适的曝光曲线,并以此确定曝光 规范。 5.4.6.2 为保证达到规定的底片黑度,一定要确定合适的曝光量,防止用短焦距和高压所引起的不良 影响 5.4.7 胶片暗室处理及对底片的要求 5.4.7. 1 胶片应按胶片厂推荐的配方进行暗室处理。为了保证底片的质量应采用自动冲片机冲洗或 槽式显影法、并遵照通过试验制定的有效的暗室处理操作规程进行底片暗室处理。 5.4.7.2 胶片照相灵敏度必须满足5. 3.1的规定。工件上必须有永久性的或半永久性的铸件部位号 和定位标记 底片上的部位号必须和铸件上部位号一致,铸件卜的定位标记处,应放铅质的定位标记. 此标记必须在底片上呈像,以便核对缺陷位置 .JB/T 5000. 14-1998 5.4.7.3 底片上没有缺陷部位的黑度应满足表7的规定,表7规定的黑度范围即有效的评片范围。采 用双胶片曝光技术和厚度补偿技术时.可扩大底片上黑度有效的评片范围 5.4.7.4 底片上不允许存在妨碍底片评级的伤痕和斑点等缺陷 当采用多张胶片时,不允许在两张底 片上相同的位置处出现相同的损伤 表 7 底片的黑度范围 ? ? ????????? 0~义 为 、 性 与 5.4.8 5.4.8 的规定口 大小。 底片的观察 观片灯:底片黑度较大时,应选用合适亮度的观片灯观察 观片灯的亮度应可调,并满足表8 观片灯的观察屏面七应设有大于可调的屏蔽窗口 使用时可根据底片观察面积来调整窗口 表8 观片灯的亮度 底片黑度 观片灯亮度 1. 0 300 1.:> 7 000 2 0 T一 3 000 一 2. 5 10 000 3.0 石______ 3 5 1 一 { 3(〕()。‘) ) _ _ __ _ _ __ _ 4.0 100 Goo 一 __ __ ____ _ ___ 往:底片黑度小于或等于2.时,透照底片照明亮度应小于30 cd/m2,底片黑度小于或等于3时.透照底片照明 亮度应小于10 cd/to` 5.4.8.2 评片环境:应在专用评片室内进行 评片室内的光线应暗淡,但不全暗,室内的照明用光不得 在底片表面产生反射 5.5 射线照相底片等级分类方法 5.5. 1 底片上铸造缺陷分类和测定方法 5.5. 1. 1 缺陷的类别:分成气孔、夹砂和夹渣、缩孔类(包括缩孔和缩松)、内冷铁未熔合和泥芯撑未熔 合、热裂纹和冷裂纹等五类 5.5.1.2 缺陷尺寸的测定:按底片上缺陷呈像的大小来测定缺陷的尺寸,对缩孔类缺陷只测定每个缺 陷的明显部分的尺寸,不包括周围模糊阴影部分的尺寸,当两个以上缺陷在底片上部分重叠时,应分别 测定各自的尺寸 5.5.2 底片L各类铸造缺陷的分级方法 5.5.2. 1 气孔、夹砂和夹渣类缺陷的等级:评片时在底片上以缺陷点数最多的区域选定评定视野 评 定视野的大小根据透照厚度分别按表H和表招决定 a)单个缺陷的点数,应根据缺陷大小,按表9查出点数,但小于表10规定的缺陷可不计算缺陷 点数; b)两个以_[缺陷的点数是评定视野内缺陷点数的总和; c)缺陷如在评定视野界线上,在计算点数时也应包括缺陷在线外的部分; JB/T5O00.14一1998 表9 缺陷尺寸和缺陷点数的换算 缺陷尺寸 n飞In 簇20 )20一生.0 一 二‘竺“一仁)竺8兰 3 1 5 一 )90一10.0 8缺陷点数 l 个 缺陷尺寸 rrllfl > 10,0~飞5.0 「一--一 --一 >15.0一20.0 -一一--一一es )2。‘。’一25‘。一 } {)练。一肋。} 一 一>3。。一6。。 ,(夕缺陷点。一习 l2 l6 2O } 一 表 10 不计点数的缺陷最大尺寸 照厚度 >10~20 ) 20~ 40 ) 40~ 吕0 )80~ 120 !》 120一200})200产~300 适用范围 1级 蕊10 0.生 2级以下 0.7 土一曰 }2.。 一 d)气孔、夹砂和夹渣类缺陷的等级,应根据缺陷点数的总和,分别按表11和表13评定;但1级所允 许的最大气孔、夹砂和夹渣尺寸分别不得超过表12和表14的规定。 5.5.2.2 缩孔类缺陷的等级分类方法 a)缩孔类缺陷的等级分类时,首先在底片上选取缩孔长度、面积的最大部位为评定视野 评定视 野的大小应根据透照厚度按表16决定 b)缩孔类缺陷根据形状可分成条状缩孔、树枝缩孔和大面积缩松 c)条状缩孔缺陷长度的计算:一个条状缩孔是以缩孔的最大长度为缺陷长度;两个以仁条状缩孔 是以各个缩孔长度之和为缺陷长度。当缩孔正处在评定视野边界卜时,也应包括缺陷在线外的部分 但 长度小于表 15中规定的缩孔可不计算缺陷长度。 表11 气孔在不同等级中允许的最大点数值 夕 续10 ) 10一 20 >20~40 >40一80 > 80一 120 > 120~200 )200一30020 30 50 50 7O 7() 100 l41 3以下 4 6 8 lO 12 2 4 一 6 一 尸 } ? 11 。一几? 一- 22?l 厂 瓦-- {一 丽一 } 6。 3 6 一 9 } 15 一 一一卞 一一 — 24 28 一 一 32 ?一 4 一? ?I9 l4 22 32 一 一 一丽一〕一 42 一 5 一 l4 21 32 42 49 56 6 表 12 1级所允许的最大气孔尺寸 透照厚度 蕊10 > 10~20 > 20~ 40 >40~80 >80~120 >120一2001一、2。。一“〔)。 气孔最大尺寸 3 O 只.0 4.0 5.e 7 0 9.0 10,〔) JBZT 5000。14一 1998 表13 夹砂和夹渣在不同等级中允许的最大点数值 产瓦厂“鹭 一-一妙mlll 等级 --~一__ 一 一 抓10 { }、。一:。 )20一过0 1)瓜0一8。 二》80一1艺0 ),2。一2。。」 { > 200一 300 一r ~ 一 一 一 十一 一 — — — — — 一 1 30 } {一厂- 一 一 5O 一 一 7O 100 l 5以 下 卜一 一 一 一一 一一 8 i2 1‘ 1 助 24 28 2 一 7 一 一 l l 一 l 片 一节奚一卞一2。一{盯一丽一 42 3 一一 es一一 es } { l6 23 29 36 斗门 〕 55 李 14 23 1一 朋 ,名8 — — -一 一 布 一 一 一一 一一 4石 1 54 一 { 9O5 2l }一石一{{ {7。- 6 缺陷点数超过5级者;缺陷尺寸超过壁厚 ?表〕4 1级所允许夹砂和夹渣的最大尺寸 透照厚度 成10 >10~」20 >2。一‘。‘>40一8o1)8。一,:。一,)120一2汉) >200,~300 夹砂和夹法的 最大尺寸 6 O 6.0 。.。 { } 一 一」。。114‘ 18.0 20_0 表15 缩孔类缺陷可不计算缺陷长度和面积的最大值 磊嚣星场 、、。{>1。一2。} } >20一40 一 )4。-8。一>8一 ) 12〔)一200l 1级 条状 . 一 mm 一 树枝状 nlm艺 2级 一 以下一 一 } 1 条状 m 爪 5,0 r一一-一 一一 一 树枝状 fll】11‘ 一 40----一 表 16 条状缩孔在不同等级中允许缺陷的最大长度 nlnl 露弋犷鳖 薄尸丫__ (10 > 10,~20 )20~通0 )40一80 >80~120 士》工20~ 200 >2。臼一300 50 ? ?一 一 一 — 一 一 一籐一一 衬 腳 _ _ _ .一 — — 一 一 一 7O 100 l 12以下 1万一阳 一 --一一一 一 一— 一— 5自 一一一一 一 2 一 一 1 一一 一一 一一一一 一 } 23 一 一 l 36 1 } — 一 一 一 一 月 63 1 一 川O ?? ?,120 3 45 一{ 63 11。 } ‘心5 { ll 一 一 4 75 — 一 — — ,一 一 — 咬 100 ? -— —, 160 180 200 5 一 145 230 250 270 6 l 书乏度超过5级者 d)树枝状缩孔面积的计算:一个树枝状缩孔的缺陷面积是以缺陷的最大长度和与它正交的最大宽 度相乘的积为缩孔的缺陷面积。两个以L树枝状缩孔是以各个面积之和为缺陷面积 当缩孔正处在评 定视野边界线上,在计算面积时,也应包括缺陷在线外的部分 144 JB/T 5000. 14-1998 e)当评定视野内同时存在树枝状缩孔和条状缩孔时,其缺陷面积计算也应把条状缩孔当作树枝状 缩孔来计算 其长是条状缩孔之长,其宽度是长度的三分之一 f)大面积缩松缺陷面积的计算:缺陷面积是以缺陷的最大长度和与它正交的最大宽度相乘的积. 为大面积缩松的缺陷面积 g)缩孔类缺陷的等级,应根据缺陷长度或面积的总和来进行评定 条状缩孔根据长度的总和,按表16评定 树枝状缩孔根据缺陷面积的总和.按表竹评定。 大面积缩松根据缺陷面积的总和,按表17中括号内的数值评定。当铸件厚度大于40 mm时,用射 线照相不易发现此级缺陷。 表” 树枝状缩孔在不同等级中允许缺陷的最大面积 mm` 户牛一一一 。{)72。一200{>20。一300 _上___ _一 __ __ 下、00一。00600卜 一 一 一 —一 10(〕 I 250(1000) 1600(1 600) r--8-00 7 1 一 ;5。、:。。。) 9。。(3。。。)1-一 万350 6 Z 000 3 6〔)0 5000 I 800(3 000) 一!1650(5 000)— — — 一 2 700 寸 3 000 4 1600(6 000) 2 700(9 000) 1 8 000I— — — 一一一 刁 一 } 一 6 300(16 000) 6 5.5.2.3 底片上呈现冷铁完全未熔合和泥芯撑完全未溶合性质的缺陷时应定为6级 5.5.2.4 底片上呈现热裂纹和冷裂纹时应定为6级 5.5.3 缺陷的综合评级 5.5.3. 1 在评定视野内。同时存在两类以L缺陷时的综合评定方法,应按缺陷种类分别进行等级评定 以最低等级定为综合评定等级。 5.5.3.2 在评定视野内,同时存在两个以上相同等级缺陷时,其缺陷点数、长度和面积超过i亥级规定的 中间值时,其综合评定等级应降低一级。但已定6级者综合评定等级仍为6级 5.5. 3.3 在1级要求的底片上,其评定视野内出现气孔或夹砂和夹渣性质的缺陷,其单个缺陷大小已 超过表12或表14的规定.但其点数总值又不超过1级规定的数值,在此情况下如在此评定视野内出现 其他类似一种定为2级缺陷,则综合评定的等级仍为2级 5.6 探伤记录 射线透照时要做如下记录 5.6. 1 5.6.2 5.6.3 5.6.4 5.6.5 铸钢件名称、订货号、图号、炉号、件号(序号)、材料、厚度 探伤仪器名称、焦点、焦距 探伤灵敏度和底片的黑度 、管电压、管电流及曝光时间、射源种类和强度 胶片的种类,增感方式,显影、定影条件。 等级分类的结果 5.6.6 探伤编号及日期,探伤者签名,评片者签名 5.7 探伤报告 按照探伤委托单位要求,根据探伤记录撰写探伤报告 6 磁粉探伤及其质f等级 6. 1 对探伤件的要求 JB/T50D0.14一1998 6.1.1磁粉探伤之前,应清除检验区域表面的油脂、砂泥、粘砂、氧化皮层、油漆和其他干扰磁粉探伤操 作和磁痕显示及辨别的物质。 6.1.2 铸钢件表面可以通过喷丸、喷砂、打磨或机械加工,达到相应的表面粗糙度。表18列出了各质 量等级要求的表面粗糙度R的最大值 表18 铸钢件磁粉探伤的质量等级 质量等级 一 01 1 一 l { 2 3 一 一l 4L O 表面粗糙度R,最大值 产In 3.2 { 12_5 一 25 一 一 } 1 50 { } 100 一 「 不考虑的缺陷最大尺寸 IT】tD 0_5 一 一 1.5 } 一 2 一 3 一 一 1。 {一一 5 非线性 缺陷 最大长度 1llnl 一 一 一 一 一 } } { 4 一 一 6 一 一 一 l 「 10 一 一 一 一 一 一 }一蔺丙矗芜蔽面蔽一 或缺陷数 个 ??一 — — — — —猠s 一 一 10个 一 一 一 110,nl了1· { 1 35rnT艺1泞 { 一 7om时 一一20“mm’一 一 1500nlm’ 一 线性缺 陷和点线 性缺陷的 最 大 长 度、总 长 度 丁刀Tll 铸 钢 件 厚度范围 占 n乃,n 线性或 .点线性 一 总一 长 l 一 }线 性 }点 线 性 翩 一长 [一 一线 性 点 线 性 总 长 线 性 点 线 性 总 长 { 「万下了 1线 1 _ 一 .}软 , 1性 } 1 {性 l {总 }长 r一一 }线 }性 l {一万 {线 {性 总 长 一 」 成 16 l 2 2一一6 」 6 lO 6 1O l6 10几矛{:8[8几5}、3 二卜卫6~50 l 飞 3洲阵-9 6 l2 l8 g l8 27 l8 27{451州{40{“7片 一 一 一 一 — 一 一 一 >50 一 2 4 }犷{1。「,510 20 3O 15 30 45 30 45}75}阵下呀J爪百 1立用 范 围 1航空或航一 天用铸钢一 件、精密铸. 造铸钢件、 特殊用途铸 钢件 } } { 其他铸钢件,根据使用状况和表面粗糙度状况选择质量等级 6.1.3 为增强磁痕与表面的反差,允许在检验区域涂布反差增强剂。 6.飞.4 于法检验时,铸钢件探伤表面应是于燥的 6.2 探伤器材 6.2,,磁粉探伤设备应符合GH3721的规定。允许按被检验铸钢件的形状、尺寸,选择适用的磁化 设备 6.2.2 荧光磁粉探伤时,黑光灯的紫外线波长应为32。一400 nm,距黑光灯滤光板400 mm处的黑光 辐射照度应不低于8。。肛W/cm之。 6.2.3 为保证设备的可靠性,应进行下列校验: a)电流表在正常情况下,至少半年校验一次;磁化电流值相对于额定值的改变不得大于]0%。 句 当电磁扼极间距为200 mm时,交流电磁扼至少应有44N的提升力;直流电磁扼至少应有 177N的提升力 c)黑光灯的照度应按GB/TSo97的要求,每年进行一次测定 6.2.4 为了保证磁粉探伤工作正常进行,最好备有下列辅助设备: a)磁场强度计; b) A型试片、磁场指示器勺又角试片); JB/T 5000. 14- 1998 c)磁悬液浓度测定管; d) 2一10倍放大镜; e)光照度计; f)紫外线强度计 6.2.5 磁粉 a)磁粉应具有高导磁率和低剩磁性质,且磁粉之间不应相互吸引; b)各类磁粉应具有下列磁性称量:干法和湿法用磁粉应大于7 g;荧光磁粉应大于4 g; c)各类磁粉应具有一定的粒度:干法用磁粉的粒度应在300---80 pm;湿法用磁粉的粒度不大于 80 um;荧光磁粉的粒度不大于50 gm; d)磁粉的颜色与被探铸钢件表面颜色应有较高的对比度; c)磁粉应在阴凉干燥处保存,不得有结块、变质现象发生 使用前磁粉的性能应进行鉴定: 6.2.6 磁悬液 6.2.6. 1 磁悬液的载液可用水剂、无味煤油或煤油与变压器油的混合物。载液不得与磁粉发生化学作 用而降低磁粉的使用性能,载液应具有防锈、润湿、消泡的能力,并对人体无毒害、挥发性低、闪点高的 特性。 6.2.6.2 磁悬液的磁粉与载液的体积比为:荧光磁粉磁悬液0. 1%一。.3写:普通磁粉磁悬液1.3%^ 3.0%。 6.2.6.3 磁粉检验时,应经搅拌使磁粉在载液中均匀悬浮 6.2.6.4 循环使用的磁悬液使用中磁粉浓度降低时.应及时补充适量的磁粉 62.6.5 凡下列情况之一者,应更换磁悬液: a)磁悬液因混人泥砂、污物、纤维等.妨碍探伤操作和观察鉴别缺陷: b)长期搁置,磁粉结块; c)荧光磁粉磁悬液中,荧光磁粉的发光强度明显降低或载液发生荧光; d) 6.2.7 6.2. 7. 1 6.2.7.2 水磁悬液中混人油脂被污染。 标准试片 磁粉探伤使用的A型标准试片的材料、尺寸应符合ZB J04 006的规定 A型标准试片有三种规格:A-60/100,A-30门00,A-15/100,其灵敏度依次增高 各检验区域 所用标准试片的规格由供需双方商定。 6.2.7.3 使用A型标准试片时,先用两片胶纸贴在试片边缘,但不得贴住背面有人工槽的部位 再把 试片上有人工槽的一侧与探伤面紧贴到一起。最后,按选择的磁化方法和显示方法进行检验 如果在 定向磁化的整个有效检验范围内,试片上显示的磁痕总长均达到人工槽圆周长度的75%以卜,则认为 满足该试片上反映灵敏度要求。采用综合磁化法、旋转磁场磁化法检验时,试片上应能显示整个人工槽 圆周的磁痕 6.2.7.4 6.2.7.5 标准试片使用完毕,应用绒布或脱脂棉擦净,晾干后置于干燥处保存 经对比试验证明与A型试片等效的其他类型试片或试块,允许用于磁粉探伤灵敏度监测 6.3 探伤方法 6.3. 1 磁化 常用磁化方法有:通电法、穿棒法、支杆法、磁扼法、线圈法、感应电流法、综合磁化法、旋转磁场磁 化法。 6.3.1.1 考虑铸钢件的形状、最易发生缺陷的方向、仪器设备条件等,选用合适的磁化方法 6.3. 1.2 连续法显示时,不论用哪种磁化方法,都必须使用标准试片试验,达到要求的灵敏度后,力可 进行铸钢件的检验 6.3.1.3 除综合磁化法和旋转磁场法外,一般应在相互垂直的两个方向施加磁场。采用支杆法、磁扼 JB/T5D00.14一1998 法分段磁化时,可用对角线法确定其有效检验范围。采用支杆法时,电极间距控制在75~200 mm之 间。通电时问不应太长,电极与工件之间的接触应保持良好 以免烧伤工件。 如供需双方商定只在一个方向磁化和检验,则只在规定的方向施加磁场 采用支杆法、磁扼法分段 磁化时,可用双矩形确定其有效检验范围。 对角线法和双矩形法的有效检验范围见图5 ,》对角线法(正方形法) b)双矩形法 L、11一第 一次、第二次磁化的接触点;C火C 有效检验范围 图5 对角线法和双矩形法的有效检验范围 6.3.1.4 铸钢件的磁粉探伤区域,应由各次局部磁化检验的有效检验范围完全覆盖而不得遗漏 6.3.1.5 为防止磁粉探伤时烧损铸钢件表面,可以选用不直接通电的磁化方法,如磁扼法、穿棒法等。 如采用支杆法检验,应先将支杆触头与表面紧密接触,再接通电流。通电完毕之后,移开触头 6.3 2 6 3‘2.1 显示 允许用湿法或干法施加磁粉,进行缺陷磁痕显示。一般采用连续法。只有满足如下要求时 方可采用剩磁法。 a)铸钢件材料的最大剩磁应等于或大于。.ST,矫顽磁力应等于或大于。,skA/m; 1,)磁化时,应使铸钢件接近或达到磁饱和,磁化磁场强度应等于或大于skA/m; C)要求发现任何延伸方向缺陷的铸钢件,必须在相互垂直的两个方向分别完成磁粉检验的全过程 操作,不得使用综合磁化法或旋转磁化法磁化; d)必须供需双方同意 6 3.2.2 缓缓流过 连续法湿法显示:在磁化的同时,用浇淋或喷洒的方式施加磁悬液 磁悬液应能在检验表面 施加磁悬液结束后.应再进行一两次磁化。 磁化之前,用磁悬液润湿检验表面,有助于缺陷磁痕的迅速显示 为避免磁悬液在坑凹处积存,可使铸钢件倾斜,或在磁化时用弱气流吹出积存的磁悬液 6.3一2.3 连续法干法显示:在磁化之前或磁化的同时,用喷撒或散落的方式施加干磁粉 磁粉应撒布 均匀。如在磁化过程中施加干磁粉,施加磁粉结束后,应再进行一两次磁化。 磁化过程中,用微弱气流吹拂检验部位或轻微振动铸钢件,有利于磁粉移动。 干法显示不得在有强大气流或大风场所进行 6.32.4 剩磁法
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