首页 芯片检验规范

芯片检验规范

举报
开通vip

芯片检验规范nullnullXX电子科技有限公司nullnullnullnullnullnullnullnull芯片检验规范nullnullnullnullnullnullnullnull文件编号nullXXX-QPA-QA004nullnull制订日期null5/15/18nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull文件版本nullA/01nullnull页码null第1页,共1页nullnul...

芯片检验规范
nullnullXX电子科技有限公司nullnullnullnullnullnullnullnull芯片检验规范nullnullnullnullnullnullnullnull文件编号nullXXX-QPA-QA004nullnull制订日期null5/15/18nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull文件版本nullA/01nullnull页码null第1页,共1页nullnull相关定义及检验依据:nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull相关图片nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull1.二次芯片:因贴装后产生异常,无法修复成品板,外观性能OK所拆下再次使用芯片,即为二次IC2.A规芯片:芯片本体无任何瑕疵,相关规格与外标签及BOM相符,防静电锡箔纸真空包装,无破损漏真空现象;3.B规芯片:返拆IC,芯片本体有拆下所遗留下外观瑕疵,无真空包装、无防静电包装的芯片。5.相关机型《BOM》、《元件位置图》及《ECN》等。6.进料检验 标准 excel标准偏差excel标准偏差函数exl标准差函数国标检验抽样标准表免费下载红头文件格式标准下载 参照IPC-610D检验标准检验7.进料检验标准抽检依MIL-STD-105E,AQL:0.4/0.65允收标准8.芯片类型有:SOP、LQFP、PLCC、QFN、BGAnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull1.各芯片类型图片nullnullnullnullnullnullnullnullnull2.芯片 关于同志近三年现实表现材料材料类招标技术评分表图表与交易pdf视力表打印pdf用图表说话 pdf 面丝印识别nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull检验流程/步骤nullnullnull检验要求/标准nullnullnullnullnull允收标准nullnull检验方式/设备nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull1A规芯片nullnullnullnullnullnullnullnullCRMJMInullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull1.1外包装要求nullnull未真空包装,包装袋破损漏气nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull包装袋防静电nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull包装袋无对于应标签,标签模糊nullnullnullnullnullnullnull√目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull2A、B规芯片nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull2.1表面外观检验nullnull芯片摆放方向一致;nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull实物短少、散乱nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull表面丝印模糊、脏污、同批有不同丝印字符nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull表面丝印名牌、规格与外标签与BOM不符nullnullnullnullnullnull√null目视/显微镜nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull实物周期与外标签不符nullnullnullnullnullnullnull√目视/显微镜nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull芯片周期过期(一年)nullnullnullnullnullnullnull√nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull表面有异物无法擦洗nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull表面破损、有裂痕nullnullnullnullnullnull√null目视/显微镜null3.BGA芯片底部图片nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull2.2芯片底部(B规芯片)nullnull芯片锡球陈列规则、大小一致;nullnullnullnullnullnull√null目视/显微镜nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull底部锡球缺损、缺失;nullnullnullnullnullnull√null目视/显微镜nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull底部锡球连锡、有锡渣nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull底部锡球掉点、有焊点堆锡不平现象nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull2.3外部引脚(B规芯片)nullnull外引脚变形严重nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull外引脚断裂,长短不一nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull引脚氧化不上锡nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull引脚有锡珠、锡渣nullnullnullnullnullnull√null目视nullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnullnull
本文档为【芯片检验规范】,请使用软件OFFICE或WPS软件打开。作品中的文字与图均可以修改和编辑, 图片更改请在作品中右键图片并更换,文字修改请直接点击文字进行修改,也可以新增和删除文档中的内容。
该文档来自用户分享,如有侵权行为请发邮件ishare@vip.sina.com联系网站客服,我们会及时删除。
[版权声明] 本站所有资料为用户分享产生,若发现您的权利被侵害,请联系客服邮件isharekefu@iask.cn,我们尽快处理。
本作品所展示的图片、画像、字体、音乐的版权可能需版权方额外授权,请谨慎使用。
网站提供的党政主题相关内容(国旗、国徽、党徽..)目的在于配合国家政策宣传,仅限个人学习分享使用,禁止用于任何广告和商用目的。
下载需要: ¥12.42 已有0 人下载
最新资料
资料动态
专题动态
个人认证用户
东方一杰
十年压铸技术:三年专职模具设计,四年汽配组项目主管,三年技术经理;模具、工艺、机加问题解决。
格式:xls
大小:379KB
软件:Excel
页数:0
分类:生产制造
上传时间:2021-01-17
浏览量:96