P5系列機種的經驗現象
(1).P5R8L
兩片F/B站FF,拿到后手測OK,在M/U站跑全程亦OK,回測F/B仍不過,懷疑是有製程上的問題,目檢正面無缺件,OPEN,SHORT,目檢背面發現32.768KHZ晶振的一只PIN貼至板面並與連接SR40的一測試點短接,撥正后測試PASS
(2)PTGD2-OM
1.PTGD2-OM MBL15U在BOM
表
关于同志近三年现实表现材料材料类招标技术评分表图表与交易pdf视力表打印pdf用图表说话 pdf
中C33 AND C123用的是同一顆料並且沒有替代料,
目檢發現所有CHECK ID FAIL的不良板在板子上這兩顆電容的顏色都有細微的差別,目檢OK板都是一樣,懷疑C33,C123不良。
2.不良板CHANGE C33,C123後重新測試,不良現象消失。(華鼎分析)
3.將不良零件換到OK板上測試:CHECK ID FAIL
4.量測不良零件容值為:166NF(標準值應為:10UF)(華鼎分析)
(3)P5GD1
開機測試為FF,量測基本頻率時發現倍頻IC供給北橋與CPU的頻率都沒有,其它頻都正常輸出,量測倍頻IC的工作頻率為2.6V,正常為3.3V左右,此電壓是由PQ78輸出,後發現其回饋電阻RP482阻值不對,更換後OK。
(4)PTGD-VX
開機測試為FF,Debug顯示全點,量測CPU無Vcore電壓,Vcore的主控IC ADP3418已被更換過,目檢周邊零件時發現缺件C170,重新裝上後OK。
(5)PTGD-VX
開機測試為UUID Fail,Check 主機板ID時發現Lan和1394 Chipset 的都錯誤,此機板的南橋和1394 Chipset都被更換過,而Lan和1394 Chipset都是以PCI Bus連接南橋,可能是Lan Chipset本體不良造成,更換Lan後OK.因此很多經過PCIBUS連接的外設有出現ID不良時除了該外設本體以外還要考慮到其他外設晶片的問題。
(6)P5R8L
M/U站測試LCD無顯,量測PORT保護二極體OK,U5的電壓也OK,它與NB間透過耦合電容相連,目檢無異常,信號值OK,CHANGE U5 未OK,CHANGE NB未OK,後更換耦合電容後OK,重裝仍是OK的,責任暫判為SMT製程.
(6)P5GD1-VM/S
開機測試檔“75”(SATA抓不到),量測SATA的信號都OK,量測頻率時,發現供給SATA使用的100MHZ頻率沒有,後發現RN3極反,重新焊好後OK。
(7) P5GD1-TMX
在印象裡以上現象不是誤判便是條碼不好,重打SFIS條碼就OK
但此次也考慮了網路的問題.發現用第二根PCI能登上網路而第一根卻登不上,目檢板背該PCI SLOT,發現有異物粘在PCI上,PIN腳與貫孔接觸不好,清異物重過錫爐後OK.
(8) P5LP-VX
現象比較特殊,測試發現跑過內存就會當在07,同時整個過程CPU 風扇不轉,但OK板自上電後就會轉,由於風扇是由SUPER I/O控制的,所以去量測SURPER I/O 的工作條件,無14.318MHZ,但ICS端已經發出了頻率,後確認斷線後,走線發現PCB原材斷線.
浙公网安备 33021202002483