测试方法
测试方法遵照于EC507(固体层法)
标准
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以及三个条件,清洁条件,光污染状况和中度污染物情况。为了确定污染物的等级,可使用盐密方程计算,如下,
这里, G : 污染物的重量 (mg)
: 20℃ 的液体电导率()
: 水的体积(cc)
A : 绝缘体的
表
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面积(c㎡)
ESDD: 等效盐的浓度(mg/ c㎡)
表1显示基于方程1和2去了解绝缘体污染物的等级
表1 绝缘体污染等级
测试在每一种条件下进行了三次,当温度上升时或温度下降时。测试电路如图2。为了增加绝缘体表面的温度,测试中使用了4个人造的聚光灯,其位置放置如图3。
图2.测试电路
图3.人造光源相对于环氧树脂绝缘体的位置
通过红外测温仪测试绝缘体表面温度,并且记录下每次的数据
测试结果
分析
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关于树脂环氧绝缘体临界闪络电压测试结果温度变化如下。
温度分析
图4显示,由于灯光线辐射照到绝缘体表面,导致绝缘体表面的温度持续升高。灯的光线造成绝缘体表面泄漏电流增加。随着电灯聚光在被污染的导体上,导体表面的温度将会更高。这是由于聚光灯的光线不断加热导致的,经过一段时间的聚光照明,温度恒定不变,维持在60摄氏度,如图4。在体验聚光条件下,这个温度依然高于绝缘体在清洁情况下,平均达到58摄氏度。
温度与时间曲线
时间(分钟)
清洁的绝缘体
被污染的绝缘体
图4,在灯光受热下的温度与时间的曲线
泄露电流分析
如果绝缘体用灯泡的光线聚光照明,泄漏电流则会减少。如图5
泄露电流与时间的曲线
时间(分钟)
清洁的绝缘体
被污染的绝缘体
图5,泄露电流与时间的曲线
从图表上显示,泄漏电流随温度升高变化是恒定的。即使有泄露电流增加情况发生,其也将非常小。
在受污染的绝缘体条件下,这里有薄薄一层的污染物。这种污染层导致的泄露电流情况则取决于污染物的类型。因为导电的污染物会通过污染层增加泄露电流的等级。