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01实验一 基本门电路逻辑功能测试

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01实验一 基本门电路逻辑功能测试null数字电子技术实验数字电子技术实验数字电子技术实验实验一 基本门电路逻辑功能测试 实验二 中规模组合逻辑电路应用(一) 实验三 中规模组合逻辑电路应用(二) 实验四 利用EDA软件进行组合逻辑电路的设计 实验五 触发器设计及应用 实验六 计数器的设计及应用 实验七 555定时器的应用 实验八 实验考试实 验 内 容数字电子技术实验实验一 基本门电路逻辑功能测试实验一 基本门电路逻辑功能测试1、熟悉基本门电路的逻辑功能及测试方法 2、掌握用SSI设计组合逻辑电路的方法 3、用...

01实验一 基本门电路逻辑功能测试
null数字电子技术实验数字电子技术实验数字电子技术实验实验一 基本门电路逻辑功能测试 实验二 中规模组合逻辑电路应用(一) 实验三 中规模组合逻辑电路应用(二) 实验四 利用EDA软件进行组合逻辑电路的 设计 领导形象设计圆作业设计ao工艺污水处理厂设计附属工程施工组织设计清扫机器人结构设计 实验五 触发器设计及应用 实验六 计数器的设计及应用 实验七 555定时器的应用 实验八 实验考试实 验 内 容数字电子技术实验实验一 基本门电路逻辑功能测试实验一 基本门电路逻辑功能测试1、熟悉基本门电路的逻辑功能及测试方法 2、掌握用SSI设计组合逻辑电路的方法 3、用实验验证所涉及电路的逻辑功能一、实验目的二、实验仪器及器材1、数字逻辑实验台 2、集成块74LS00、74LS32、74LS86各一片 3、导线若干实验一 基本门电路逻辑功能测试实验一 基本门电路逻辑功能测试 74系列门电路芯片外形如图1-1所示,管脚编号方法:管脚向下半月形缺口向左,从下排自左向右顺序编号,上排自右向左顺序编号。图1-1 74系列芯片的管脚编号方法图 1. 74系列芯片的管脚读法三、实验原理实验原理按集成度分:小规模(SSI):每片1—10个器件, 中规模(MSI):每片10—100个器件 大规模(LSI):每片数千个器件 超大规模(VLSI):每片>>10000器件 按电路结构和工作原理分: 组合逻辑电路:无记忆,输出与以前状态无关 时序逻辑电路:有记忆,输出与以前状态有关 实验原理2.逻辑电路的分类:实验原理实验原理3. 组合逻辑电路的设计组合电路:输出仅由输入决定,与电路当前状态无关;电路结构中无反馈环路(无记忆)组合电路的描述方法主要有逻辑表达式、真值表、卡诺图和逻辑图等。 输入到输出之间没有反馈回路。电路不含记忆单元。组合电 路特点:实验原理实验原理实验原理 设计要求:在满足逻辑功能和技术要求的基础上,力求使电路简单、经济、可靠。设计中所说的“最简”是指电路所用的器件数最少,器件的种类最少,而器件之间的连线也最少。实验原理组合逻辑电路的设计实验原理 逻辑变量:取值仅有逻辑“0”和逻辑“1” 逻辑代数:按一定逻辑关系进行代数运算(与、或、非、与非、异或……) 实验原理4. 逻辑变量和逻辑代数的含义实验原理74LS00实验原理实验一 基本门电路逻辑功能测试四、实验内容及步骤1.二输入与非门74LS00的逻辑功能测试(结果填入表1.1)实验一 基本门电路逻辑功能测试实验内容及步骤实验内容及步骤2.二输入或门74LS32的逻辑功能测试(结果填入表1.1)实验内容及步骤实验内容及步骤3.二输入异或门74LS86的逻辑功能测试(结果填入表1.1)实验内容及步骤实验内容及步骤表1.1 门电路逻辑功能表 异 或实验内容及步骤实验内容及步骤解:①逻辑抽象输入变量: 主裁判为A,副裁判为B、C。 判明成功为1,失败为0;输出变量: 举重成功与否用变量Y表示,成功为1,失败为0;逻辑真值表4.用与非门设计一个举重裁判表决电路。设举重比赛有3个裁判,一个主裁判和两个副裁判。只有当两个或两个以上裁判判明成功,并且其中有一个为主裁判时,表明举重成功。实验内容及步骤②卡诺图化简 ③逻辑电路图实验内容及步骤实验内容及步骤实验内容及步骤 用74LS00与非门电路组成的半加器电路如图3-1所示。5.测试由门电路组成的半加器的逻辑功能 能实现两个一位二进制数的算术加法及向高位进位,而不考虑低位进位的逻辑电路 1.由逻辑图写出逻辑表达式。 2.列出真值表,并化简。 3.按图3-1连接电路,验证逻辑关系。将实验结果填如表3-1中。实验内容及步骤其中: A---加数;B---被加数; S---本位和;C---进位。实验内容及步骤实验一 基本门电路的逻辑功能测试实验一 基本门电路的逻辑功能测试6.设计用两只开关同时控制一盏灯的逻辑电路实验一 基本门电路逻辑功能测试五、注意事项1、注意电源和地应接正确。 2、集成块的输入端应接钮子开关上方,输出端接 LED电平指示器。 3、检查连线正确后再打开电源。 4、学会用逻辑笔检查线路。实验一 基本门电路逻辑功能测试
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分类:工学
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