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SJT 10041-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4014型 CMOS 8位移位寄存器

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SJT 10041-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4014型 CMOS 8位移位寄存器Si中华人民共和国电子工业行业标准sJ/T10041-91电子元器件详细规范半导体集成电路CC4014型CMOs8位移位寄存器1991-04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CC4014型CMOs$位移位寄存器SJ/T10041-91DetailspecificationforelectroniccomponentSemiconductorintegratedcircuit-CC4014CMOS8-bitshiftregi...

SJT 10041-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4014型 CMOS 8位移位寄存器
Si中华人民共和国电子工业行业标准sJ/T10041-91电子元器件详细规范半导体集成电路CC4014型CMOs8位移位寄存器1991-04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CC4014型CMOs$位移位寄存器SJ/T10041-91DetailspecificationforelectroniccomponentSemiconductorintegratedcircuit-CC4014CMOS8-bitshiftregister本规范规定了半导体集成电路CC4014型CMOSS位移位寄存器质量评定的全部内容。本规范是参照GB9424fCMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范》制订的,并符合GB4589.if半导体器件分立器件和集成电路总规范》及GB12750(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施一I一SJ/T10041-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质童的依据GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》GB12750《半导休集成电路分规范(不包括混合电路)》SJ/T10041-91CC4014型8位移位寄存器详细规范订货 资料 新概念英语资料下载李居明饿命改运学pdf成本会计期末资料社会工作导论资料工程结算所需资料清单 :见本规范第?章。飞机械说明外形依据GB7092(半导休集成电路外形尺寸》.外形图:按GB7092EYE5.4.F}引出端排列:一0一D,匡~习、Q,匡15D,Q,匡囚D,D,匡回n.。,匡习QeD,匡习。D,区习CP、匡习M引出端符号名称见本规范第11.1条标志:按GB4589.1条第2w5条及本规范第6章.2简耍说明CMOS型移位寄存器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能 关于同志近三年现实表现材料材料类招标技术评分表图表与交易pdf视力表打印pdf用图表说话 pdf 见本规范第11章.品种:tII&IM(D)MRAMCM44AM'}(F)CC4014EFCC4014MF注意静电敏感器件D型5.及5.3.1J型5.及5.4。1成-40-t85'C(E)一55^-1125℃一(M)一一P型5.及5.5.1F型5.陶瓷直擂(D)CC4014EDCC4019Mll黑瓷直插(J)CC4014EJCC4014MJ塑料直插(Y)CC4014EP心一多层陶瓷扁平(F)CC4014EFCC4014MF3质f评定类别,,IA,IB,IC一Z一SJJT10041-914极限值(绝对最大颇定值)若无其他规定,适用于全工作温度范围。基准电压为V..,条款号参数符号数值单位最小最大4.1电砚电压V?o-0.518v4.2输人电压V,-05Von+O.5v4.3输入电流lid10.A44工作环境温度范围MT,mb一55125℃一4085E4.5贮存温度范围Ta,g一65150℃46每个封装的功耗‘,Po500.W注:1)P型封装在60℃以上,D.J.F型封装在100℃以上时,P。按12.W/'C线性降额。5推荐工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1推荐工作条件若无其他规定,适用于全工作温度范围。基准电压为V二条款号参数V-(V)符号数值单位最小最大5.1.1电像电压范围VDD315v5.1.2脉冲宽度51015!w1808050n吕5.1.3时钟频率51015f.,368.5MHz5.1.4时钟13+Ffp”间51015LrcpL(cp151515州一3一SJ/T10041-91续表条款号参数V-(V)符号数值单位最小最大5.1.5建立时间Ds-CPD-CPM-CP51015血u1208060nS510158050405101518080605.1.6保持时间氏,D,M'51015tx000ns5.2电特性基准电压为V?,条款号特性和条件Vnr之V;符号规范值单位试验一55℃-40C25C85*C125*C最小最大最小Pm最小最大最小最大最小最州5.2.1电源电流VIL二V,,V川=V田5Ioo555150150拜AA3,A3a,A3b10101010300300152020206006005.2.2输出低电平电压V?.=V.,V,x=VooIloI<111A5Vol0.050.050.050.050.05VA3,Ma,A3b100.050.050.050.05同150.050.05nn‘0.050.05「’介5.2.3输出高电平电压V?,=V-V,a=VooI1.1<1pA5而x4.954.954.954.954.95VA3,9.959.959.959.959.9510A3b1514.9514.9514.9514.9514.955.2.4输入低电平电压VOA.=0.5V,Vox二4.5V5IVa1.51.51.51.51.5VA3,AR..VOL=1.OV,Voa=9.OV103.03.03.03.03.0A3bVa.=1.5V,Voa=13.5V4.04.04.04.04.015一4一SJ/T10041-91续表条款号特性和条件V了[V;规范值单位试验衬号一55℃,-40℃25'C35'C125'C最小最大最小麻最小最大最小最大最小}.创I"四5.2.5输入高电平电压VOL=O.5V,Vm=4.5V5}IV.3.53.53.53.53.5VA3,Ma,A3bV-=1.OV,Voa=9.OV7.07.07.07.07.0国I.L=1.5V,Vox=13.5V11.011.011.011.011.0155.2.6输出低电平电流V?,=Vsc,VO二0.4VV,a=Vm.Vo=O.5VVo=1.5V51-0.640.610.510.420.36FnAA3。Ma,A3b1.601.501.301.100.90F--4.204.003.402.802.40155.2.7输出高电平电流V?=V.,V.二4.6VV,a=Vou,Vo=9.5VV.=13.5V5lo,-0.25-0Z5一0.2-0.14-0.14,AA3,A3a,A3b10-0.6乏一0.62一0.5-0.35-0.35一1.8一1.8一1.5一1.1一1.1155.2.8输入低电平电流V?,=V-V,a=Vooi5la一0.1-0.1-0.1一1一1pAA3,A3a,A3b5.2.9输入高电平电流V"=V.,V,x=VOO151.0.10.10.111pAA3.Ma,A3b5.2.10输入电容CI7.5pF5.2.11传输延迟时间V.二V-,f=1MHz1,=,,=20ns,g二50%CL二SOPF,R‘二200kOVR。一专‘VR-=专(VOH-VOL)5}erL,PLH320nsA416010151205.2.12转换时间同5.2.11VRE,二90%(VOH-VOL)V,二二10%(VOH-VOL)5200n日人41010015Tl卜80一5一SJ/T1004191续表条款号特性和条件卜之Viq号规范值单位试脸一55℃-40℃25℃85℃1251C最小最大最小网最小闷最小网最小网5.2.13最高时钟频率同5.2.115fm..3MHz:A46108.515标志器件上的标志示例:CC4014MD型号引出端识别标志制造单位商标882481A卞一质f评定类别检验批识别代码若受器件尺寸限制,允许将“检验批识别代码”、“质t评定类别”标在器件背面。订货资料产品型号;详细规范的国家编号;质量评定类别;其他。??????试验条件和检验要求若无其他规定,本章引用条款均为GB4589.1的条款。抽祥要求:根据采用的质量评定类别,按GB12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQLl类,类ILAQLILAQLAlI0.65.0.65A2百0.1I0.1A3I0.15I0.15MaS41.0S41.0A3bS41.0S41.0A4S41.0S41.0一6一S1fT10041-91B组、C组和D组检验的抽样耍求分组LTPD.类,类人BCBl15151515C120202020CAMC2b(2)15151515B315151515B4C430101010B5C510101010C620202020C715151515B8C8105710C9155715Cll20202020B2120101015C2320101520C2420101520D8105710A组—逐批全部试验均为非破坏性的((3.6.6)检验或试验引用标准条件若无其他规定,Tamb=25C检验要求规范值}Al分组外部目检l4.2.1.14.2.1.1标志清晰,表面无损伤和气孔A2分组25℃下的功能验证按本规范52.2.5.2.3和11.2按本规范5.225.2.3和11.2A3分组25℃下的静态特性GB3834《半导体集成电路CMOs电路测试 方法 快递客服问题件处理详细方法山木方法pdf计算方法pdf华与华方法下载八字理论方法下载 的荃本原理》按本规范5.2.1至5.2.9和10.1按本规范S.2.1至5.29一7一SJJT10041-91续表检验或试验引用标准条件若无其他规定,T...b=25'C检验要求规范值A3a分组‘,最高工作温度下的静态特性GB3834T...b按本规范4.4条件:同A3分组同A3分组A3b分组11最低工作温度下的静态特性GB38347'...b按本规范4.4条件:同A3分组同A3分组A4分组25℃下的动态特性GB3834按本规范5.2.u至S.2.13,10.2按本规范5.2.n至5.2.13注:1)允许相关测1.B组—逐批标有(D)的试验为破坏性的(3.6.6)检验或试验引用标准条件若无其他规定T...b=25C检验要求规范值B1分组尺寸4.2.2及附录B按本规范第1章B3分组引线强度弯A(D)拉力(D)GB4590《半导体集成电路机械和气候试验方法》GB4590,2.1外加力的值按2.2表2外加力的值按2.1表1无损伤B4分组可捍性GB4590,2.5按方法b(植焊法)浸润良好iB5分组温度快速变化a)空封器件温度快速变化随后进行电测盆密封:细检漏粗检漏b)非空封及环氧GB4590,3.1GB4590,3.11或3.12GB4590,3.13TA二一65'C,Ts=150'C循环次数J0同A2和A3分组按规定按规定同A2和A3分组一8一SJ/T10041-91续表枪脸或试脸引用标准条件若无其他规定T.mb=25C检验妥求规范值封空封器件温度快速交化随后进行外部目检椒态湿热电侧t(同A2和A3分组)GB4590,3.14.2.1.1GB4590,3.7T.=-65'C,T.二ISOIC循环次数:10严格度A(85C,85纬R,H)24h同A2和A3分组同A2和A3分组B8分组电耐久性(168h)最后Nit(同A2,A3和人4分组GB12750,12.3温度按本规范4.4最大值,其他按本规范10.3同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组B21分组高压燕汽(D)(非空封器件)级后侧t(同A2和A3分组)GB4590,4.5严格度C:24h同A2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组ItB3,B4,BS,B8#0B21MIR赶R&AMAC组—周期标有(D)的试验为破坏性的(3.6.6)检验或试验引用标准条件若无其它规定T.mb=25C检验要求规范值C7分组尺寸4.2.2及附录B按本规范第1章C2b分组(1)最高和最低工作盆度下的功能验证C刀3834同A2分组同A2分组C2b分组住)最离和最低工作温度下的动态特性GB3834按本规范5.2.11至5.2.13和10.2小子1.SUSL"C4分组耐娜接热(D最后侧t(同A2和A3分组)GB4590.2.6按方法1同A2和A3分组同A2和A3分组一9一sJ/T10041-91续表检验或试验引用标准条件若无其它规定T.m6=25'C检脸要求规范值C5分组11.度快速变化(D)(非空封及环氧封空封器件)随后进行:外部目检粗态湿热电测t(同A2和A3分组)GB4590,3.14.2.1.1GB4590,3.7Te=一65C,Ta=150'C循环次数:500严格度A(85C,85%R.H)2411同人2和A3分组同人2和人3分组C6分组.,稼态加速度(D)(空封器件)最后测t(同A2和A3分组)GB4590,2.10加速度196000M八忠同A2和A3分组同A2和A3分组C7分组稳态湿热(D)a)空封器件”b)非空封及环氧封空封器件最后恻量(同A2和A3分组)GB4590,3.6GB4590,3.7严格度D:56d严格度A:(85C,85%R.H)时间:100011同AZ和A3分组同A2和A3分组CB分组电耐久性(100011)最后测量(同A2,A3和A4分组)GB1215012.3同B8分组同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组C9分组高温贮存(D)最后测址(同人2,A3和人4分组)GB4590,3.31000h严格度C:150'C同A2,A3和A4分组同人2,A3和A4分组C11分组标志耐久性GB4590,4.3按方法1溶液A型按GB4590,4.3.2C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB4590,4.4按GB4590,4.4.2按GB4590,4.4.287/T10041-91续表检验或试脸引用标准条件若无其它规定T.mh=25'C检脸要求规范值C24分组易姑性(D)(非空封器件)GB4590,4.1按GB4590,4.1.2按GB4590,4.1.2CRRL分组就C4,C5,C6,C7,C8,C9,CII,C23和C24提供计数检查结果.注,1)USL表示A组规范值的最大值.2)连续三次通过后,周期可放宽为一年一次.9D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次。检验或试验引用标准条件检验要求规范值D8分组电耐久性(D)最后测t:(同A2,A3和A4分组)GB12750,12.31类:2000h1类:3000h其它同B8分组同A2,A3和人4分组同A2,A3和A4分组附加资料静态特性的测量??????????符号测试方法GB3834I-2.15所有输入端分别同时接V,:和VaVoL2.8输入端按功能表接V二或V,Vox2.7输入端按功能表接Va或v,V?,2.2非被测输入端分别同时接v,或Vo0Vw2.1非被测输入端分别同时接Vs,或V..JO,2.12输入端按功能表接vu.或vu,to?2.11输人端按功能表接v二或va1u2.101,x2.910.2动态特性的测量sJ/T10041-9110.2.1基本测试线路符号}测试方法GB3834非被测输入端按功能表接V.或V-??????????????????????10-2.2负载线路输出端R,IIC}V?—10.3电耐久性试验线路C,,包括探头及夹具的电容U2V面加SOkHz10.4特性曲线制造厂应提供各种电特性曲线,如典型的输出电流,功耗曲线及典型的传输延迟时间随负载电容的变化曲线。型号说明.1逻辑符号和逻辑图一12一??????????SJ/T14941-91二逻辑符号CP(1仍MI口】SRGS月...>C万I啥MI氏(11)CT-5CT-6.(2)Q,(12)Q,CT-7(朴Q,引出靖符号名称CP时钟脉冲翰入D,-D,并行数据物入Dn申行数据翰人M并/申控制翰入Q。一Q,翰出?????????????????????????????????????????????,b.逻辑图13sJ/T10041-9111.2功能表输入输出功能CPDSMDoD,Qo(内部)Q.牛个个个XXXXHHHHLHIHLLHHlHLHLLHH并行送数{LH:_XXXXLHQ.-Q。一1右移小XXXXQoQe保持14sJ/T10041-91附录A筛选(补充件),类器件:制造厂应规定必要的筛选项目和条件.I类器件:按下述筛选程序进行。,AIBIC内部目检GB4590,4.6高温稳定GB4590,3.31500C,96h稳态加速度,,GB4590,2.10电测量(老化前)同A3分组易9除不合格品老化GB4590,4.7T,mbmax,240h高温稳定GB45.90,3.31500C,48h稳态加速度”GB4590,2.10密封,,GB4590,3.11或3.12及3.13内部目检GB4590.4.6电测量(老化后)”同A3分组易四除不合格品注1)不适用于非空封器件.z)不合格品超过5%,则批拒收。SJ/T10041-91附最说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由上海无线电十四厂负责起草。本标准主要起草人:吴志龙、金宗仙,
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