行业制造-标准-石英晶体元件—电子元器件质量评定体系规范+第3部分+分规范—鉴定批准+第一篇+空白详细规范

L21备案号:91一1997SJ中华人民共和国电子行业 标准 excel标准偏差excel标准偏差函数exl标准差函数国标检验抽样标准表免费下载红头文件格式标准下载 SJ/T10708一1996石英晶体元件一电子元器件质量评定体系 规范 编程规范下载gsp规范下载钢格栅规范下载警徽规范下载建设厅规范下载 第3部分:分规范一鉴定批准第一篇:空白详细规范Quartzcrystalunits一AspecificationintheQualityAssessmentSystemforElectronicConponentsPart3:Sectionalspecification一QualificationapprovalSection1:Blankdetailspecification1996-07-22发布1996-11-01实施中华人民共和国电子工业部发布前言IEC1178一3一1:1993本标准等同采用(石英晶体元件一IECQ规范第3部分:分QC680201规范一鉴定批准第一篇:空白详细规范》。本标准的上层规范是GB/T2273-1996(石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第1部分:总规范》和GB/T16517-1996《石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第3部分:分规范一鉴定批准)。这样，使我国石英晶体元件国家标准与IEC电子元器件质量评定体系的标准相一致，以适应国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要，便于我国生产的这类产品进行质量认证并在国际市场流通。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位:国营华星无线电器材厂。本标准主要起草人:管兴明、孙建华。IEC前言1)IEC(国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标准化组织。IEC的目的是促进电工电子领域标准化问 题 快递公司问题件快递公司问题件货款处理关于圆的周长面积重点题型关于解方程组的题及答案关于南海问题 的国际合作。为此目的，除其他活动外，IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何IEC(国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。TEC与国际标准化组织(ISO)根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。2)IEC在技术间题上的正式决议或 协议 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，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。3)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布。以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会认可。4)为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明。国际标准IEC1178一3一I是由IEC第49(频率控制和选择用压电与介电器件)技术委员会制定的。本标准部分技术内容依据IEC122一1制定。本标准构成石英晶体元件IECQ规范的第3部分第一篇:空白详细规范一鉴定批准。IEC1178一1构成总规范。IEC1178-2构成分规范:能力批准。IEC1178一2一1构成空白详细规范:能力批准。IEC1178一3构成分规范:鉴定批准。本标准文本以下列文件为依据:国际标准草案表决报告49(C0)23049(C0)246表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。本标准封面上的QC号是IECQ规范号。序言空白详细规范空白详细规范是分规范的补充文件，它规定了详细规范的格式和最小内容要求。在制定详细规范时，应将GB/T16517-19%第2章要求考虑进去。对于生产批量小的晶体元件，可以不采用本规范，推荐采用能力批准。详细规范的识别对于本页方括号的数字，应在相应位置填上下列相应项目内容:Ill按其权限发布详细规范的国家标准机构名称。适用时，可从该机构得到详细规范。[2]IECQ编号和由TEC分配给的详细规范编号。[3l总规范和相关分规范编号及其版本号:若有差异，也可加上国家标记。[4〕与IECQ编号不同的详细规范的国家编号、出版日期，以及国家体制要求的任何进一步内容和任何修订的编号。石英晶体元件的识别[5l石英晶体元件或石英晶体元件范围的简述(如频率、泛音次数、切型、振动模式)。[6」按IEC122一3及其修改件的典型结构的内容(适用时)(如电阻焊、冷压焊)。对于[5〕和[61，详细规范给出的内容应按IECQ0001005和IECQ0001004填入足够的内容。[7]标有主要互换性尺寸的外形图，它应符合IEC122一3及其修订件和(或)符合相应的国家或国际标准文件中关于外形的要求。此外，该图也可在详细规范的附录中给出。可从获得规范IllIECQ版本号[21日期第I页共页按鉴定批准〔31[4l评定质量的电子元件外形和尺寸;〔第三角视图)[7l石英晶体元件〔51一曰申晶体盒[6l尺寸:mm中华人民共和国电子行业标准石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第3部分:分规范一鉴定批准SJ/T10708一1996第一篇:空白详细规范记tIEC1178一3一1:1993QC680201Quartzcrystalunits-AspecificationintheQualityAssessmentSystemforElectronicConponentsPart3:Sectionalspecification一QualificationapprovalSection1:Blankdetailspecification额定值(优先额定值见GB/T12273-1996的2.3)0—工作温度范围;—电路条件;—最大激励电平;—激励电平测量;—气候类别;—机械试验严酷度。按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IECQ0001005得到。2特性值(见GB/T12273-1996的2.2);—标称频率/范围;—基准温度;—频差:—最大谐振电阻。另外，也可以规定下述的其他特性:—最大并电容;—动态参数或频率牵引范围;—无用响应;—老化;中华人民共和国电子工业部1996-07-22批准1996-11-01实施S.I/T10708-1996—激励电平相关性。注:若有必要，上述特性可以表格形式给出。3引用标准GB/T12273-1996石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第1部分:总规范(idtIEC1178一1:1993)GB/T16517-1996石英晶体元件一电子元器件质量评定体系规范第3部分:分规范一鉴定批准(idtIEC1178一3:1993)IEC122一3频率控制和选择用石英晶体元件第3部分:标准外形和插脚连接修改件4(1993)IEC410:1973计数检查抽样 方案 气瓶 现场处置方案 .pdf气瓶 现场处置方案 .doc见习基地管理方案.doc关于群访事件的化解方案建筑工地扬尘治理专项方案下载 和程序IECQC001004:1992规范目录IECQ0001005:1992合格产品目录4标志石英晶体元件和初级包装上的标志应符合GB/T12273的2.4要求。应在详细规范中给出完整细则。5订货资料应规定下列订货资料:—数量;—电子元器件质量评定体系或用户的详细规范号，版本号和发布日期，以及适用的细—标称频率，用kH:或MHz表示，以及泛音次数;—盒型;—频差和工作温度范围;—电路条件;—任何附加要求的详尽说明。应给出一个订货资料的示例。6证明合格的试验记录详细规范应按GB/T12273的3.11规定是要求还是不要求证明合格的试验记录。7附加资料(不用于检验目的〕详细规范可以包括附加资料，通常它们不要求用检验程序予以证实。如电路图、曲线图以及为进一步说明详细规范用的图和注释。8检验要求试验条款号和性能要求条款号引自GB/T1227302一SI/T10708-1996表1给出的检查水平(IL)和合格质量水平(AQI.)从IEC410中选取。在表1与表2中:A—周期(月);n—样本大小;c—合格判定数(允许不合格品数);「卜一一一破坏性的;NI)一一一非破坏性的;HJ—检查水平;AQI.—合格质量水平。表1AQL寻少心.久才生条款号和试验D或ND+、日里例片.lrIL性能要求%100%检验ND4.5.1目检A4.5.14.7.1频率和谐振电阻::.:频差和最大谐振电阻A组检验按逐批抽样方案进行Al分组NDI0.25479绝缘电阻4.7.94.7.9A2分组ND皿0.254.7.2激励电平相关性4.7.22.3.64.7.3频率和谐振电阻随温度的变化4.7.3频差和(或)颇率变化及试验A试验A最大谐振电阻4.73频率和谐振电阻随温度的变化4.7.34.7.3试验B(真空玻璃壳除外)试验B试验BA3分组n0.25474无用响应N4.D7.4响应系数或无用响应的最小谐振电阻4.75并电容C。并电容极限4.7.8动态参数::;规定的频差动态电容C,或动态电感L,及动态电阻凡}B组检验按逐批抽样方案进行BI分组NDn0.254.6.2尺寸检验B4.6.24.8.2项目2)4.8.242.63.211密封项目2)SJ/T10708-1996续表1AQL条款号和试验D或ND试验条件IL性能要求%细检漏试验D(真空玻壳除外〕4.8.2项目1)4.8.24.8.2密封项目I)项目1)粗检漏检验(真空玻壳除外)4.8.2项目3)4.8.24.8.2密封项目3)项目3)真空晶体元件的真空度试验(仅用于真空玻壳)4.7.1颇率与谐振电阻4.7.1按详细规范规定B2分组NDI0.254.8.5规定转换时间的快速温度变化4.8.5(真空玻壳除外)4.8.4快速温度变化，两箱法4.8.4(仅用于真空玻壳)最终检验452目检B4.5.24.5.24.8.2项目2)4.8.22.3.11密封项目2)细检漏试验(真空玻壳除外)4.8.2项目1)4.8.24.8.2密封项目1)项目1)粗检漏试验(真空玻壳除外)4.8.2项目3)4.8.24.8.2密封项目3)项目3)真空晶休元件的真空度试验(仅用于真空玻壳)S,1/T10708-1996表2样本大小和D或条款号和试脸顺号试脸条件合格判定数性能要求ND户粗‘c组检验抽样检验cl分组D3804.8.16在清洗液中浸演4.8.16标志清晰4.8.1项目1)4.8.14.8.1引出端拉力试验和推力试脸项目1)项目1)4.8.1项目2)4.8.14.8.1线状引出端的可弯曲性项目2)项目2)4.8.1项目3)4.8.14.8.1引出端的弯曲试脸项目3)项目3)(只对切槽插针式的)最终检验4.5.2目检B4.5.24.5.24.8.2项目2)4.8.22.4.11密封项目2)细检漏试验(真空玻壳除外)4.8.2项目1)4.8.24.8.2密封项目1)项目1)粗检漏试验(真空玻壳除外)cl分组D3804.7.3颇率和谐振电阻随温度的变化4.7.34.7.3(真空玻壳除外)试验B试验B试验B4.8.2项目3)4.8.24.8.2密封项目3)项目3)真空晶体元件的真空度试验(仅用于真空玻壳)C2分组D3804.8.3项目1)4.8.34.8.3可焊性项目1)项目1)4.8.3项目2)4.8.34.8.3耐焊接热项目2)项目2)4.5.2目检B4.5.24.5.24.7.1频率和谐振电阻4.7.1预差和(或)颇率变化与最大谐振电阻SI/T10708-1996续表2样本大小和D或条款号和试验顺号试验条件合格判定数性能要求NDP粉fC3分组ND3804.9.1老化4.9.1颇率和谐振电阻的最大允许变化量C4分组D12804.8.14气候顺序4.8.14最终检验4.79绝缘电阻4.7.94.7.94.7.3频率和谐振电阻随温度的变化4.7.34.7.3(真空玻壳除外)试验B试验B试验B4.8.2项目3)4.8.24.8.2真空晶体元件的真空度试验项目3)项目3)(仅用于真空玻壳)4.7.1频率和谐振电阻4.7.1频率和谐振电阻的最大允许变化量4.5.2目检134.5.24.5.2453目检C4.5.34.5.3C5分组D12804.7.1频率和谐振电阻4.7.1测量记录4.8.6碰撞4.8.64.8.7振动4.8.74.8.8冲击4.8.8最终检验}C5分组D12804.7.1频率和谐振电阻4.7.1频率和谐振电阻的最大允许变化量4.5.26I检B4.5.24.5.2C6分组D1284.8.15稳态湿热4.8.15最终检验479绝缘电阻4.7.94.7.94.7.3频率和谐振电阻随温度的变化4.7.34.7.3(真空玻壳除外)试验B试验B试验B4.8.2项目3)4.8.24.8.2真空晶体元件的真空度试验项目3)项目3)(子又用于真空玻壳)4.5.3目检C4.5.34.5.3一