弱碱、不同温度下合成的样品的XRD衍射结果#可以看出在室温下合成的样品在1〜3°26）之间有一较强的衍射峰见图图1这是对应材料的特征（100）峰，衍射峰的强度很高，说明材料的介孔结构长程有序性较好，另外，在3〜6。间出现3个弱衍射峰。随着温度的升高，材料的衍射峰逐渐变弱,在40摄氏度或50摄氏度时介孔材料的衍射峰只有三个衍射峰，衍射峰与室温下得到的介孔二氧化硅的特征峰相比见图1中b,c没有高有序衍射峰的存在，说明材料的介孔结构不具有长程有序性，但在高温65摄氏度时，在2.30左右出现了100特征峰图1d但并不明显。这与介孔结构中存但由于颗粒均在纳米级范围，相比较40摄氏度或50摄氏度的棒状颗粒来说，有序性好的多在的一些缺陷是分不开的但由于颗粒均在纳米级范围！相比较40摄氏度或50摄氏度的棒状颗粒来说有序性好的多。纳米SiO2颗粒的物相研究温度在400—800°C,保温时间为3h时,对热解稻壳得到的SiO2粉体样品进行XRD检测
分析
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,发现在400°C和500°C时,得到的样品中存在一些未燃烬的碳，将温度升高到600°C700°C800°C时,发现样品的XRD图谱都为圆丘状的衍射峰，说明SiO2在800°C以下时候，不会发生晶体转变。在以上试验的基础上，发现在520°C,保温时间h3为最佳试验条件，为了进一步确定在此条件下样品的结构，对其进行了XRD表征"图1400°C3小时「60OL"l■图2500°C3小时10020406080100图3800°C3小时±3二Esazml204060R010039/*图4520°C3小时图1和图2分别为样品1和样品2的XRD图谱，从图1中可以看出有两个峰,在20=10°「20。之间为第一个峰,20=20°-30。之间为第二个峰,第一个峰有明显的晶体衍射峰，但第二个峰是圆丘状的，未明显的晶体衍射峰，说明样品1中含有部分为碳，而5102为非晶态结构"样品2的XRD图谱中，也是两个峰，第一个峰较小，第二个为圆丘状散射曲线,说明里样品2中的碳含量较少，通过这两个XRD图谱证明,稻壳在500°C下热解，不能将碳燃烬，得不到高纯的SiO2，也严重的影响了白色度。图3和图4分别为样品5和样品8的XRD图谱,都为圆丘状散射曲线，因而样品5和样品8的510:结构为无定性态，即510:由硅氧四面体构成的无规则网络结构，说明稻壳热解温度低于800e时,得到的510:样品,其晶体结构即为无定形结构。
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