纳米材料的表征方法

纳米 材料 关于××同志的政审材料调查表环保先进个人材料国家普通话测试材料农民专业合作社注销四查四问剖析材料 的表征及其催化效果 评价 LEC评价法下载LEC评价法下载评价量规免费下载学院评价表文档下载学院评价表文档下载 方式纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、等电点、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。纳米材料催化效果评价方式主要是在光照（紫外、可见光、红外光或者太阳光）条件下纳米材料对一些污染物质（甲基橙、罗丹明B、亚甲基蓝和Cr6+等）的降解或者对一些物质的转化（用于选择性的合成过程）。评价指标为污染物质的去除效率、物质的转化效率以及反应的一级动力学常数k的大小。1、结构表征XRD,ED,FT-IR,Raman,DLS2、成份分析AAS,ICP-AES,XPS,EDS3、形貌表征TEM,SEM,AFM4、性质表征-光、电、磁、热、力等UV-Vis,PL,PhotocurrentTEMTEM为透射电子显微镜，分辨率为0.1〜0.2nm,放大倍数为几万〜百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构。TEM是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。ThemorphologiesofthesampleswerestudiedbyaShimadzuSSX-550field-emissionscanningelectronmicroscopy(SEM)system,andaJEOLJEM-2010transmissionelectronmicroscopyTEM)[1].Figure：b(alSEMinugeofTiOtfb)TEXIiTnagcofTiOinjmolibers(insetshoe'sthecorresponding£AEDpattern)^(c)TEMimageofAg-TiOjrwnofibcTs(insetshmvsthecorrespondingEAEDpattern)^and(d)a：high-rcsalutLonTEMimageofAg-TiOjnanofibcr.一般情况下，TEM还会装配High-ResolutionTEM(高分辨率透射电子显微镜)、EDX(能量弥散X射线谱)和SAED(选区电子衍射)。High-ResolutionTEM用于观察纳米材料的晶面参数，推断出纳米材料的晶型；EDX一般用于分析样品里面含有的元素，以及元素所占的比率；SAED用于实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。SEMSEM表示扫描电子显微镜，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构和电子结构等等。SEM也是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。ThemorphologiesofthesampleswerestudiedbyaShimadzuSSX-550field-emissionscanningelectronmicroscopy(SEM)system,andaJEOLJEM-2010transmissionelectronmicroscopyTEM)[1].(a)SEMimageofTiO2nanofibersSEM一般会装配EDX，用于分析材料的元素成分及所占比率AFMAFM是指原子力显微镜，原子力显微镜的优点是在大气条件下，以高倍率观察样品表面，可用于几乎所有样品（对表面光洁度有一定要求），而不需要进行其他制样处理，就可以得到样品表面的三维形貌图象。Figure2.Thrce-dimensiQjialAFMimagesof(a)theanauseTiO2single-crystal(101}surfaceand(b—d)therutileTiO^single-CT}rstal(001)j(100Xand(110)surfaces}respectively.Theanatase(101)surfaceandtherutile(001),(100),and(110)surfaceshavebeencharacterizedbyX-raydiffraction(XRD)andbyatomicforcemicroscopy(AFM)[2].XRDXRD是X射线衍射的缩写，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料的晶型结构、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。基本上对于纳米材料的文献都会用到。ThephasesofthesampleswerecharacterizedbyX-raydiffraction(XRD),employingascanningrateof0.05°ersecondina20rangingfrom10to80,usingaBrukerD8AdvaneeX-raydiffractometer(CuKaradiation,入二1.54[7B?)10ID3040紳71b袖*A:Arialascid「..F"*^一-'1^1".nrRF宀二w口蛊u|Figu呼LXRDpatternsofQ)PPy,(,b)TiO^(c)Ag-TiO^ond(d)PPpAg-TiOj.DRSDRS是漫反射谱，是通过光在检验物质表面反射测其反射光线的光谱。主要用于测定纳米材料的吸光特性，并据此估算出纳米材料的禁带宽度。可以看出材料在可见光下是否有吸收，一般合成催化材料的文献都会用到该仪器。TheUV-visDRSwasperformedatroomtemperatureonVARIANCary-5000from200nmto800nm,usingBaSO4asthereflectaneestandarc[1].mnjvUUB£oiAq<0.03004005Q0&DQ7D0Wavelength(nm)ZnMimGRZn£-1&Zll3^%G«ZnS-1%GRblankZnS—I■■f■1■f■*■273.0313X394Jhv(eV)Figure5,UVvisiblediffuserefledaincespectra(DRS)ofthesamplesofZnSGRnanocompositeswithdifferentweightadditionrationofGRandbl^nkZnS^ndtheplatoftrmreform唱臼KubelkaMunkfuncthontheenergyoflight(b)-BOD图片来自[3]PLPL是光致发光的缩写，主要可以用来估计纳米材料的电荷分离效率，实验之前要先确定材料的激发波长。一般情况下，弱的荧光强度表示更高的电荷分离效率，所以催化效果也会相应的提高。Thephotoluminseenee(PL)emissionmainlyresultedfromtherecombinationofexcitedelectronsandholes,andalowerPLintensityindicatedahigherseparationefficiency1].Thephotoluminescenee(PL)spectrawererecordedbyF-4600fluoresceneespectrophotometer(Hitachi,Japan)underambientconditions.Theexcitationwavelengthwas315nm,thescanningspeedwas1200nm/min,andtheslotwidthsoftheexcitationslitandtheemissionslitwereboth5.0nn[1].羽川36042U4种Wivelength(nm)(・=・晁)■肩uxr■一二二丄E:igure$.PLemlssiciiipectra(excitedat325nni)of(a)TiO^(b)Ag-TiOj,(c)PPj-TiOj,砧d(J)PPy-A^-TiOj.7XPSXPS是X射线光电子能谱分析的缩写，XPS可以用来测量：元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素；元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度(光电子峰的面积)反应原子的含量或相对浓度；固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面电子的电子云分布和能级结构等；化合物的结构，可以对内层电子结合能的化学位移精确测量，提供化学键和电荷分布方面的信息。X-rayphotoelectronspectroscopy(XPS)measurementswereperformedonaPHI5000CESCAsystemwithMgKRsourceoperatedat14.0kVand25mA.AllthebindingenergieswererefereneedtotheC1speakat284.6eVfromthesurfaceadventitiouscarbc[4].54XXJOO-44XXMO-13000100008M060010-3WXKKI-2 方法 快递客服问题件处理详细方法山木方法pdf计算方法pdf华与华方法下载八字理论方法下载 。随着仪器的更新和数据处理技术的发展，现在的动态光散射仪器不仅具备测量粒径的功能，还具有测量Zeta电位、大分子的分子量等的能力。InvestigatetheinteractionofEPSwithQDsatthetwophoticconditions(lightanddark,describedabove)bysizingmicrogelsformationmeasuredusingdynamiclightscattering(DLS;BrookhavenInstruments,Holtsville,NYUSA)[5].11.BET测试法一氮气吸附/解吸分析BET测试法是BET比表面积测试法的简称，主要可以看出纳米材料的氮气吸附曲线和孔径分布图。Specificsurfaceareasofthecatalystsweremeasuredat77KbyBrunauerEmmettTeller(BET)nitrogenadsorptiondesorption(MicromeriticsASAP2010Instrument)[6].N2Adsorption/DesorptionAnalysis.TheN2adsorption-desorptionisothermsandBarrett-Joyner-Halenda(BJH)poresizedistributionsofallthesamplesareshowninFigure57].o42-D1.0.0.0.O.Q.0.2D4oea.BRe^laAiwpressure•RflPn)3DD2W宓忸1O&5D0EJ.S120^•150匸T翻百f-25D1D-•-3O<3Ct—3SDC主要可以得出纳米材料的吸附类型，之后可以得到材料的孔径分布图。Figuir%氐Nr占LihMpihLM■—屈吓UfptiuiiJildpcre“乂电di^trubuitdEi.vrtFTiO3nJin