讨论单板测试方案

单板测试1 PCB测试 项次 检测项 检测 方法 快递客服问题件处理详细方法山木方法pdf计算方法pdf华与华方法下载八字理论方法下载 判定基准 结论 备注 1 下载程序测试 板上电，通过下载口下载程序 能正常下载程序后，主芯片能正常工作 2 电源滤波电路测试 在电源输入的要求电压范围内变化，用示波器测量输出电压纹波峰峰值。电源纹波应该小于额定输出的3％；对单板频繁上下电5次，观察是否存在单板不能启动或正常工作的情况。 1）检查电路拓扑是否为公司推荐的拓扑结构与参数范围，否则提一个建议问题。2）满足测试说明，合格；否则，不合格。 3 电源电压/纹波 电路板中电压和纹波均在有负载下测量，优先按照主芯片及各电源芯片Datasheet的电源纹波，电压大小要求测量，Datasheet 手册 华为质量管理手册 下载焊接手册下载团建手册下载团建手册下载ld手册下载 无要求，则按照一般纹波要求：电源小于5V：20mv+电源*10mV电源大于5V:电源*10mV例：5V电源纹波小于70mV例：12V电源纹波小于120mV 符合 设计 领导形象设计圆作业设计ao工艺污水处理厂设计附属工程施工组织设计清扫机器人结构设计 要求 4 保护电路 电源的极性保护电路有两种形式，一种是电源的正负极性接反时，电路不工作，只做保护，这时只是在电源的一极串入一个正向导通的二极管，在电源方向接反时，由于二极管的方向截止特性保护了内部电路；一种是对电源的方向没有要求，正负都可以工作，这时电源输入端应有整流电路，常用的是使用二极管或硅桥整流电路。电源的极性保护电路通常在电源滤波器的之前。电源保护电路建议在正极输入端串联保险丝进行过流保护，当电流太大时，保险丝熔断或暂时熔断对单板进行保护。测试方法：审查有无电源的极性保护电路，对于没有该电路的单板，应要求在电源的输入端具有防反插功能，且有明显的极性指示标志。 1）对于有电源极性保护电路的单板，如果电源极性反接，单板不损坏，为合格，否则，该项不合格；2）对于没有该电路的单板，应要求在电源的输入端具有防反插功能，且有明显的极性指示标志，否则判为不合格。 5 自检测试 通过要求研发每块电路板提供电路板自检程序，能正常快速识别电路板的各模块的好坏；并测试以下要求; 板子的正确运行的测试，能提示各模块的功能正常好坏标示 A：FLASH中可存放程序，也可以存放数据。在烧录FLASH时，可存放预先计算好的checksum值。要测试FLASH时，程序重新计算checksum值，然后与预先存放的值进行比较 B：内存测试分三类；1.数据总线测试：将0001循环左移并写入内存，然后读出并比较测试2.内存区测试：对内存所有储存单元进行读写测试（读写5555H，和AAAAH测试）3.地址总线测试：对0x01地址内存单元写入地址值0x1,地址值循环左移，依次将相应的地址值写入相应的内存地址，最后检验 C:各通信接口能进行回环测试，能进行正常收发数据 6 各模块功能测试 通过查看原理图中各电路的各自设计功能测试，检验设备各模块能否完成它具有的功能，执行其所具有的特定功能 1.样品的各模块设计功能无异常 7 温度应力测试 1.将样品置于测试装置中，该测试装置中的温度变化应满足以下要求： 1：样品外观无异常 最低温度可根据研发定义给 A：最高温度：+80°C最低温度：-30°C B：最高温度持续时间（T1）30分钟，最低温度持续时间(T2)30分钟，最高温度与最低温度变化时间（T3）小于10秒； 2：焊接处无裂纹，脱落现象 C：一个温度变化周期T应等于T1+T2+T3 3：样品的设计功能无异常 2.在样品在经历200个变化周期后将样品取出 8 震动测试 1.随机震动测试 1.样品外观无异常： 可分为正弦振动及随机振动两种。正弦振动是 实验室 17025实验室iso17025实验室认可实验室检查项目微生物实验室标识重点实验室计划 中经常采用的试验方法，以模拟旋转、脉动、震荡（在船舶、飞机、车辆、）所产生的振动以及产品结构共振频率分析和共振点驻留验证为主，其又分为扫频振动和定频振动两种，其严苛程度取决于频率范围、振幅值、试验持续时间。随机振动则以模拟产品整体性结构耐震强度评估以及在包装状态下的运送环境，其严苛程度取决于频率范围、GRMS、试验持续时间和轴向。 A：将样品置于包装容器中并放置在震动仪器内，样品需去除电源及所有信号电缆； B：振动频率：5HZ至200HZ C:功率谱密度0.005g2/Hz D：振动方向：垂直方向Z，水平方向X，Y E:单个振动方向的测试时间3H（小时） 2.样品设计功能无异常 2.正弦振动测试 A：将样品置于包装容器中并放置在震动仪器内，给样品提供电源 B：振动频率：5ＨＺ至５５HZ C：振幅：0.35MM D：振动方向：垂直方向Z，水平方向X，Y E:单个振动方向的测试时间2H（小时） 9 坠落测试 1.将样品按以下重量与坠落高度的关系进行坠落测试： 样品重量 坠落高度 1.目视样品外观无异常 <9KG 760mm 9-18KG 660mm 18-27KG 600mm 2.样品设计功能无异常 27-36KG 450mm 36-45KG 380mm 2.以上坠落测试必须在金属表面上进行 10 温度/湿度测试 1.将样品放置于测试装置中，该测试装置中的温度机湿度应满足以下要求： 1.目视样品外观无异常 A：将测试装置中的初始温度设置为-10°C，经3小时后，装置内的温度升至+70°C，保持该温度（+70°C）2小时后，装置内的温度降至-10°C，降温时间为3小时，并保持-10°C2小时；以上变化为一个测试周期； 2.测试过程中，样品设计功能无异常 B：当装置内的温度大于+25°C，装置内的湿度需>95% 3.测试完毕后，样品设计功能无异常 2.样品需经过24个周期测试周期 3.测试过程中，样品需提供额定工作电压，I/O接口需提供额定负载。 11 盐雾测试 1.盐雾使用5%的NACL溶液，并保持PH为7 1.样品外观表面无锈蚀，外观无异常； 2.测试装置内的温度保持+25°C 3.当样品在盐雾室放置2小时后取出，将样品再放置于温度为40°C，湿度为93%的环境室中21小时；以上测试过程为一个测试周期； 2.样品设计功能无异常 4.样品需经过3个测试周期的盐雾测试 12 启动/停止测试 1.给样品提供额定电压，I/O接口提供额定负载； 1.样品所有回路无断路，短路现象 2.按以下规律使样品电源启动/停止 启动10秒，停止1秒 启动10秒，停止2秒 启动10秒，停止3秒 启动10秒，停止4秒 启动10秒，停止5秒 2.样品在测试后能正常工作 启动10秒，停止6秒 启动10秒，停止7秒 启动10秒，停止8秒 启动10秒，停止9秒 启动10秒，停止10秒 3.样品设计功能无异常 以上过程为一个测试周期 3.样品需经过10个上述测试周期 13 开路/短路测试 1.该测试仅针对功率在15W以上的电子回路（I/O接口） 1.样品无融化现象 2.给样品提供最大的允许工作电压，并给I/0加载最大的允许负载； 2.样品无着火，无爆炸现象 3.将开环电路进行短路，同时将闭环电路进行断路。 14 光照测试 1.使用照度为3000lux荧光照射样品1小时 1.样品的EPROM无损坏 2.再使用照度为10000的自然光照射样品1小时 2.样品设计功能无异常 15 粉尘污染测试 1.将样品放置于测试装置中4小时，该测试装置应满足以下条件： 1.样品设计无功能异常 A:温度/湿度无特殊要求； B:测试装置中的含尘量保持6KG/m3(粉尘使用SAEJ726水泥) 2.4小时后将样品取出，并在15分钟内进行样品设计功能测试（测试前及测试中不可请洗样品） 16 ESD测试 按照GB/T17626.2-2006 样品符合GB/T17626.2-2006要求3等级 17 浪涌测试 按照GB/T17626.5-2006 样品符合GB/T17626.5-2006要求3等级 18 EFT/B测试 按照GB/T17626.4-2006 样品符合GB/T17626.4-2006要求3等级 19 高加速寿命试验 1.温度步进应力测试： 1.记录操作极限值及破坏极限值，分析样品失效的根本原因，并加以改进产品设计，以提高产品的操作极限值及破坏极限值（高加速寿命试验需根据产品的改进状况进行多次试验），并最终确认样品的操作极限值及破坏极限值。 工作温度下限———产品停止工作或不再满足技术条件要求,但温度上升后,产品仍能恢复正常工作的那个温度值。  A:将样品置于高加速寿命测试仪器中，仪器内初始温度为环境温度; 破坏温度下限———产品停止工作或不再满足技术条件要求,且温度上升后,产品已不能恢复正常工作的那个温度值。  B:按-10°C的等级步进降温，并在每个温度点上驻留20分钟（至样品表面温度与试验温度一致），在每个恒定的温度测试点对样品进行设计功能测试，降温至样品设计功能失效（此时如升高温度，样品设计功能应自动恢复），记录此时的测试温度（该温度为操作下极限温度），继续降温至样品设计功能失效（此时如升高温度，样品设计功能无法恢复），记录记录此时的测试温度（该温度为破坏下极限温度）； 工作温度上限———产品停止工作或不再满足技术条件要求,但温度下降后,产品仍能恢复正常工作的那个温度值。  C:按+10°C的等级步进升温，并重复上述B项目的测试步骤，分布记录操作上极限温度与破坏上极限温度； 破坏温度上限———产品停止工作或不再满足技术条件要求,且温度下降后,产品已不能恢复正常工作的那个温度值。  2.快速温变应力测试 工作振动极限———产品停止工作或不再满足技术条件要求,但振动强度下降后,产品仍能恢复正常工作的那个振动强度值。  A：将样品置于高加速寿命测试仪中，仪器内温度应满足以下要求：最高温度应比操作上极限温度低10°C，最低温度应比操作下极限温度高10°C,最高温度与最低温度切换时间应尽量短； 破坏振动极限———产品停止工作或不再满足技术条件要求,且振动强度下降后,产品已不能恢复正常工作的那个振动强度值。  B：样品在最高温度及最低温度点驻留时间不少于10分钟； C：样品需经历5个上述测试周期； D：在测试过程中应同时测试样品设计功能，且样品设计功能无异常； 3.振动步进应力试验 A:将样品置于高加速寿命测试仪器中，仪器开始的振动量级为5GRMS，频率为2HZ~2000HZ之间； B：以5GRMS的振动量级步进递增，并在每个振动量级上驻留15分钟，振动量级步进递增至样品设计功能失效（此时如降低振动量级，样品设计功能应自动恢复，该振动量级为操作极限振动量级） 20 散热率试验 1.将样品置于正常工作环境中（如老化箱控制柜内），并使周围环境温度保持在+25°C； 1.确定样品在一定环境温度下的发热情况及功耗现象 2.给样品提供最大允许工作电压（或者最低工作电压），使样品处于正常 3.在样品提供持续工作相当时间后（大约4小时，至工作空间内的温度恒定），使用测温仪测量样品温度（该过程必须在10秒内完成） 4.记录此时电路板功耗的电压电流&L&GSheet2 &L&GSheet3 &L&G