EUCP_中文_130401(1)

*EOULU 专利 EOULU EUCP_ON WAFER 是一个开放式的晶圆在片测试测量操作系统，它能够连接所有开放驱动的可 编程设备。其核心采用了全球最先进的模块虚拟化专利技术*，让运行的代码量缩小到最小，保证 了测试的稳定性，提高了测试的速度，此外，由 EOULU 首先提出的操作系统概念*，让测试变得 更加简单易操作。 EUCP_ON WAFER EOULU Unified Communication Platform for probe station 软件环境 平台体系结构：x86 操作系统：Windows XP 32 位系统 硬件环境 PC 机 主频：1G 及以上 内存：1G 及以上 存储：20G 及以上 On Wafer EUCP 在片 EUCP EOULU Unified Communication Platform 测试操作系统 - 高精度测试 - 超高速测试 - 所有可编程设备轻松接入 - 操作系统独立升级 - 应用独立升级 - 器件测试独立升级 - 节约产品上市时间 - 复杂应用的轻松实现 - 产品规格书 *EOULU 专利 EOULU 显卡：推荐支持双显示器的显卡 显示器：推荐使用 21 寸或更大的显示器 大小 约 100M 安装 请下载 EUCP.INS.PDF 主体功能 1. 管理所有可编程设备, 可扩展连接 10 个可编程仪表或设备* 2. 可扩展不同测试应用 *超过 10 个设备需要与 EOULU 工程 路基工程安全技术交底工程项目施工成本控制工程量增项单年度零星工程技术标正投影法基本原理 师咨询 功能模块 1. 配置功能 连接可编程硬件 2. 输入输出和建立测试项目 （recipe）功能 输入输出参数管理, 测试项目管理 3. 数据分类(bin)功能 建立 pass/fail 的筛选数值 标准 excel标准偏差excel标准偏差函数exl标准差函数国标检验抽样标准表免费下载红头文件格式标准下载 ，建立不同产品等级数 值标准 4. 输出定义功能 选择输出参数的内容和输出顺序 5. 控制和数据展现功能 执行单点测试，单点连续测试和晶圆测试；测试的基 本信息展现 6. 日志功能 系统工作 记录 混凝土 养护记录下载土方回填监理旁站记录免费下载集备记录下载集备记录下载集备记录下载 ，含时间，执行和报错信息 7. 报表模块（可选） 可根据客户指定的报告 模板 个人简介word模板免费下载关于员工迟到处罚通告模板康奈尔office模板下载康奈尔 笔记本 模板 下载软件方案模板免费下载 ，直接导出测试相关信息 到报告中 8. 插件模块 （可选） 开发插件接口，插入客户指定的专用功能 9. 校准模块 （可选） 对测试结果的校准处理 10. 二次开发模块（可选） 客户可使用 Eoulu 编译器进行开发各种应用，需购买 Eoulu 编译器 11. Wafermap 模块 （可选） 完整的 wafermap 功能 易用性增强，快速定义Wafer, Die, Sub-Die, Cluster 地图 增加了探针台供应商提供的 wafermap 不能处理的特 定功能 指定失效 die 重测功能 Sub-Die 的图形定义 12. 测试结果可视化模块 （可选） 可有多种数据的可视化形式选择，如数据列表，柱状 图，折线图，饼图，条形图，散点图和极坐标图等 13. 网络通信模块 ( 可选) 可远程控制，远程数据采集，数据推送到网络服务器 端 支持局域网和互联网 支持设备和仪表类型 参见附件列表 I EUCP2.0 版本 EUCP-B EUCP-BS EUCP-BA EUCP-CM 描述 EUCP 基本版 EUCP 增强版 EUCP 完整版 EUCP 定制版 平台升级 支持 支持 支持 支持 测量类型 单点测量 单点测量 单点测量 单点测量 *EOULU 专利 EOULU 单点连续测量 单点连续测量 晶圆在片实时测量 单点连续测量 晶圆在片实时测量 单点连续测量 晶圆在片实时测量 支持探针台类型 手动探针台 打点器 手动/半自动探针台 打点器 自动对接 Nucleus 和 Proberbench 手动/半自动探针台 打点器 Edge Sensor 自动对接 Nucleus 和 Proberbench 手动/半自动探针台 全自动探针台 打点器 Edge Sensor 高低温 profile 测试 探针卡 其它客户指定控件 自 动 对 接 Cascade Nucleus 和 Proberbench 支持 Cascade 的 PACE 测试模式 无 无 操作工模式 工程师模式 维修模式 管理员模式 操作工模式 工程师模式 维修模式 管理员模式 数据历史 自动全保存 自动全保存 自动全保存 自动全保存 编号管理 无 Wafer 编号 Lot 编号 Wafer 编号 Lot 编号 Wafer 编号 Lot 编号 可做自动编号定制 最大可连接设备 4 个 6 个 8 个 10 个 支持设备类型 附件 I 列表 附件 I 列表 附件 I 列表 客户可指定增加所 需的设备 附件 I 列表 客户可指定增加所需的 设备 测试应用组合 -仪表组合应用需要 EOULU 工程师指导下使用 3 个 6 个 8 个 10 个 系统升级能力 -可增加可选项的功能模块 无 无 可升级 可升级 应用可升级能力 无 可升级 可升级 可升级 一键运行功能 可选 可选 可选 可选 可选项产品 报表模块 不可选 不可选 可选 可选 插件模块 不可选 不可选 可选 可选 校准算法 可选 不可选 可选 可选 *EOULU 专利 EOULU 二次开发模块 不可选 不可选 可选 可选 Wafermap 模块 不可选 不可选 但可支持 Cascade Nucleus 或 者 Proberbench 的 wafermap 功能 支持探针台供应商的 wafermap 功能 可选 可选 测试结果可视化模块 可选 可选 可选 可选 网络通信模块 可选 可选 可选 可选 EUCP 界面和操作主要说明 1. 配置功能 - 连接的所有的硬件设备，包括探针台和多个仪表 2. 输入输出和建立测试项目（recipe）功能 - 系统自动列出所有的测试相关的仪表，方法，输入和输出参数列表 - 客户可根据需求建立测试项目列表 *EOULU 专利 EOULU 3. 数据分类(bin)功能 - 用户可建立 Pass/ Fail 条件 - 用户可建立最大可达 255 种分类等级品 4. 输出定义功能 - 用户可根据需求自定义输出结果内容和顺序 *EOULU 专利 EOULU 5． 控制和数据展现功能 - 可做单点测试, 单点连续测试和晶圆图测试 - 多种数据展现功能，单值图，图表，表格和报告等形式 - 统计信息展现，已测试芯片数量，合格数量，不合格数量，合格率；已测试时间；测试晶圆的 Lot 号，wafer 号等 附件 I 列表， 更多驱动请访问 www.eoulu.com 仪器仪表类型 仪器仪表名称 厂商 探针台 Cascade 全系列 Cascade Suss Prober 全系列 Suss *EOULU 专利 EOULU EOULU 洛杉矶/赫尔辛基/德累斯顿/香港/北京/上海/成都/昆明 请访问 www.eoulu.com Email: Info@eoulu.com 中国地区销售请联系 地址: 深圳南山区龟山路 8号明华国际会议中心 13楼 1303 室 Unit 1303, Floor 13, Block C of Ming Wah International Convention Center, No.8 Guishan Road, Shekou, Nanshan District, Shenzhen, China 邮编/P.C:518067 电话/Tel: +86-755-21627981 传真/Fax: +86-755-26975515 各种手动探针 … 开放接口的自动探针台 … 负载牵引系统 MT9XXX 自动系列 MAURY 数字信号源/半导体分析仪 HP 4142B Agilent HP4135C HP 4156C Agilent B1500 系列 Agilent LCR E4980 系列 HP 8110A Keithley24xx 系列 Keithley Keithley26xx 系列 Keithley27xx 系列 Keithley37xx 系列 Keithley4200 矢量网络分析仪 Agilent PNA/PNA-X 系列 Agilent VNA 系列 Agilent ENA 系列 Agilent 锁相放大器 Stanford SR830 Stanford 开关矩阵 Keithley70x 系列 Keithley Keithley7001 Keithley Agilent B2201 系列 Agilent 图示仪 IWATSU CT-3100/3200 IWATSU 单色仪 ORIELM 74100 ORIELM 光谱仪 Instrument System CAS Spectrometer Instrument System 光子计数器 Stanford SR400 Gated Photon Counter Stanford 放大器 Stanford l SR570 Low-Noise Current Preamplifier Stanford 延迟信号发生器 Stanford DG645 Digital Delay Generator Stanford