质量体系培训课程

ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达Preparedby:HansonHan质量体系培训课程1.讨论形式的位置安排,教材课后派发2.日常存在的问题,需注意的问题3.结合实际讲解要素4.系统不是一成不变,可修改ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达课程目的：※了解ISO9000和QS-9000质量体系的要求※了解质量体系在公司的内部运作流程ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达目录ISO9000定义简介QS-9000定义简介体系要求体系增加要求每一节有一个小结:总结重点ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达ISO9000（定义）什么是ISO9000？ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达ISO9000(定义)ISO: InternationalStandardizationOrganization国际 标准 excel标准偏差excel标准偏差函数exl标准差函数国标检验抽样标准表免费下载红头文件格式标准下载 化组织国际标准化组织是由各国标准化团体组成的世界性联合会制定国际标准的工作通常由ISO的技术委员会完成ISO9000:由ISO质量管理和质量保证技术委员会质量体系分委员会制定并发布的一系列质量保证体系标准噢!质量系统是一些要求,至于如何达到这些要求,要每个公司根据自己的需要而建立相应的体系ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达ISO9000:1994版简介 ISO9000:1994版系列:ISO9000 品质管理和品质保证标准:选择和使用的指导纲要ISO9001(20个要素) 品质系统:设计开发、生产、安装和服务方面的品质保证模式ISO9002(19个要素) 品质系统:生产和安装的品质保证模式ISO9003(16个) 品质系统:最后检查及试验的品质保证模式ISO9004 品质管理和品质系统要素的指导纲要ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达 1.管理职责 2.质量体系 3. 合同 劳动合同范本免费下载装修合同范本免费下载租赁合同免费下载房屋买卖合同下载劳务合同范本下载 评审 4.设计控制 5.文件和资料控制 6.采购 7.客户提供产品 8.产品标识及可追溯性 9.过程控制 10.检验和试验 11.检查、测量及试验设备的控制 12.检验与测试状态 13.不合格品的控制 14.纠正和预防措施 15.搬运、储存、包装、防护与交货 16.质量记录的控制 17.内部质量审核 18.培训 19.服务 20.统计技术IS09000质量体系要求ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达IS09000质量体系要求质量方针的要求体现组织目标，以及顾客的期望和要求；1.管理职责职责与权限从事与质量有关的管理、执行和验证工作的人员，特别是需要独立行使权力开展工作的人员，需规定职责、权限和相互关系；形成相关的文件（职责说明、组织架构图等）公司的各级人员都理解质量方针并坚持贯彻执行。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达IS09000质量体系要求管理者代表确保按ISO9000标准要求建立、实施和保持质量体系；1.管理职责管理评审管理层在规定的时间间隔内对质量体系进行评审；评审的记录要予以保存。明文规定职责和权限提供适当资源指派管理者代表向管理层报告质量体系的运行状况；就质量体系相关的事宜与外部各方进行联络。1.CPK=(X-LSL)/3σ =(USL-X)/3σ2.控制图: 直方图,X-R图3.=d2/R4.通过计算,分析出现时制程的情况ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达2.质量体系IS09000质量体系要求质量体系文件确定途径和职责确定谁，做什么，何时做回答如何做信息的及时记录质量手册程序作业指引质量记录规定如何满足质量要求，形成文件并适于操作ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达3.合同评审评审公司运作程序SOP0301NONOYESYES在接受合同或订单之前IS09000质量体系要求ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达3.合同评审修订记录IS09000质量体系要求NOYES公司运作程序SOP0301确定如何修订合同公司用了17个,不用设计控制,客户提供产品,服务ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达4.设计控制设计和开发的策划组织和技术接口设计的输入IS09000质量体系要求设计的输出设计的评审公司运作程序SOP0401ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达4.设计控制设计验证设计确认设计更改IS09000质量体系要求OKNO所有设计更改应得到经授权人员确定,形成文件,并评审和批准。公司运作程序SOP0401ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达5.文件和资料的控制文件的批准和发布建立并保持相关的程序控制与本标准有关的所有文件和资料。文件和资料的更改文件发布前应由授权人员审批其适用性文件和资料的更改应由原文件的原审批部门（组织）进行审批，如指定其它部门/组织审批时，其他部门/组织应获得审批所需依据的背景资料。IS09000质量体系要求ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达5.文件和资料的控制IS09000质量体系要求新文件受控流程公司运作程序SOP0501ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达5.文件和资料的控制IS09000质量体系要求旧文件更新流程遗失旧文件公司运作程序SOP0501ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达6.采购分承包方的评价IS09000质量体系要求B级以上C级及以下评价流程公司运作程序SOP0602ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达6.采购采购产品的验证IS09000质量体系要求OKNO验证流程公司运作程序SOP1001ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达7.顾客提供产品的控制对顾客提供的产品建立保持、验证、贮存和维护的控制程序。IS09000质量体系要求流程图公司运作程序SOP0701ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达8.产品标识和可追溯性在接受和生产、交付及安装的各阶段以适当的方式标识产品。IS09000质量体系要求9.过程控制确定并策划直接影响质量的生产、安装和服务过程，确保这些过程在受控状态下进行。过程控制ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达10.检验和试验建立并保持进行检验和试验活动的形成文件的程序，以验证产品是否满足要求。进货检验和试验过程检验和试验IS09000质量体系要求OKNG公司运作程序SOP1001ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达10.检验和试验过程检验和试验最终检验和试验在所要求的检验和试验完成或必需的报告收到和验证之前，不得将产品放行(如有可靠追回程序时才可例外放行,但亦需要经检验之后)。所有规定的检验和试验均已完成，且满足规定要求。检验和试验包括进货检验和过程检验。IS09000质量体系要求NGOK公司运作程序SOP1001ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达10.检验和试验检验和试验记录建立并保存表明产品已经检验和/试验的记录。清楚表明产品是否已按所有规定的标准通过检验和/或试验。标明负责合格产品放行的授权检验者。IS09000质量体系要求QR特殊特性:客户的要求,如Intel阻抗“”ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达11.检验、测量和试验设备的控制对用以证实产品是否符合规定要求的检验、测量和试验设备，要建立并保持控制、校准和维修的形成文件的程序。确保其测量的不确定度已知。与要求测量能力一致。IS09000质量体系要求12.检验和试验状态产品的检修和试验状态应加以适当的方式标识，标明产品经检验和试验后合格与否。13.不合格品的控制建立并保持不合格品控制的形成文件的程序，以防止不合格品的非预期使用或安装。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达14.纠正和预防措施建立并保持实施纠正和预防措施的形成文件的程序。纠正措施为消除现有不合格或其它不希望情况产生的原因以防止再次发生所采取的措施。预防措施为消除潜在不合格或其它不希望情况的原因以防止其发生所采取的措施。IS09000质量体系要求YesNO公司运作程序SOP1401ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达15.搬运、贮存、包装、防护和交付建立并保持产品的搬运、贮存、包装、防护和交护的形成文件的程序。搬运提供防止产品损坏或变质的搬运方法。贮存使用指定的贮存场地或库房，以防止产品在使用或交付前受到损坏或变质。包装对装箱、包装和标志过程（包括所用材料）进行必要的控制，以确保符合规定要求。IS09000质量体系要求ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达15.搬运、贮存、包装、防护和交付防护当产品受供方控制时，供方应对其采用适当的防护和隔离措施。交付最终检验和试验后，供方应采取保护产品质量的措施。IS09000质量体系要求16.质量记录的控制建立并保持质量记录的标识、收集、编目、查阅、归档、贮存、保管和处理的形成文件的程序。以证明符合规定的要求和质量体系的有效运行。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达17.内部质量审核为验证质量活动和有关结果是否符合 计划 项目进度计划表范例计划下载计划下载计划下载课程教学计划下载 的按排，并确定质量体系的有效性，需建立并保持用于策划和实施内部质量审核的形成文件的程序。IS09000质量体系要求建立程序制定年度审核计划审查根据生产活动的重要性安排,审查人员与被审查部门没直接关系记录结果采取纠正措施举例子:金盐是受政府的控制ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达17.内部质量审核IS09000质量体系要求内部审核流程YesNOYesNO公司运作程序SOP1701ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达18.培训建立并保持形成文件的程序，明确培训要求并对所有从事对质量有影响的工作人员都进行培训。IS09000质量体系要求培训对质量有影响的人员对从事特殊工作人员应按所要求的教育培训和/或经历进行资格考核考核特殊工作人员的资格保存培训记录ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达19.服务在规定有服务要求的情况下，供方应建立并保持对服务的实施、验证和报告的形成文件的程序，使服务满足规定要求。IS09000质量体系要求不接受接受服务流程公司运作程序SOP1901ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达20.统计技术明确对确定、控制和验证过程能力以及产品特性所需的统计技术。建立并保持形成文件的程序，以实施已确定的统计技术。IS09000质量体系要求建立程序运用统计技术,选择适当的统计工具ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000（定义）什么是QS-9000？ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000定义ISO9000顾客特定要求QS-9000克莱斯勒、福特、通用汽车以ISO9000为基础美国三大汽车公司：卡车制造业者加以改进而制定的质量管理体系。和质量体系特殊要求第Ⅰ部分第Ⅱ部分存在问题:执行问题ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000简介持续改进(ContinuousImprovement)加强预防缺陷(DefectPrevent)减少在供应链中的变差及浪费(ReduceVariation)团队合作(TeamWork)QS-9000特点ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达质量体系要求(QSR)产品质量先期策划和控制计划(APQP)生产件批准(PPAP)统计过程控制(SPC)测量系统分析(MSA)潜在失效模式分析(FMEA)质量体系评定(QSA)QS-9000简介QS-9000七本手册ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求1.管理职责组织内部职能部门中有人代表顾客的需求管理评审采用多方论证的方法进行决策不符合规定要求的产品或过程需迅速报告给负责纠正措施的管理者管理评审必须包括质量体系的所有要素，并采用多方论证的方法进行提问:1.制程如何认可?2.设备如何认可?ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求1.管理职责业务计划对公司在短期（1~2年）和长期（3年或以上）的发展计划使用正式的、形成文件的、全面的业务计划加以描述。公司级数据和资料的分析和使用将质量趋势、运行性能（生产率、效率、不良质量的成本）、关键产品、服务的质量等级形成文件。将数据和资料的趋势与业务计划的目标进行比较，采取措施达到目标。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求1.管理职责顾客满意度必须制定确定顾客满意度的书面程序，包括确定的频次以及如何确保其客观和有效性。以客观的资料支持顾客满意/不满意的主要方面。见下页流程图ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求1.管理职责顾客满意度顾客满意度测量流程YesNONOYesContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系质量策划用来确定和制定确保产品使顾客满意所需的步骤。成立多功能小组制定〈APQP实施计划〉实施并跟进进度持续改进多功能小组产品质量先期策划和控制计划(APQP)目标：促进与所涉及的每一个人的联系，确保步骤按时完成。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达APQP的进度表计划和确定项目产品设计和开发验证过程设计和开发验证产品和过程确认反馈、评定和纠正措施ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达APQP流程图:项目确定和产品设计开发阶段ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达APQP流程图:过程设计开发和确认阶段、反馈评定和纠正措施阶段ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系特殊特性在过程控制的指南（如FMEAS、控制计划、作业指导书）上必须标上顾客特殊特性符号。特殊特性符号：◇可行性评审在签订生产某种产品合同之前，必须研究并确认该产品的制造可行性。产品安全性在设计控制和过程控制中，必须考虑适当的安全防护和产品安全，并促使内部人员了解产品的安全因素。存在问题:当问题出现时,无反应计划ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系潜在失效模式分析(FMEA)之过程失效模式分析（PFMEA）目的：发现、评价产品/过程中潜在的失效及后果；发找到能够避免或减少这些潜在失效发生的措施；将上述过程文件化。实施方法（以PFMEA为例）：描述过程可能的纠正预防措施描述过程发生的步骤想象可能的潜在失效模式头脑风暴法存在问题:跟进差ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系过程失效模式分析(PFMEA)实施方法（以PFMEA为例）：评估失效发生的严重程度（严重度S）由低到高（1~10分）失效可能发生的机率（发生度O）由低到高（1~10分）失效发生后可能检测到的机率（探测度D）由高到低（1~10分）风险顺序数（RPN）＝S×O×D列出对可能失效的建议措施和反应计划对风险顺序数由高到低的过程采取措施（先对高风险顺序数的项目开展行动）ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系实施方法（以PFMEA为例）：评估采取措施后的新的风险顺序数不断循环，持续改进不断的对风险顺序数由高到低采取措施，力图降低风险顺序数将效果形成文件（控制计划，作业指引，PFMEA）不断提高解决问题的能力过程失效模式分析(PFMEA)采用PDCA的过程，不断循环ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达PFMEA样板Sheet1 Elec&EltekDisplayTechnology(Guangzhou)CompanyLtd. 依利安达（广州）显示器有限公司 潜在失效模式及后果分析 新工艺 新材料 制表: 产品编号: 顾客:Philip 分析项目: 工序/操作机号： 部门: FMEA编号: 关键日期: FMEA日期(编制): 页码:第页,共页 主要参加人: 过程功能 潜在失效模式 潜在失效后果 严重度(S) 级别 潜在失效起因/机理 频度(O) 现行工艺控制 探测度(D) 风险顺序数RPN 建议纠正措施 责任及目标 措施结果 要求 完成日期 采取的措施 S O D R 风险顺序数(R)=严重度(S)×频度(O)×探测度(D) SOP0204-01A Elec&EltekDisplayTechnology(Guangzhou)CompanyLtd. 依利安达（广州）显示器有限公司 潜在失效模式及后果分析 新工艺 新材料 制表: 产品编号:94-41128 顾客:Philip 分析项目:线距、短路、PI、seal、盒厚 工序/操作机号： 部门:生产部 FMEA编号:S-001001 关键日期:NOV-24-00 FMEA日期(编制):NOV-20-00(修订): 页码:第2页,共5页 主要参加人:冯昉--工艺邓夏林--工艺郭世--品保薛凤灵--设备饶益华--工艺吴机生--工艺 过程功能 潜在失效模式 潜在失效后果 严重度(S) 级别 潜在失效起因/机理 频度(O) 现行工艺控制 探测度(D) 风险顺序数RPN 建议纠正措施 责任及目标 措施结果 要求 完成日期 采取的措施 S O D R Topcoating膜厚不均 机器与平台调节不当 2 测厚仪测量 4 0 生产前试生产不够 2 测厚仪测量 4 0 滴液气压不稳定 2 测厚仪测量 4 0 玻璃未清洗干净 2 测厚仪测量及目视检查 4 0 玻璃表面脏 2 测厚仪测量及目视检查 4 0 Topcoating位置 缺划 8 柱皮尺寸不准确 2 投影仪测量 2 32 8 柱皮变形 2 投影仪测量 2 32 8 设备调节不当 2 投影仪测量 2 32 8 曝光偏位 5 投影仪测量 2 80 影响外观 7 柱皮尺寸不准确 2 投影仪测量 2 28 None 7 设备调节不当 2 投影仪测量 2 28 None 7 曝光偏位 5 投影仪测量 2 70 None 风险顺序数(R)=严重度(S)×频度(O)×探测度(D) EWB-3-609-01A Elec&EltekDisplayTechnology(Guangzhou)CompanyLtd. 依利安达（广州）显示器有限公司 潜在失效模式及后果分析 新工艺 新材料 制表: 产品编号:94-41128 顾客:Philip 分析项目:线距、短路、PI、seal、盒厚 工序/操作机号： 部门:生产部 FMEA编号:S-001001 关键日期:NOV-24-00 FMEA日期(编制):NOV-20-00(修订): 页码:第3页,共5页 主要参加人:冯昉--工艺邓夏林--工艺郭世--品保薛凤灵--设备饶益华--工艺吴机生--工艺 过程功能 潜在失效模式 潜在失效后果 严重度(S) 级别 潜在失效起因/机理 频度(O) 现行工艺控制 探测度(D) 风险顺序数RPN 建议纠正措施 责任及目标 措施结果 要求 完成日期 采取的措施 S O D R PI膜厚不均 产品对比度不均 7 机器与平台调节不当 2 测厚仪测量 4 56 7 生产前试生产不够 2 测厚仪测量 4 56 7 滴PI气压不稳定 2 测厚仪测量 4 56 7 玻璃表面脏 3 测厚仪测量及目视检查 4 84 7 PI配置时混合不均匀 1 测厚仪测量 4 28 None PI位置 影响产品可靠性 8 柱皮尺寸不准确 4 投影仪测量 4 128 8 设备调节不当 4 投影仪测量 4 128 8 曝光偏位 5 投影仪测量 4 160 影响外观 7 柱皮尺寸不准确 4 投影仪测量 2 56 7 设备调节不当 4 投影仪测量 2 56 7 曝光偏位 5 投影仪测量 2 70 风险顺序数(R)=严重度(S)×频度(O)×探测度(D) EWB-3-609-01A Elec&EltekDisplayTechnology(Guangzhou)CompanyLtd. 依利安达（广州）显示器有限公司 潜在失效模式及后果分析 新工艺 新材料 制表: 产品编号:94-41128 顾客:Philip 分析项目:线距、短路、PI、seal、盒厚 工序/操作机号： 部门:生产部 FMEA编号:S-001001 关键日期:NOV-24-00 FMEA日期(编制):NOV-20-00(修订): 页码:第4页,共5页 主要参加人:冯昉--工艺邓夏林--工艺郭世--品保薛凤灵--设备饶益华--工艺吴机生--工艺 过程功能 潜在失效模式 潜在失效后果 严重度(S) 级别 潜在失效起因/机理 频度(O) 现行工艺控制 探测度(D) 风险顺序数RPN 建议纠正措施 责任及目标 措施结果 要求 完成日期 采取的措施 S O D R seal位置 seal高度 seal宽度 风险顺序数(R)=严重度(S)×频度(O)×探测度(D) EWB-3-609-01A Elec&EltekDisplayTechnology(Guangzhou)CompanyLtd. 依利安达（广州）显示器有限公司 潜在失效模式及后果分析 新工艺 新材料 制表: 产品编号:94-41128 顾客:Philip 分析项目:线距、短路、PI、seal、盒厚 工序/操作机号： 部门:生产部 FMEA编号:S-001001 关键日期:NOV-24-00 FMEA日期(编制):NOV-20-00(修订): 页码:第5页,共5页 主要参加人:冯昉--工艺邓夏林--工艺郭世--品保薛凤灵--设备饶益华--工艺吴机生--工艺 过程功能 潜在失效模式 潜在失效后果 严重度(S) 级别 潜在失效起因/机理 频度(O) 现行工艺控制 探测度(D) 风险顺序数RPN 建议纠正措施 责任及目标 措施结果 要求 完成日期 采取的措施 S O D R 盒厚不均 彩虹，严重时影响功能 8 ITO玻璃基板不平 4 2 64 None 8 用错边框胶 2 投影仪测量盒厚测试仪测量 2 32 None 8 用错导电胶 2 2 32 None 8 用错空间粉 2 2 32 None 8 空间粉喷洒不均 3 投影仪测量 2 48 None 8 打气固化压力不当 3 盒厚测试仪测量 2 48 None 8 整平压力不当 3 盒厚测试仪测量 2 48 None 风险顺序数(R)=严重度(S)×频度(O)×探测度(D) EWB-3-609-01A工艺新产品工艺新产品工艺新产品工艺新产品工艺新产品MBD00058653.docMBD00108CB3.docMBD00247C7C.docMBD000589A0.docMBD00035014.docContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达防错在过程、设施、设备和工装策划过程中，必须采用适当的防错技术。控制计划在产品的系统、子系统、部件和/或材料的适当层次上建立控制计划。在需要时，控制计划应包括：样件、试生产、生产三个阶段。QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达控制计划Sheet1 ControlPlan Page1of3 PrototypePre-launchProductionControlplannumber001 Keypeople/PhoneKwokTaiWong/020-82268333 Date(Orig.)Mar-1-2001 Date(Rev.) Partnumber/Latestchangelevel CoreteamCrossfunctionalteam-Seelist Customerengineeringapproval/Date(Ifrequired) Partnumber/Description91-51229-310B0 Supplier/Plantapproval/Date Cuotomerqualityapproval/Date(Ifrequired) Supplier/PlantElec&Eltek Suppliercode Otherapproval/Date(ifrequired) Otherapproval/Date(Ifrequired) Part/Processnumber Processname/Operationdescription Machine,device,jigandtoolsformfg. Characteristics Specialchar.class Methods Reactionplan No. Product Process Product/Processspecificationtolerance Evaiuationmeasurementtechnique Sample Controlmethod Size Frequency 1 Cleaning Machinenumber101-02 Cleaningquality Detergentconcentration 0.48±0.05mol/L Titration Once 4Hrs Titrationandrecord Adjustandtitration 2 Photo-resistcoating Machinenumber101-04 Coatingthickness 19±4KA TencorP-11surfaceprofiler 5Points/Sheet Sheet/2Hrs X-Bar-Rchart Adjustandremeasure 3 UVexposure Machinenumber102-02102-05102-08 UVintensity Min/Max≥80% UVintensitymeter 9Points Daily Measurementandrecord ChangetheUVlamp 4 Developing Machinenumber103-02 Developingquality 20xMicroscope 1Sheet 2~3Lots Inspectionandrecord Rework,adjustandreinspect Solutionconcentration 0.12±0.01mol/L Titration Once 2Hrs Titrationandrecord Adjustandtitration Patterndimension 0~6um 100xMicroscope 5Points/Sheet Sheet/2~3Lots X-Bar-Rchart Rewor,adjustandremeasure 5 Etching Machinenumber103-06 Etchingquality Solutionconcentration 7±1mol/L Titration Once 2Hrs Titrationandrecord Adjustandtitration Surfaceresistance ≥200MΩ Digitalmulti-meter 5Points/Sheet Sheet/2Hrs Measurementandrecord Segregateandadjust 6 Stripping Machinenumber103-06 Strippingquality Solutionconcentration 0.65±0.10mol/L Titration Once 4Hrs Titrationandrecord Adjustandtitration 7 PI Machinenumber106-04106-11 Thickness 500±100A TencorP-11surfaceprofiler 5Points/Sheet Sheet/2Hrs X-Bar-Rchart Rework,adjustandremeasure Position ±0.35mm 50xMicroscope 9Points/Sheet Sheet/2Hrs X-Bar-Rchart Rework,adjustandremeasureElec&EltekDisplayTechnology(GuangZhou)CompanyLtd.依利安达（广州）显示器有限公司Elec&EltekDisplayTechnologyLimited依利安达电德有限公司Elec&Eltek依利安达XSheet2 ControlPlan Page2of3 PrototypePre-launchProductionControlplannumber001 Keypeople/PhoneKwokTaiWong/020-82268333 Date(Orig.)Mar-1-2001 Date(Rev.) Partnumber/Latestchangelevel CoreteamCrossfunctionalteam-Seelist Customerengineeringapproval/Date(Ifrequired) Partnumber/Description91-51229-310B0 Supplier/plantapproval/Date Cuotomerqualityapproval/Date(Ifrequired) Supplier/PlantElec&Eltek Suppliercode Otherapproval/Date(Ifrequired) Otherapproval/Date(Ifrequired) Part/Processnumber Processname/Operationdescription Machine,device,jigandtoolsformfg. Characteristics Specialchar.class Methods Reactionplan No. Product Process Product/Processspecificationtolerance Evaiuationmeasurementtechnique Sample Controlmethod Size Frequency 8 Rubbing Machinenumber107-02107-06 Rollspeed 1000±20rpm Digitaltachometer Once EveryShift Measurementandrecord Adjustandremeasure 9.a Epoxyscreenprinting Machinenumber108-03 Epoxywidth 0.10~0.28mm 50xMicrpscope 5Points/Sheet 1Sheet/Hr X-Bar-Rchart Adjustandremeasure Epoxyheight 20±8um 50XMeasuringmicroscope(HISOMETⅡ) 5Points/Sheet 1Sheet/Hr Measurementandrecord Adjustandremeasure 9.b Dotscreenprinting Machinenumber109-03 Silverdotheight 22±8um 5Points/Sheet 1Sheet/Hr Measurementandrecord Adjustandremeasure 10 Spacerspraying Machinenumber109-08 Spacerdistribution 30±10spacer/mm2 100xMicroscope 9Points/Sheet 1Sheet/Hr Measurementandrecord Adjustandremeasure 11 Curing Machinenumber111-01~111-06 Oventemperature Thermometer Once 30Minutes Checkdata Adjustandexamine 12 Alignmentinspection Registrationandsealingquality Sodiumlamp 1Panel Everylot Inspectionandrecord Marking 13 Cellscribingandbreaking Machinenumber201-01~201-11 LCDdimension ±0.15mm Caliper 5Pcs Twice/Day X-Bar-Rchart Adjustandremeasure DCG ±0.10mm 50xMicroscope 5Pcs Twice/Day X-Bar-Rchart Adjustandremeasure 14 LCfilling Machinenumber203-01~203-06 LCinjection LCDtester 10Pcs ChangemodelandLC Inspectionandrecord Adjustandretest 15 End-sealing Machinenumber204-01 UVintensity 50~100mw/cm2 UVintensitymeter Once Daily Measurementandrecord AdjustandremeasureElec&EltekDisplayTechnology(GuangZhou)CompanyLtd.依利安达（广州）显示器有限公司Elec&EltekDisplayTechnologyLimited依利安达电德有限公司Elec&Eltek依利安达XSheet3 ControlPlan Page3of3 PrototypePre-launchProductionControlplannumber001 Keypeople/PhoneKwokTaiWong/020-82268333 Date(Orig.)Mar-1-2001 Date(Rev.) Partnumber/Latestchangelevel CoreteamCrossfunctionalteam-Seelist Customerengineeringapproval/Date(Ifrequired) Partnumber/Description91-51229-310B0 Supplier/Plantapproval/Date Cuotomerqualityapproval/Date(Ifrequired) Supplier/PlantElec&Eltek Suppliercode Otherapproval/Date(Ifrequired) Otherapproval/Date(Ifrequired) Part/Processnumber Processname/Operationdescription Machine,device,jig,toolsformfg. Characteristics Specialchar.class Methods Reactionplan No. Product Process Product/Processspecificationtolerance Evaiuationmeasurementtechnique Sample Controlmethod Size Frequency End-sealwidth ≤7.0mm Caliper 10Pcs 2Hrs Measurementandrecord Adjustandremeasure End-sealheight ≤0.7mm 100xMicroscope 10Pcs 2Hrs Measurementandrecord Adjustandremeasure 16 Visualinspection Visualdefect Standardfilm Lighttable 100% Continuous Inspectionandrecord Segregate 17 Electricaltest Functiondefect LCDtester 100% Continuous Inspectionandrecord Segregate 18 Polarizeraffixing Cuttingandgrindingdimension Caliper 1Strip/Sheet Changemodel Measurementandrecord Adjustandremeasure Cuttingangle Protractor 1Piece/Sheet Changemodel Measurementandrecord Adjustandremeasure Visualdefect Lighttable 100% 100% Inspectionandrecord Rework 19 Outgoinginspection Visualandfunctiontest AQL Everylot Inspectionandrecord Rework Packageinspection 100% 100% Inspectionandrecord Rework Remark: Customer'sspecialcharacteristic,includinginternalspecialcharacterisic. Internalspecialcharacteristic.Elec&EltekDisplayTechnology(GuangZhou)CompanyLtd.依利安达（广州）显示器有限公司Elec&EltekDisplayTechnologyLimited依利安达电德有限公司Elec&Eltek依利安达XSheet4 控制计划 第1页，共3页 样件试生产生产控制计划编号001 主要联系人/电话 日期（编制）June-29-2001 日期（修订） 零件编号/最新更改等级 核心小组多功能小组 顾客工程批准/日期（如需要） 零件名称/描述91-41550 供方/工厂批准/日期 顾客质量批准/日期（如需要） 供方/工厂E&E 供方代码 其它批准/日期（如需要） 其它批准/日期（如需要） 零件/过程编号 过程名称/操作描述 机器、装置夹具、工装 特性 特殊特性分类 方法 反应计划 编号 产品 过程 产品/过程 规范 编程规范下载gsp规范下载钢格栅规范下载警徽规范下载建设厅规范下载 /公差 评价/测量技术 样本 控制方法 容量 频率 1 第一次清洗 机器编号101-02 清洗液浓度 0.48±0.05mol/L 滴定 首件 滴定、记录 调整再滴定 2 涂光刻胶 机器编号101-04 光刻胶厚度 19±4KA 测厚仪 5点/件 首件 X-Bar-R图 调整再测量 3 曝光 机器编号102-02102-05102-08 UV光强 最大/最小≥80% 光强仪 9点/机 每天 测量、记录 换UV灯 4 显影 机器编号103-02 显影效果 检验标准WI-PE- 显微镜 1片 首件 检查、记录 返工、调整后再进行检查 显影液浓度 0.12±0.01mol/L 滴定 首件 滴定、记录 调整再滴定 线宽 0~6um 100倍显微镜 5点 首件 测量、记录 返工、调整后再进行测量 5 蚀刻 机器编号103-06 蚀刻液浓度 7±1mol/L 滴定 首件 滴定、记录 调整再滴定 测量电阻 ≥200MΩ 万用表 5点 首件 测量、记录 隔离、调整后再进行测量 6 剥离 机器编号103-06 剥离液浓度 0.65±0.10mol/L 滴定 首件 滴定、记录 调整再滴定 7 TopCoating 厚度 500±100A 测厚仪 5点 首件 测量、记录、Ppk 返工、调整后再进行测量 位置 ±0.35mm 投影仪 9点 首件 测量、记录、Ppk 返工、调整后再进行测量Elec&EltekDisplayTechnology(GuangZhou)CompanyLtd.依利安达（广州）显示器有限公司Elec&EltekDisplayTechnologyLimited依利安达电德有限公司Elec&Eltek依利安达×Sheet5 控制计划 样件试生产生产控制计划编号001 主要联系人/电话 日期（编制）June-29-2001 日期（修订） 零件编号/最新更改等级 核心小组多功能小组 顾客工程批准/日期（如需要） 零件名称/描述91-41550 供方/工厂批准/日期 顾客质量批准/日期（如需要） 供方/工厂E&E 供方代码 其它批准/日期（如需要） 其它批准/日期（如需要） 零件/过程编号 过程名称/操作描述 机器、装置夹具、工装 特性 特殊特性分类 方法 反应计划 编号 产品 过程 产品/过程规范/公差 评价/测量技术 样本 控制方法 容量 频率 8 PI 机器编号106-04 厚度 500±100A 测厚仪 5点 首件 测量、记录、Ppk 返工、调整后再进行测量 位置 ±0.35mm 投影仪 9点 首件 测量、记录、Ppk 返工、调整后再进行测量 9 磨纹 机器编号107-02 毛轮转速 1000±20rpm 转速仪 1次 每班 测量、记录 调整、再测量 10a 丝印边框胶 机器编号108-03 丝印效果 检验标准WI-PE- 目检 1片 首件 检查、记录 返工、调整后再进行检查 WI-PD-1002-01A×Sheet6 控制计划 第1页，共3页 样件试生产生产控制计划编号001 主要联系人/电话 日期（编制）June-29-2001 日期（修订） 零件编号/最新更改等级 核心小组多功能小组 顾客工程批准/日期（如需要） 零件名称/描述91-41550 供方/工厂批准/日期 顾客质量批准/日期（如需要） 供方/工厂E&E 供方代码 其它批准/日期（如需要） 其它批准/日期（如需要） 零件/过程编号 过程名称/操作描述 机器、装置夹具、工装 特性 特殊特性分类 方法 反应计划 编号 产品 过程 产品/过程规范/公差 评价/测量技术 样本 控制方法 容量 频率Elec&EltekDisplayTechnology(GuangZhou)CompanyLtd.依利安达（广州）显示器有限公司Elec&EltekDisplayTechnologyLimited依利安达电德有限公司Elec&Eltek依利安达×MBD00092737.docMBD0010F468.doc(MBD0024CC52.docMBD00250604.docMBD002504C2.docMBD0010F599.doc(MBD0010EBCA.doc(MBD0010EF5F.doc(MBD0010DF03.doc(MBD0002E3B0.docMBD0002E4EF.docMBD00008167.doc(1.若使用未经检查的物料,应对物料做标识,记录ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系确定供方是否已经正确理解顾客工程设计记录和规范的所有要求，并在要求的条件下（@）生产过程中，具有持续满足这些要求的潜在能力。PPAP目的：@此条件是：该生产过程必须是1小时到8小时的生产，且规定的生产数量至少为300件连续生产的部件。怎样评估供方已理解所有要求，并具备生产的能力呢生产件批准(PPAP)提问:现时存在的问题,无法检查?ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系要求供方提供19项资料作为证明： 1.设计记录(EPN,图纸等) 2.工程更改文件(如有) 3.工程批准（如顾客要求） 4.DFMEA 5.过程流程图 6.PFMEA 7.尺寸结果 8.材料、性能试验结果 9.初始过程研究 10.测量系统分析研究 11.具有资格的实验室文件 12.控制计划 13.零件提交保证书 14.外观批准报告(适用) 15.散装材料要求检查清单 16.生产件样品 17.标准样品 18.检查辅具 19.符合顾客特殊要求的记录我们公司的产品不是散装材料,故我们要提交的资料只有18项.生产件批准(PPAP)ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系持续改进必须延伸到应最优先考虑的特殊特性的产品特性上。确定质量和生产率的改进需要，并实施适当的改进项目。必须应用适用的持续改进的措施和方法。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求2.质量体系设施和工装管理采用多方论证方法，将制定设施、过程和设备计划与质量先期策划过程相结合。制定适当的方法及标准以监控现有操作的有效性(参见过程控制的预防维护计划）。建立和实施工装管理系统，包括：维护及修理设施与人员贮存与修复工装准备易损工具的更换计划工具的修整，包括工具设计的文件ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求3.合同评审顾客特殊要求的满足。就质量体系的要求，必须满足所有顾客要求。4.设计控制设计输出建立从原有设计项目中获得信息的程序，并应用于与其性质相似的现行和未来项目中。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求4.设计控制潜在失效模式分析(FMEA)之设计失效模式分析（DFMEA）DFMEA和PFMEA的联系：其实施方法与PFMEA类似。PFMEA的风险顺序数的严重度的降低只可通过DFMEA的更改去降低PFMEA应将无法通过过程控制的达到效果项目反馈给DFMEA,通过更改DFMEA的方式去降低风险顺序数应通过努力更改设计的方式来达到预防的目的,而不是事后的过程控制ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求4.设计控制设计确认设计确认必须按顾客项目时间要求进行，并记录确认结果。设计更改所有的设计更改，在生产实施之前均须有顾客的书面批准。除非顾客放弃要求。顾客样件支持顾客要求时，必须要有全面的样件试制计划。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求4.设计控制保密性必须确保与顾客签约开发的产品及有关产品的信息的保密性。5.文件和资料的控制工程规范必须及时评审、分发和实施所有顾客工程标准/规范及其更改的程序文件。必须保存关的记录。几天内！ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求6.采购如顾客有经批准的分承包方名单，则必须从该名单上的分承包方采购材料。总则用于生产的所有采购材料均必须满足政府、安全和环保法规。分承包方的评价以QS-9000的第一部分作为基本质量体系要求，对分承包方质量体系开发，并以分承包方达到QS-9000为目标。必须要求分承包方具有100%按时交货的能力。见下页分承包方开发流程图ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达OKNOQS-9000质量体系特殊要求6.采购顾客有无批核名单采购部OKNO分承包方开发ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求7.顾客提供产品的控制顾客所有的工装顾客的所有工装和设备必须永久性标识，使设备所有关系清晰。8.产品标识和可追溯性与ISO9000对比，QS-9000此条款无大的区别。举例:用钢尺量线宽ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求9.过程控制必须保持生产设施处于清洁、有序的状态，并清理生产现场。必须制定如供应力中断，劳动力短缺等紧急情况下向顾客供货的应急计划。必须在特殊特性的确定、文件化和控制方面满足顾客的所有要求。必须标识关键过程的设备，对机器/设备的维护提供适当的资源，并建立有效、有计划的全面预防维护系统。过程监视和作业指导书必须为所有负责过程操作的人员提供文件化的过程指导书。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求9.过程控制维持过程控制必须保持（或超出）执行PPAP时批准的过程能力或性能。实施控制计划和过程流程图，包括测量技术抽样计划接受准则不满足接受准则时的反应计划如何维持？ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求9.过程控制更改的过程控制要求当顾客要求过高或过低的过程能力或性能要求时，在控制计划上作相应的注释。作业准备的验证无论何时进行作业准备，均必须进行作业准备验证。如何验证？末件比较（推荐使用）统计方法ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求9.过程控制过程更改必须保存过程更改生效日期的记录。外观项目必须提供适当资源在评价区有适当的照明有适当的标准样件维护和控制标准样件及评价设备对外观检验人员的资格进行验证ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求10.检验和试验总则计数数据接收抽样计划的接受准则必须是：最终检验和试验按顾客要求的频次对所有产品进行全尺寸检验和功能验证。什么是全尺寸检验？对零件在设计记录上标明的进行完整的测量。必须以适当的频次对进行审核，以验证符合所有规定要求。0ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求10.检验和试验实验室要求实验室必须将其方针、体系、大纲、程序、规程和结果全部形成文件，以确保实验室范围内的试验或校准结果的质量。实验室的人员必须有适当的背景和 经验 班主任工作经验交流宣传工作经验交流材料优秀班主任经验交流小学课改经验典型材料房地产总经理管理经验 。对实验室的试验产品和/或校准设备仪器建立接收、标识、搬运、防护和保存或处理的程序文件。对影响试验结果质量的实验室环境状况进行监视、控制和记录。使用满足顾客要求且适合所进行的试验或校准的方法，包括抽样方法。客户投诉:8D防错:FMEA,电测的电眼ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求10.检验和试验实验室要求在形成数据的验证活动中采用适当的统计技术。使用的商业/独立实验室(外部)必须是：什么是是指经某一国家承认的机构按ISO/IEC导则25或国家等效标准为实验室认可进行评审和批准的实验室。0ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求11.检验、测量和试验设备的控制记录必须包括校准须选用有资格的内部实验室顾客承认的机构认可的商业/独立实验室检验、测量和试验设备记录按工程更改进行的修订（如适用）当接受校准时，任何偏离规范的读数在校准后，符合规范的说明如果可疑的材料或产品可能已装运，通知顾客ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求11.检验、测量和试验设备的控制测量系统分析(MSA)为什么要对测量系统进行分析我们通常说某一具体物体的特性时，我们往往会说它是多长多宽，具体到用数据来表达，就是多少个米或分米等等。我们怎么知道数据呢？测量并假定测量是准确的实际上，测量系统中存在着影响单次测量结果的变差，即测量不一定是准确的！怎样判断测量系统是否准确并适用？对测量系统进行分析！ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求11.检验、测量和试验设备的控制测量系统分析(MSA)测量误差的类型：偏倚测量结果的观测平均值与基准值的差值ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达再现性测量误差的类型：重复性由一个评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值差值由不同的评价人，采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时测量值平均值的变差量具的重复性和再现性分析通常称为：GageR&RContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达量具重复性再现性分析Sheet1 GageR&R 工序 > 生产部一楼生产线 评介人(A)> XXX 规格公差: 标准参数 > 0.44±0.09 评介人(B)> YYY 最小> 0.35 测量日期 > JUN-7-2001 测量仪器> 投影仪L-PD-205 最大> 0.53 OBS. 评价人(A)XXX 评价人(B)YYY 统计结果 SAMPLE Trial1 Trial2 Trial3 平均 范围 Trial1 Trial2 Trial3 平均 范围 1 0.423 0.428 0.418 0.423 0.010 0.419 0.428 0.425 0.424 0.009 XA= 0.407 XB= 0.408 2 0.408 0.415 0.409 0.411 0.007 0.411 0.415 0.413 0.413 0.004 3 0.410 0.412 0.415 0.412 0.005 0.405 0.406 0.409 0.407 0.004 Xdiff= 0.001 4 0.402 0.406 0.405 0.404 0.004 0.406 0.403 0.402 0.404 0.004 5 0.399 0.401 0.398 0.399 0.003 0.402 0.409 0.409 0.407 0.007 RA= 0.005 RB= 0.006 6 0.405 0.403 0.401 0.403 0.004 0.405 0.406 0.405 0.405 0.001 7 0.391 0.394 0.393 0.393 0.003 0.390 0.405 0.396 0.397 0.015 R= 0.005 8 0.409 0.414 0.408 0.410 0.006 0.409 0.415 0.409 0.411 0.006 9 0.413 0.410 0.412 0.412 0.003 0.411 0.408 0.410 0.410 0.003 UCLR= 0.014 10 0.406 0.410 0.405 0.407 0.005 0.403 0.409 0.402 0.405 0.007 仪器变差(EV) 评价变差(AV) TOTALR&R EV=R*K1= 0.017 AV=[Xdiff*K2]^2-[(EV)^2/(n*r)] R&R=(EV)^2+(AV)^2 AV= 0.000 R&R= 0.017 仪器变差百分比 评价变差百分比 R&RPERCENT EV AV R&R EV%= x100% AV%= x100% R&R%= x100% TotalTolerance TotalTolerance TotalTolerance EV%= 9.3% AV%= 0.0% R&R%= 9% VeryGood. NOTE: R&RPercent必须符合以下要求: RequirementsfortheGRR: 1.低于10%=很好 1.Samples（测量样品个数）=10pcs 2.在10%和30%之间=有限度的接受 2.Trials（每个样本测量次数）=3 3.超过30%=不可接受 3.Appraiser（评价人）=2GR&R Vendor Elec&Eltek GRRRECORDINGSHEET Station > 生产部一楼生产线 Operator(A)> 段春玲 Specificationtolerance: ParameterMeasured > 0.44±0.09 Operator(B)> 邓海英 minimum> 0.35 MeasurementDate > JUN-7-2001 Equipment> 投影仪L-PD-205 maximum> 0.53 OBS. APPRAISER(A) APPRAISER(B) STATISTICS SAMPLE Trial1 Trial2 Trial3 Ave Range Trial1 Trial2 Trial3 Ave Range 1 0.423 0.428 0.418 0.423 0.010 0.419 0.428 0.425 0.424 0.009 XA= 0.407 XB= 0.408 2 0.408 0.415 0.409 0.411 0.007 0.411 0.415 0.413 0.413 0.004 3 0.410 0.412 0.415 0.412 0.005 0.405 0.406 0.409 0.407 0.004 Xdiff= 0.001 4 0.402 0.406 0.405 0.404 0.004 0.406 0.403 0.402 0.404 0.004 5 0.399 0.401 0.398 0.399 0.003 0.402 0.409 0.409 0.407 0.007 RA= 0.005 RB= 0.006 6 0.405 0.403 0.401 0.403 0.004 0.405 0.406 0.405 0.405 0.001 7 0.391 0.394 0.393 0.393 0.003 0.390 0.405 0.396 0.397 0.015 R= 0.005 8 0.409 0.414 0.408 0.410 0.006 0.409 0.415 0.409 0.411 0.006 9 0.413 0.410 0.412 0.412 0.003 0.411 0.408 0.410 0.410 0.003 UCLR= 0.014 10 0.406 0.410 0.405 0.407 0.005 0.403 0.409 0.402 0.405 0.007 EQUIPMENTVARIATION(EV) APPRAISERVARIATION(AV) TOTALR&R EV=R*K1= 0.017 AV=[Xdiff*K2]^2-[(EV)^2/(n*r)] R&R=(EV)^2+(AV)^2 AV= 0.000 R&R= 0.017 EQUIPMENTVARIATIONPERCENT APPRAISERVARIATIONPERCENT R&RPERCENT EV AV R&R EV%= x100 AV%= x100 R&R%= x100 TotalTolerance TotalTolerance TotalTolerance EV%= 9.3% AV%= 0.0% R&R%= 9% VeryGood. NOTE: TheTotal%R&Rshouldmeetthefollowingconditions: RequirementsfortheGRR: 1.Below10%=verygood 1.Samples=10pcs 2.Between10%-25%=marginallyacceptable 2.Trials=3 3.Over25%=unacceptable 3.Appraiser=2 Also,theUCLrrepresentsthelimitofindividualR's.Redthosethatarebeyond.&CGageRepeatabilityandReproducibilityStudyContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达稳定性线性测量误差的类型：由测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值的总变差ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达12.检验和试验状态标识补充验证当顾客要求时，必须满足附加的验证/标识要求。所有的分析方法及接受准则：线性测量误差的类型：在量具的预期的工作量程内，偏倚值的差值ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达量具偏倚与线性分析对话框编辑表1 对话框标题确定取消主菜单 量具偏倚与线性分析 主菜单 请选择 A5次试验-10个零件 B5次试验-5个零件 C使用方法简介A5次试验-10个零件B5次试验-5个零件C使用方法简介Sheet2 BiasandLinearityStudy GageName > Profileprojector Date > JUL-8-2001 PreparedBy> GageNo > L-PD-205 GageType > VP-300D ProcessTolerance> 0.01 ApprovedBy> GageData Unit：mm Part 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 RefereneValue 5.00 10.00 15.00 20.00 25.00 30.00 35.00 40.00 45.00 50.00 Trials 1 5.002 10.000 14.999 19.999 25.000 29.999 35.000 40.000 45.002 49.998 2 5.001 10.001 14.999 20.000 25.001 30.000 35.000 39.999 45.000 49.999 3 5.000 10.000 14.999 20.000 25.001 30.000 34.999 40.000 44.999 49.999 4 5.000 10.000 14.999 19.999 25.000 29.999 34.999 40.000 45.000 49.999 . 5 4.998 9.999 15.000 19.999 25.000 29.999 34.999 39.999 44.999 50.000 PartAverage 5.0002 10.0000 14.9992 19.9994 25.0004 29.9994 34.9994 39.9996 45.0000 49.9990 RefereneValue(X) 5.00 10.00 15.00 20.00 25.00 30.00 35.00 40.00 45.00 50.00 Bias（y） 0.0002 0 -0.0008 -0.0006 0.0004 -0.0006 -0.0006 -0.0004 0 -0.001 Biasy=b+aX a= ∑(xy)-[∑x(∑y)/n] b= ∑(y/n)-ax[∑(x/n)] Linearity= aX(P.T.) ∑x2-(∑x)2/n = -0.000000 = -0.00001 = 0.00129 %Linearity= 100（LIN./P.T.） = 0.00119 % Biasy=b+ax GoodnessofFit(R2)= [∑(xy)-(∑x∑y)/n]2 = 0.00129 + -0.00001 X [∑x2-(∑x)2/n2]X[∑y2-(∑y)2/n2] = 0.022835trial-10sample BIASANDLINEARITYSTUDY GageName > Profileprojector Date > JUL-8-2001 PreparedBy> WEIJUNHUANG GageNo > L-PD-205 GageType > VP-300D ProcessTolerance> 0.01 ApprovedBy> GageData Unit：mm Part 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 RefereneValue 5.00 10.00 15.00 20.00 25.00 30.00 35.00 40.00 45.00 50.00 Trials 1 5.002 10.000 14.999 19.999 25.000 29.999 35.000 40.000 45.002 49.998 2 5.001 10.001 14.999 20.000 25.001 30.000 35.000 39.999 45.000 49.999 3 5.000 10.000 14.999 20.000 25.001 30.000 34.999 40.000 44.999 49.999 4 5.000 10.000 14.999 19.999 25.000 29.999 34.999 40.000 45.000 49.999 . 5 4.998 9.999 15.000 19.999 25.000 29.999 34.999 39.999 44.999 50.000 PartAverage 5.0002 10.0000 14.9992 19.9994 25.0004 29.9994 34.9994 39.9996 45.0000 49.9990 RefereneValue(X) 5.00 10.00 15.00 20.00 25.00 30.00 35.00 40.00 45.00 50.00 Bias（y） 0.0002 0 -0.0008 -0.0006 0.0004 -0.0006 -0.0006 -0.0004 0 -0.001 Biasy=b+aX a= ∑(xy)-[∑x(∑y)/n] b= ∑(y/n)-ax[∑(x/n)] Linearity= aX(P.T.) ∑x2-(∑x)2/n = -0.000000 = -0.00001 = 0.00129 %Linearity= 100（LIN./P.T.） = 0.00119 % Biasy=b+ax GoodnessofFit(R2)= [∑(xy)-(∑x∑y)/n]2 = 0.00129 + -0.00001 X [∑x2-(∑x)2/n2]X[∑y2-(∑y)2/n2] = 0.02283 BIASANDLINEARITYSTUDY LinearityPlot&L&"TimesNewRoman,常规"Page&P&"宋体,常规"of&N&C&"TimesNewRoman,常规"&D&T&F&R&"TimesNewRoman,常规"SOP1102-045trial-10sample 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0基准值偏倚线性图5trial-5sample BIASANDLINEARITYSTUDY GageName > VernierCaliber Date > JUL-13-2001 PreparedBy> WEIJUNHUANG GageNo > L-PD-294 GageType > 25mm ProcessTolerance> 0.006 ApprovedBy> GageData Unit：mm Part 1 2 3 4 5 RefereneValue 5.12 10.24 15.36 21.50 25.00 LinearityPlot Trials 1 5.122 10.240 15.361 21.502 25.002 2 5.121 10.241 15.361 21.502 25.001 3 5.121 10.241 15.361 21.502 25.001 4 5.121 10.241 15.361 21.502 25.001 . 5 5.121 10.241 15.361 21.502 25.001 PartAverage 5.1212 10.2408 15.3610 21.5020 25.0012 RefereneValue(X) 5.12 10.24 15.36 21.50 25.00 Bias（y） 0.0012 0.0008 0.001 0.002 0.0012 Biasy=b+aX a= ∑(xy)-[∑x(∑y)/n] b= ∑(y/n)-ax[∑(x/n)] Linearity= aX(P.T.) ∑x2-(∑x)2/n = 0.000000 = 0.00003 = -0.00086 %Linearity= 100（LIN./P.T.） = 0.00265 % Biasy=b+ax GoodnessofFit(R2)= [∑(xy)-(∑x∑y)/n]2 = -0.00086 + 0.00003 X [∑x2-(∑x)2/n2]X[∑y2-(∑y)2/n2] = 0.00568返回主菜单&L&"TimesNewRoman,常规"Page&Pof&N&C&"TimesNewRoman,常规"&D&T&F&R&"TimesNewRoman,常规"SOP1102-04返回主菜单5trial-5sample 0 0 0 0 0基准值偏倚线性图用法 使用方法 1、本程式用于对量具进行偏倚与线性分析 2、在主菜单处选择相应工作表 3、在选定工作表中绿色表格内输入资料和数据 4、按返回主菜单键返回主菜单 返回主菜单返回主菜单ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求13.不合格品的控制总则适用于可疑的材料或产品和不合格品。什么是可疑的材料或产品？任何检验和试验状态不确定的材料或产品。必须对所有不合格的、可疑的材料或产品和隔离区提供可视的标识。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求13.不合格品的控制必须量化和分析不合格品，并建立优先减少计划。在工作场所，必须易于得到返工指导书。在未得到顾客的批准前，不得将外观可见返工痕迹的产品用作维修用途。不合格品的评审和处置经工程批准的产品的授权只要产品或过程与现批准的产品或过程不同，就需要事先经顾客授权批准ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求14.纠正和预防措施总则解决问题的方法：内部的不符合规范且有效的方法外部的不符合规范且有效的方法顾客规定的方法采用适当的防错技术适当：其程度应与问题的重要性和所承受的风险的程序相适应ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求14.纠正和预防措施纠正措施必须对退货进行分析，并保存其记录，要求时，可向顾客提供。必须在类似的过程和产品中存在的不合格原因采取纠正措施。15.搬运、贮存、包装、防护和交付贮存必须使用库存管理系统，优化库存周转期，最大限度地减少库存量。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求15.搬运、贮存、包装、防护和交付包装必须符合所有顾客的特殊包装标准/指南。必须建立确保所有装运材料都按顾客要求进行标识的系统。交付必须建立支持的系统，以满足顾客生产及服务要求。生产计划必须由订单驱动。必须有（除非顾客放弃此要求）接受顾客策划信息和装运计划的计算机系统和装运提前通知（以便在装运时发出通知）的在线计算机系统。100%按期交付ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求16.质量记录的控制记录保存一般质量性能记录（控制图、检验和试验结果等）：产生的当年+下一个日历年（完整的从1月1日至12月31日的时间段）生产件批准文件、工装记录、采购订单、顾客订单等：零件在现行生产和服务中规定的在用期+一个日历年（除非顾客要求）内部质量审核和管理评审：必须保留三年可以自己规定保存期限，但必须至少满足以上要求。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求17.内部质量审核内部审核计划当不合格品或客户投诉增多时,可增加审核频率。审核计划必须覆盖所有的班次。18.培训培训有效性培训的有效性必须进行定期评审ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求19.服务服务信息反馈建立服务信息的内部沟通程序CustomerInformationFormDate:Ref:Releasedto:DEPDPMCQAMPPCMKTCustomer:Address:ContactPerson:Tel:Title:Fax:E-mail:Website:Informationabout:OrderTechnologyComplaintOthersOrderInformation:Releasedby:Date:Technology:Releasedby:Date:Complaint:(PleaserefertodocumentSOP1402)Releasedby:Date:Others:Releasedby:Date:Iftherehasanymoreinformation,Pleasereleasedasattachment.(No.ofpagesofattachments:)SOP1901-01AContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求20.统计技术统计工具的选择在APQP中确定每一过程适用的统计工具，并包括在控制计划中。基本统计知识概念在组织内进行培训，使整个组织了解统计技术的基本概念。没有两件产品或特性是完全相同的。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求20.统计技术变差的造成原因特殊原因(可控制)：不是始终作用于过程的变差的原因普通原因(不可控制)：随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多原因普通原因的消除采取系统的措施（通过管理人员对系统采取措施纠正的）特殊原因的消除采取局部的措施（通过与操作直接有关的人员局部纠正的）不是所有的特殊原因造成对过程分布的改变都是有害的。有时侯有利。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达QS-9000质量体系特殊要求20.统计技术可控制（特殊原因）和不可控制（普通原因）的变差的如何区分？控制图二十世纪二十年代贝尔实验室的休哈特博士提出控制图的制作步骤：1、收集：2、控制：3、分析及改进：收集被研究特性的数据，将之转化成可以画在控制图上的形式。利用数据计算试验控制限，将之画在图上作为分析的指南。判断变差是否仅由普通原因引起。作为监控工具，也可计算过程能力。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达控制图的制作流程：持续改进20.统计技术ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达控制图的选定原则ρn图开始特性性质？不良数或缺陷数？单位一定？n一定？ρ图C图μ图样本n≥2？X-Rm图CL性质？n大小？CL：中心线n：样本数n=2~910＜n＜25n=1YesNoNoNo计数值计量值Yes缺陷数不良数20.统计技术ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达控制图样本20.统计技术Sheet1 工序： 样本容量： 9 工艺规格： 0±0.35 Date: 频次 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 测定值 X1 0.104 0.059 0.090 0.182 0.068 0.175 0.136 0.134 0.194 0.125 0.252 0.218 0.232 0.223 0.111 0.114 0.123 0.094 0.105 0.095 0.077 0.172 0.231 0.061 0.183 0.158 0.082 0.174 0.221 0.163 0.119 0.162 0.163 0.102 0.207 X2 0.118 0.192 0.116 0.133 0.070 0.046 0.140 0.132 0.098 0.096 0.109 0.178 0.256 0.101 0.143 0.096 0.127 0.081 0.168 0.089 0.085 0.139 0.115 0.069 0.141 0.075 0.066 0.174 0.162 0.089 0.067 0.147 0.127 0.111 0.257 X3 0.100 0.115 0.057 0.285 0.040 0.164 0.146 0.124 0.206 0.148 0.094 0.103 0.280 0.248 0.082 0.176 0.135 0.113 0.114 0.099 0.093 0.194 0.106 0.097 0.203 0.066 0.175 0.112 0.081 -0.065 -0.101 0.260 0.156 0.169 0.215 X4 0.069 0.215 0.120 0.119 -0.081 -0.047 0.140 0.132 0.102 0.089 0.129 0.089 0.120 0.147 0.134 0.108 0.128 0.066 0.149 0.099 0.120 0.160 0.275 0.080 0.142 0.142 0.277 0.117 0.080 0.161 0.213 0.100 0.082 0.144 0.269 X5 0.062 0.140 0.076 0.196 0.134 0.218 0.143 0.120 0.226 0.187 0.200 0.190 0.145 0.127 0.122 0.102 0.223 0.089 0.125 0.117 0.099 0.169 -0.104 0.077 0.129 0.093 0.069 0.198 0.264 -0.058 0.080 0.095 0.119 0.043 0.209 X6 0.116 0.107 0.156 0.144 0.114 0.191 0.161 0.099 0.167 0.111 0.138 0.179 0.107 0.118 0.132 0.142 0.219 0.117 0.193 0.128 0.149 0.136 0.102 0.098 0.182 0.188 0.236 0.085 0.243 -0.080 0.176 -0.060 0.134 0.100 0.187 X7 0.115 0.132 0.285 0.119 -0.107 -0.174 0.092 0.106 0.278 0.134 0.122 0.186 0.102 0.127 0.199 0.106 0.000 0.061 0.164 0.110 0.135 0.139 0.089 0.184 0.153 0.077 0.222 0.085 0.149 -0.110 0.156 0.125 0.134 0.133 0.124 X8 0.090 0.092 0.083 0.087 0.133 -0.199 0.082 0.084 0.142 0.196 0.137 0.120 0.191 0.185 0.218 0.097 0.299 -0.107 0.099 0.163 0.108 0.081 0.206 0.177 0.110 0.191 0.077 0.078 0.139 0.117 0.072 0.115 0.211 0.129 0.130 X9 -0.061 0.091 0.099 0.077 0.124 -0.080 0.062 0.081 0.129 0.128 0.159 0.098 0.187 0.174 0.210 0.137 0.256 -0.104 0.120 0.093 0.180 0.145 0.087 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ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达2、控制：分析图形上的点剔除特殊原因的影响UCLCLLCLUCLCLLCLUCLCLLCL一点超出UCL或在LCL下7点连续上升或下降连续7点在中心线上或下20.统计技术ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达2、分析改进：监控稳定的过程，计算过程能力。已经处于统计控制状态的过程，可以通过控制图进行日常的监控，但是过程的能力如何呢？过程能力的概念过程能力反映了普通原因引起的变差(当过程处于受控状态时满足规范的能力)过程能力的评估是假定处于受控状态的过程服从钟形的正态分布(NormalDistribution)假定设计目标值位于规格的中心如果以测量值画直方图，会很容易发现大多数的值集中在中心的区域，如果对直方图进行描点，就会得出一个钟形的曲线（见左图）。所有的测量值均分布在红色的钟形曲线内。20.统计技术Chart2 0.0010284467 0.0010284467 0.0010284467 0.0010284467 0.0015897952 0.0015897952 0.0015897952 0.0015897952 0.0024142362 0.0024142362 0.0024142362 0.0024142362 0.0036016172 0.0036016172 0.0036016172 0.0036016172 0.0052783058 0.0052783058 0.0052783058 0.0052783058 0.0075992505 0.0075992505 0.0075992505 0.0075992505 0.0107479635 0.0107479635 0.0107479635 0.0107479635 0.0149334727 0.0149334727 0.0149334727 0.0149334727 0.0203833072 0.0203833072 0.0203833072 0.0203833072 0.0273317663 0.0273317663 0.0273317663 0.0273317663 0.0360031049 0.0360031049 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0.3911418527 0.3911418527 0.3911418527 0.3990434422 0.3990434422 0.3990434422 0.3990434422 0.3911418527 0.3911418527 0.3911418527 0.3911418527 0.3683635244 0.3683635244 0.3683635244 0.3683635244 0.3333091004 0.3333091004 0.3333091004 0.3333091004 0.2897650113 0.2897650113 0.2897650113 0.2897650113 0.2420320823 0.2420320823 0.2420320823 0.2420320823 0.1942352957 0.1942352957 0.1942352957 0.1942352957 0.1497654328 0.1497654328 0.1497654328 0.1497654328 0.1109489614 0.1109489614 0.1109489614 0.1109489614 0.0789701781 0.0789701781 0.0789701781 0.0789701781 0.0540046573 0.0540046573 0.0540046573 0.0540046573 0.0354835883 0.0354835883 0.0354835883 0.0354835883 0.022400209 0.022400209 0.022400209 0.022400209 0.0135864135 0.0135864135 0.0135864135 0.0135864135 0.0079174587 0.0079174587 0.0079174587 0.0079174587 0.0044329722 0.0044329722 0.0044329722 0.0044329722 0.0023846927 0.0012325316 0.0006120571 0.000292021 0.0001338642 0.000058958 0.0000249488 0.0000101434 0.0000039623 0.0000014871NormDisLSLTargetUSLW1_053 W1_053.WK1 Numberofpartsperunit: 100 1000 Half Half Process Spec. <--normaldistributiontable--> Average Total Average Total Process Spec. Shift Width Eccentricity Total Defects/ Assembly Defects/ Assembly Shift Width Cp [sigma] Cpk [sigma] u(LE) u(RI) ppm(LE) ppm(RI) PPM's unit Yield[%] unit Yield[%] Cp [sigma] Cpk [sigma] PPM 0.60 0 0.60 1.8 -1.8 1.8 35930 35930 71860 7.186 0.08 71.86 0.00 0.60 0 0.60 1.8 71860 1.00 0 1.00 3.0 -3.0 3.0 1350 1350 2700 0.27 76.34 2.7 6.72 0.67 0 0.67 2.0 45500 1.33 0 1.33 4.0 -4.0 4.0 31.7 31.7 63.4 0.00634 99.37 0.0634 93.86 1.00 0 1.00 3.0 2700 1.67 0 1.67 5.0 -5.0 5.0 0.28 0.28 0.56 0.000056 99.99 0.00056 99.94 1.17 0 1.17 3.5 465 2.00 0 2.00 6.0 -6.0 6.0 0.001 0.001 0.002 0.0000002 100.00 0.000002 100.00 1.33 0 1.33 4.0 63 0.60 1 0.27 1.8 -0.8 2.8 211860 2555 214415 21.4415 0.00 214.415 0.00 1.50 0 1.50 4.5 7 1.00 1 0.67 3.0 -2.0 4.0 22750 31.7 22781.7 2.27817 10.25 22.7817 0.00 1.67 0 1.67 5.0 0.6 1.33 1 1.00 4.0 -3.0 5.0 1350 0.28 1350.28 0.135028 87.37 1.35028 25.92 1.83 0 1.83 5.5 0.04 1.67 1 1.33 5.0 -4.0 6.0 31.7 0.001 31.701 0.0031701 99.68 0.031701 96.88 2.00 0 2.00 6.0 0.002 2.00 1 1.67 6.0 -5.0 7.0 0.28 0.28 0.000028 100.00 0.00028 99.97 0.60 1.5 0.10 1.8 -0.3 3.3 382090 483 382573 38.2573 0.00 382.573 0.00 1.00 1.5 0.50 3.0 -1.5 4.5 66807 3.4 66810.4 6.68104 0.13 66.8104 0.00 1.33 1.5 0.83 4.0 -2.5 5.5 6210 0.02 6210.02 0.621002 53.74 6.21002 0.20 1.67 1.5 1.17 5.0 -3.5 6.5 233 233 0.0233 97.70 0.233 79.22 2.00 1.5 1.50 6.0 -4.5 7.5 3.4 3.4 0.00034 99.97 0.0034 99.66 Cp(1-k) RE=Rightsideofthedistribution k=Shift/(3*Cp) LE=LeftsideofthedistributionPPM_CPK 71860 45500 2700 465 63 7 0.6 0.04 0.002CpkPPM(max)PPM(max)=f(Cpk)Foraprocess,runningontarget(Cp=Cpk)PPM 71860 214415 382573 2700 22781.7 66810.4 63.4 1350.28 6210.02 0.56 31.701 233 0.002 0.28 3.4Shift=0sigmaShift=1sigmaShift=1.5sigmaSpecificationWidth[insigma's]ppmPPM=f(SpecificationWidth[insigma's])(X-axis=3*Cp)BOTH 71860 214415 382573 0.6 0.2666666667 0.1 2700 22781.7 66810.4 1 0.6666666667 0.5 63.4 1350.28 6210.02 1.3333 0.9999666667 0.83333 0.56 31.701 233 1.6666 1.3333266667 1.166666 0.002 0.28 3.4 2 1.6666666667 1.5Shift=0sigmaShift=1sigmaShift=1.5sigmaHalfofSpec.Width[insigma's]ppmPPM&Cpk=f(OnesidedSpec.Width)Sheet1 Normaldistribution Mu 10 These2valuescanbechanged. Sigma 1.5 X-axiswillnotadaptautomatically.UseEdit/Fill/Series/column X N_D LSL Target USL 5 0.0010284467 6.5 10 13.5 5.2 0.0015897952 6.5 10 13.5 5.4 0.0024142362 6.5 10 13.5 5.6 0.0036016172 6.5 10 13.5 5.8 0.0052783058 6.5 10 13.5 6 0.0075992505 6.5 10 13.5 6.2 0.0107479635 6.5 10 13.5 6.4 0.0149334727 6.5 10 13.5 6.6 0.0203833072 6.5 10 13.5 6.8 0.0273317663 6.5 10 13.5 7 0.0360031049 6.5 10 13.5 7.2 0.0465898617 6.5 10 13.5 7.4 0.0592273222 6.5 10 13.5 7.6 0.0739659743 6.5 10 13.5 7.8 0.0907446597 6.5 10 13.5 8 0.1093677757 6.5 10 13.5 8.2 0.1294901972 6.5 10 13.5 8.4 0.1506134004 6.5 10 13.5 8.6 0.172095512 6.5 10 13.5 8.8 0.1931766742 6.5 10 13.5 9 0.2130193397 6.5 10 13.5 9.2 0.2307610959 6.5 10 13.5 9.4 0.245575683 6.5 10 13.5 9.6 0.2567363352 6.5 10 13.5 9.8 0.2636747383 6.5 10 13.5 10 0.2660289615 6.5 10 13.5 10.2 0.2636747383 6.5 10 13.5 10.4 0.2567363352 6.5 10 13.5 10.6 0.245575683 6.5 10 13.5 10.8 0.2307610959 6.5 10 13.5 11 0.2130193397 6.5 10 13.5 11.2 0.1931766742 6.5 10 13.5 11.4 0.172095512 6.5 10 13.5 11.6 0.1506134004 6.5 10 13.5 11.8 0.1294901972 6.5 10 13.5 12 0.1093677757 6.5 10 13.5 12.2 0.0907446597 6.5 10 13.5 12.4 0.0739659743 6.5 10 13.5 12.6 0.0592273222 6.5 10 13.5 12.8 0.0465898617 6.5 10 13.5 13 0.0360031049 6.5 10 13.5 13.2 0.0273317663 6.5 10 13.5 13.4 0.0203833072 6.5 10 13.5 13.6 0.0149334727 6.5 10 13.5 13.8 0.0107479635 6.5 10 13.5 14 0.0075992505 6.5 10 13.5 14.2 0.0052783058 6.5 10 13.5 14.4 0.0036016172 6.5 10 13.5 14.6 0.0024142362 6.5 10 13.5 14.8 0.0015897952 6.5 10 13.5 15 0.0010284467 6.5 10 13.5Normaldistribution 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0NormDisLSLTargetUSLTarget=Mu=10/Sigma=1ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达规范分布过程分布过程能力指数(Cp&Cpk)20.统计技术過程能力指數=LSL：规范下限USL：规范上限σ：标准偏差,标准偏差显示出过程中的数离它们的平均数的距离6σ：过程总变差μ：过程平均值更多的统计概念请参考：统计过程控制(SPC)参考手册d2是常数，随样本容量变化ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达过程能力计算(Cp&Cpk)20.统计技术過程能力指數評價Cpk>1.67非常充足1.33<Cpk<1.67充足1.00<Cpk<1.33尚可,有待改善0.67<Cpk<1.00不足Cpk<0.67太低,須立即改善ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达20.统计技术过程能力与PPM过程变差(μ与T之间的距离)PPM是PartPerMillion的缩写，意思是百万分之几的比例。用于不良率即表示百万分之几的不良，如600PPM表示不良比例为一百万件中有600件不良。T是设定目标值μ是过程中心值过程变差为零时CpCpkPPM1.001.0027001.331.3363.41.671.670.56过程变差为1σ时1.000.6722781.71.331.001350.281.671.3331.701过程变差为1.5σ时1.000.5066810.41.330.836210.021.671.17233ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达总结：质量系统是一个系统的工程。ISO9000偏重于体系方面的符合性（定性型），而QS-9000则偏重于产品方面的符合并且有数据方面的限定（既定性又定量）。两个体系都是很宽广的范围。但对比ISO9000，QS-9000有以下几点的增加要求需要谨记：最重要的是：持续改进(ContinuousImprovement)ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达后记：本文件适用于对中上层的管理人员了解ISO9000和QS-9000的培训，也可用于员工的关于质量体系的基础知识培训。因个人能力有限，如发现问题，请予不啬指教。文件编写过程中主要参考ISO9000条文和QS-9000手册并以下文件：1、PhilipsBUMDSDoc:UZV-B0/H100-13的部分内容2、EEKPPCB的《QS-9000基础知识》文件的PowerPoint的母版在编写过程中得到以下同事的协助，在此表示感谢：Mr.KwokTaiWong提供了MSA和SPC的一些表格和SPC知识的咨询Mr.MengTang协助制作了一些AutoCAD的图片MissMingJingLin协助了文字的处理声明：本文件版权归依利安达(广州)显示器有限公司所有，非经依利安达或原作者同意，不得复制。ContinuousImprovement持续改进ISO9000QS-9000Elec&Eltek依利安达THEENDShouldyouhaveanyquestionsorfindanyproblems,Pleasekindlycontacthansonhan@eleceltek.com1.讨论形式的位置安排,教材课后派发2.日常存在的问题,需注意的问题3.结合实际讲解要素4.系统不是一成不变,可修改每一节有一个小结:总结重点质量系统是一些要求,至于如何达到这些要求,要每个公司根据自己的需要而建立相应的体系1.CPK=(X-LSL)/3σ =(USL-X)/3σ2.控制图: 直方图,X-R图3.=d2/R4.通过计算,分析出现时制程的情况公司用了17个,不用设计控制,客户提供产品,服务特殊特性:客户的要求,如Intel阻抗“”举例子:金盐是受政府的控制存在问题:执行问题提问:1.制程如何认可?2.设备如何认可?存在问题:当问题出现时,无反应计划存在问题:跟进差1.若使用未经检查的物料,应对物料做标识,记录提问:现时存在的问题,无法检查?举例:用钢尺量线宽客户投诉:8D防错:FMEA,电测的电眼