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采用白光干涉色色调信息测量零级波片延迟量的方法采用白光干涉色色调信息测量零级波片延迟量的方法 第 卷 第 期年 月红外与激光工程 40 9 2011 9 Vol.40 No.9 Infrared and LaseErng ineerng Sep.2011 i 采用白光干涉色色调信息测量零级波片延迟量的方法 王 军,陈 磊,刘兆栋,边 疆,王 苹,庄 严 (南京理工大学 电子工程与光电技术学院,江苏 南京 210094) 摘要, 介绍了一种基于白光干涉色的色调值计算零级波片延迟量的方法,在白光正交偏振 系统中, 利用 HSV 色度系统分析白光干涉色 ,...

采用白光干涉色色调信息测量零级波片延迟量的方法
采用白光干涉色色调信息测量零级波片延迟量的方法 第 卷 第 期年 月红外与激光工程 40 9 2011 9 Vol.40 No.9 Infrared and LaseErng ineerng Sep.2011 i 采用白光干涉色色调信息测量零级波片延迟量的方法 王 军,陈 磊,刘兆栋,边 疆,王 苹,庄 严 (南京理工大学 电子工程与光电技术学院,江苏 南京 210094) 摘要, 介绍了一种基于白光干涉色的色调值计算零级波片延迟量的方法,在白光正交偏振 系统中, 利用 HSV 色度系统分析白光干涉色 ,得到 干涉色图像的色调值 ,并使用 Soei-Babinet 补 偿 器 标 定 不 ll 同延迟量和其对应的白光干涉色的色调值之间的定量关系,从而实现了根据白光干涉 色的色调值计 算延迟量的目的。在补偿器丝杆步进位移 0.02m m 的情况下,延迟量标定精度为 0.95n m。实验测量了 一块 565 nm的零级全波片 ,所得结果与使用分光光度计测量的结果相吻合。结果表明,光源光强不稳 定及波片光轴方位角的变化对延迟量测量影响很小。 关键词, 延迟量, 白光干涉色, 色调, Soleil-Babinet 补偿器 中图分类号, TB96 文献标志码, A 文章编号, 10072276(2011)09178405 --- Method of measuring retardation of zero-order wave plate basedon hue value of white-light interference color Wang Jun, Chen Lei, Liu Zhaodong, Bian JianWga, ng Ping, ZhuangY an (School of Electronic Engineering and Photoelectric TechnoNalongjiyn, g University of Science& Technology, Nanjing 210094, Cihna , Abstract: A methodo f measuring retardationo f zero-order wave plate was presented obna sedthe hue of white-light interference color. To calculate the hue value, the white -light interference color was a nalyzed in the HSV color system. The relations between ret ardations and its corresponding hue values were calibrated by using a Soleil-Babinet compensator. Therefothere retardationo f a test wave platec ould be obtained by the hue value of its corresponding wh ite -light interference color, and the calibration accuracy was 0.95 nm when the step of the screw was 0 .02 mm. A zero -order wave plate a5t 6 5 nm was measured by using the proposed m ethod, and the result was 564.9 nm which coincided with the one obtained by spectroscopic m ethod (565.2 nm). The unstable intens ity of the light source aws e ll as the changeo f azimuth of optical axis haveli ttle influence on the retardationm easuremen t.Key words: retardation; w hite-light interference color; hue; Soleil-Babinet compenstaor 收 稿 日 期 ,20110119 , 修 订 日 期 ,20110221 ---- 基 金 项 目 , 江 苏 省 “ 六 大 人 才 高 峰 ” 项 目 ,06E030 , -- 作 者 简 介 , 王军(1981-),男,博士生,主要从事光干涉测量的研究。 Email: wjk31@163.com 导 师 简 介 , 陈磊(1964-),男,博士生导师,主要从事光学计量测试与光电智能化仪器方面的研究。 波片是一种由双折射晶体制成的位相延迟 器,用 于实现光波偏振态的转换,广泛应用于各种偏振光学 系统中, 而系统的性能和波片延 迟量的精度密切相 关,因此,精确测量波片的延迟量是非常重要的。 当使用白光作为光源时 , 将双折射晶体 置 于 正 交偏光系统中,便可观察到白光干涉色 , 当双 折射晶 体的延迟量变化时 , 对应的干涉色也 发生变化 , 因此 图 1 白 光 正 交 偏 光 系 统 可以根据正交偏光系统出射 光的颜色 , 查询干涉 色 Fig.1 Crossed polarizers systemw ith white-light [1] 色谱表,获得双折射晶体的延迟量。 这种方法的 精 度很大程度上取决于观察者的眼睛对于颜色 细微变 一种非常直观的颜色描述方法,其中,色调 H 用角度表 化的敏感程度,易受主观因素的影响,不适合高精度定 示,变化范围 0:360 ?,饱和度 S 表示图像色彩的纯度 量测量双折射晶体的延迟 量 。199 5 年 ,. Ajovalasit A与该色彩的最大纯度的比值,变化范围 0~1,亮度 V 的 4[]利用彩色 CCD 采集白光干涉色图像 , 并标定 出 双 折 变化范围为 0~1,值越大亮度越高。 延迟量的改变主 射晶体延迟量和白光干涉色图像的RGB 值 之 间 的 要引起白光干涉色的色调值的变化, 下面介绍如何标 定量关系,从而避免了主观因素对测量的影响,但易受 定延迟量和白光干涉色色调值之间的定量对应关系。 [2]入射光强不稳定的影响。 2002年 ,Carole C. Montarou Soleil-Babinet 补 偿器是一种延迟量连续可调的 利用分光光度计测量白光干涉色的x 、y 色 度 坐 标 零级位相延迟器 , 在延迟量从零逐渐增大的过程中 , 值 , 并 在 XYZ 色度系统中标定 了白光干涉色的x 、y 彩 色 CCD 接收到的白光干涉色的色调值 也 随 之 发 色度坐标值和延迟量的对应关系, 从而实现了定量测 生 变 化 , 补偿器的延迟量是已知的 , 而 HSV 色 度 系 [3] 量双折射晶体延迟量的目的。 上述 两 种方法在标定 统的各特征值可由彩色图像的RGB 值转换得 到 , 其 和测量时, 需要同时分析多个 颜色特征值和延迟量 中色调值 H 为, 间的定量关系 , 而文中 利用 HSV 色度系统分析白光 干涉色, 直接建立延 迟量和白光干涉色的色调值之 ?间的定量关 系 ,只需根据被测波片的干涉色的色调 ? (RG)+( RB) /2 [--] ?arccos G?B 2?1 / 2 值即可获得其延迟量。 ?[(RG) +(RB)(GB)]--- ? ? ?H=(2) ? ? (RG)+( RB) /2 [--] ?2π-arccos G,B ? 21 / 2 ? (RG) +(RB)(GB)[---] ? 这样就建立了延迟量和白光干涉色的色调 值之间的 定量对应关系 。 再将被测的零级波 片 置于图 1 所 示 的白光正交偏振系统中 , 根据 所 得白光干涉色的 色 1 原 理 调值, 对照标延迟量和白 光干涉色的色调值之间 的 当 双 折 射 晶 体 , 例 如Soleil-Babinet 补 偿 器 , 置 于 定量关系,可得到被测波片的延迟量。 正交的起偏器 P1 和检偏器 P2 之间, 并用白光光 源 照 明 时 , 如 图 1 所 示 , 可以观察到白光干涉色 , 其 中 P1 和 P2 的 透 光 轴 与 Soleil-Babinet 补偿器的光轴夹 2 实 验 角分别为 45 ?和45 ?,则该系统的透射光强为, - 2.1 标定延迟量和白光干涉色的色调值的定量关系 标定光路如图 1 所示,光源为白光 LED , 两个偏 2 πδ (1) I(δ,λ)=Isin ( ) 振片分别作为起偏器和检偏器 , 并调整至消光状态 , 0 λ 使 用大恒新纪元科技股份有限公司的GCO -030101 式中,为入射光强 ,为 波 长 ,为 补Iλ δ Soleil-Babinet 0 型 Soleil-Babinet 补 偿器, 调整其光轴与起偏器和检 偿 器 的 延 迟 量 。 由 公 式(1) 可 知 , 当 延 迟 量 发 生 变 化 偏器透光轴 的夹角分别为 45 ? 和-45 ? , 彩 色 CCD 用 时 , 观 察 到 的 白光 干 涉 色 也会相应地发生变化 , 因 于采集白光干涉 色 图 像 。 Solei l-Babinet 补 偿 器 的 延此,延迟量和白光干涉色之间具有特定的对应关 系。 1786 卷第 红 外 与 激 光 工 程 40 迟量零位对应的其丝杆位移为2. 834mm ,当工作 波 长为 565nm 时, 丝杆位移增加 1 1.850 mm , 对应补偿 器位相延迟量 增 加 2π , 因 此 , 每毫米丝杆位 移 量 对 应的延迟量为 (565/11.850) nm 。标定时 ,从延迟量零 位开始, 丝杆位移量每增 加 0.02mm ,CCD 采 集 一 幅 白 光 干 涉 色 图 像 ,并 利 用 图 像 的 RGB 值 和 公 式(2) 计算 该白光干涉色图像的色调值H , 从 而 标 定 出 不 同延迟量和其对应的白光干涉色的色调 值的对应关 系 , 如 图 2 所 示 , 其中色调的变化范 围 转 换 到 0 ~1 。 图 4 被 测 波 片 干 涉 色 的 色 调 值 附 近 的 数 据 点 及 拟 合 曲 线 根据该关系曲线和被测零级波片的 白光干涉色的色 Fig.4 Data nearthe test hue and its fitted curve 调值,就可以对照得到其延迟量。 达 式 为 , 5432 δ=(1.463 H8 -4.522 8 H+5.569 9H -3.415 9 H+ 8(3) 1.042 7H 0.126 6)×10 - 将 H =0.639 6 代 入 公 式(3) , 得 到 被测零级波片的延 迟量 δ=564.9 nm ,工作波长为 565nm , 。 2.3 结果比对 为了验证测量结果的正确性 , 使 用光谱 扫 描 法 [5] 测量该零级波片。 使 用 PE 公司 lambda950 型 分 光 光度计, 将 正交偏光系统置于分光光度计的测试 光 路 中 , 测得该波片的波长 透过率曲线如图5 所 示 , - 图 2 延 迟 量 与 白 光 干 涉 色 调 值 的 关 系 曲 线 Fig.2 Hue of the white -light interferencecolor vs retardation 2.2 零级波片延迟量的测量 将被测零级波 片 替 换 图 1 所 示 系 统 中 的 Soleil - Babinet 补 偿 器 , 调整其光轴与起偏器和检偏器 的 透 光 轴 夹 角 分 别 为 45 ? 和 - 45 ? , 此 时 ,CCD 接 收 到 的 图 像 亮 度 最 大 , 采 集到的白光干涉色图像如图3 所示,对应的色调值为 H=0.639 6 。在标定的延迟量 和 色 调 值 曲 线 中 , 取 色 调 值 与 H =0.639 6 邻 近 的 共 30 个 数 据 点 , 并 用 5 阶多项式对其拟合 , 图4 中× 为 标 定 得 到 的 数 据 点 , 实线为拟合后的曲线 ,其 表 图 5 被 测 波 片 的 波 长- 透 过 率 曲 线 Fig.5 Wavelength -transmittance curve of the test wave plate 其曲线的最小值出现在56 5.2nm 处,因此,该波片是 工作波长为 565.2nm 的全波片。 将其延迟量转换到 工作波长 565 nm 下为, μ(565)565.2 =565.2nm (4) δ= 565μ(565.2) 式中,μ 为波片材料 , 石英晶体, 的双折射率 , 其值通 [6] 过公式(5) 可得。 3 24--10μ(λ)=8.8641 0+0.107 057λ +0.001 989 3λ - 2-3 20.171 75λ -10Г(1+Г/900)(1.01+0.λ2 )(5) 图 3 被 测 零 级 波 片 对 应 的 白 光 干 涉 色 Fig.3 White -light interferencecolor of the test wave plate 该结果和根其中,Г 为温度,测量环境温度为 21 ?C 。 如图 7 所示,直线表达式为, 3 分 析 δ=1 761.2 H+167 8 -(6) 两边取偏导得, 3.1 由仿真白光干涉色分析延迟量的计算精度 根 据 Takenori Kato 提出的合成白光干涉色的 Δδ=-1 761.2Δ H (7) [7] 方法, 模拟在白 光正交偏振系统中使用D 光 源 照 65 则对于 ΔH=H -H =0.0003 的色调变化量 , 延迟量变 2 1 明时的白光 干涉色 , 如图 6 所示, 其中延迟量 δ 的变 化 Δδ=0.5 nm , 因 此 , 入射光 强的变化对延迟量测量 化范围为 0~780nm , 延 迟量采样间隔为0. 1 nm 。根 的影响较小。 据仿真白光干涉色的 色调值和延迟量的定量对应关 系可知, 当色 调值的变化量为Δ H=0 时, 对应 的 延 迟 量 的 最 大 变 化 量 为 Δδ =0.6 nm , 即只要延迟 量 的 变 化量大于 0.6 nm , 必定 会引起白光干涉色的色调值 的变化。 因此, 在理 论模拟的情况下 , 根据白光干涉 色的色调值计算延迟量的最大精度为0. 6nm 。 图 7 色 调 值 在 (0.595,0.635 ) 间 的 实 验 数 据 及 其 拟 合 直 线 Fig.7 Fitted curve by theexp erimental data between 0.595 0a.6n3d5 图 6 D光 源 下 的 仿 真 白 光 干 涉 色 65 Fig.6 Simulative white-light interference color with D 653.4 被测波片光轴与P1 透光轴夹角对测量的影响 测量过程中, 被测波片光轴和起偏器P1 透光轴 3.2 Soleil-Babinet 补偿器丝杆的精度对标定的影响 夹角为 θ=45 ? ,当 θ 偏离 45 ? 时,系统透射光强变弱 , 在 标 定 延 迟 量和色调值定量关系的过程中 , 每 下面通过 实验分析此时系统白光干涉色的色调值的 增加 0.02 mm 的丝杆位移量采集一幅白光干涉色图 变化情况。 旋转被测波片的光轴,使 θ 从 45 ?开始增加 像,每次步进增加的延迟量为, 至 55 ?,这个 过 程 中 , 白光干涉色的色 调 值 和 亮 度 值 的变化曲线如图 8 所 示 , 其 中 , 图像的亮度值 明 显 565 变 小 , 色调值逐渐增大 , 最 大 偏 差 仅 为 ΔH=0.0006 , ×0.02=0.95nm 11.850 代入公式(7)得延迟量偏差为 Δδ=1.1 nm,因此,当 θ 偏 Soleil-Babinet 因此, 延迟量的标定 精 度 为 0.95nm 。 离 45 ?较小时,延迟量偏差很小。 补偿器丝杆的位移精度可达0. 001mm ,标定 时减小 步进位移量,可提高标定精度。 对于由丝杆的机械结 构调整带来的误差 , 可以通过多次标定取平 均 的方 法消除。 3.3 光源强度不稳定对测量的影响 为了分析入射光强对延迟量测量的影响 , 在 不 同光源强度的条件下分别采集被测波片的 白光干涉 色, 其图像的亮度分别 为 V =0.2041 ,V =0.5236 , 色 12 调值分别为 H =0.6399 ,H =0.6396 ,在图像亮度 明 12 显不同的情况下,其色调值变化很小。 下面分析色调值的变化ΔH 对延迟量的影响 。 从 图 2 所示的延迟量和色调 的曲线中不难看出 , 在 图 8 白 光 干 涉 色 的 色 调 和 亮 度 随 θ 的 变 化 关 系 Fig.8 Curve of hue, luminance and θ 1788 卷第 红 外 与 激 光 工 程 40 photoelasticity: full -field automated photoelasticity in white light[J]. Exp Mech, 1995, 35(3): 193-200. 总 结4 [3] MontarouC C, GaylordT K, Villalaz R A, et al. Colorimetry - 在白光正交偏振系统中 , 利 用 延 迟 量 已 知 的based retardation measurement method with white -light Soleil-Babinet 补 偿器标定延迟量和 干涉色的色调值 interference[J]. Appl Opt , 2002, 41 (25): 52905297. -的定量关系,其标定精度与丝杆的位移精度成正比 , [4] Hearn D, Baker M P. Computer Graphics Second Edition 根据被测波片的白光干涉色的色调值测 量零级波片 [M]. 2nd ed. Translated by Cai Shijie. Beijing: Publishing 的延迟量。 该方法不易受光源强度不稳定的影响,当 Houseof Electronics Industry, 2003(.in Chinese) 被测波片光轴与起偏器夹角偏离 45 ? 较 小 时 ( 小 于 Hearn D, Baker M P. 计 算 机 图 形 学 [M]. 第 2 版. 蔡 士 杰 译. 北 京 : 电 子 工 业 出 版 社 , 2003. 该 方10?) , 对延迟量测量的影响较小( 小 于 1.1 nm) 。 Feng W W, Lin L H, Chen L G, et al. A spectroscopic [5] 法还可用于测量光学玻璃的内应力。 method for determining thickness of quartz wave plate [J]. Chinese Optics Letters , 2006, 4 (12): 705-708. 参考文献,Ennos A E, Opperman K W. Birefringence of natural quartz [6] [J]. Applied Optics , 1996, 5(1): 170. [1] Wang Xiang. Crystal Optics [M]. 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