SJ 50033.160-2002 半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范

中华人民共和国电子行业军用 标准 excel标准偏差excel标准偏差函数exl标准差函数国标检验抽样标准表免费下载红头文件格式标准下载 FL5961SJ50033/160-2002半导体分立器件3DG122型硅超高频小功率晶体管详细 规范 编程规范下载gsp规范下载钢格栅规范下载警徽规范下载建设厅规范下载 SemiconductordiscretedevicesDetailspecificationfartype3DG122siliconUHFlow-powertransistor2002-10-30发布2003-03-01实施中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范SJ50033/160-2002SemiconductordiscretedevicesDetailspecificationfortype3DG122siliconUHFlout-powertransistor1范围1.1主题内容本规范 规定 关于下班后关闭电源的规定党章中关于入党时间的规定公务员考核规定下载规定办法文件下载宁波关于闷顶的规定 了3DG122型硅超高频4锄率.藻摊巷女亡多参蒲貂黔扣.的详细要求。1.2适用范围本规范适用于器件例研制诀坐产伴口采购。1.3分类本规范根据器件质量等级进行分类。1.3.1器件的等级按GJB33A子9.7一心娜李体汾立器件总规范妙f3中的规定，提供效预量保证等级丈妞tJ军级、特军级和超特军级主级钾分别甩穿母JP.}JT和JGT.表研乏a2引用文件GBIT4587冬岁刻袭导体分立添件和集成奄滓各‘{鳍祥琴臀:双极犁裁体管GBIT7581-487伴导体汾文器件外形尺寸GJB33A一91,GJB128A一9}t}、军澎体4文熟作胃翼芳飞忿少一3要求3.1详细要求各项要求应符合GJB3JA和本斌范的规定。一3.2设计、结构和外形尺寸器件的设计、结构和外形尺寸应符vGJB.j扒和本规苑钓规定。3.2.1引出端材料和镀涂层发射极、基极和集电极引出端材料为可伐合金，引出端表面镀金。3.2.2器件结构采用硅平面NPN双极型外延结构。3.2.3外形尺寸外形尺寸按GBIT7581中A3-02B型的规定，见图10一一一-一一-一-一一一一-一一中华人民共和国信息产业部2002-10-3。发布2003-03-01实施1?????www.bzfxw.com????sJ50033/160-2002mm符号尺寸最小标称最大A6.106.60和5.48必I1.01必?0.4074.508四8.649.39四,8.018.54t0.7120.863K0.74l.14L12.525.4L,1甲27引出端极性:1发射极2篆极3集电极图1外形尺寸图3.33.3.1最大额定值和主要电特性最大额定值最大额定值见表Io表1最大额定值型号Pl’mwTA=250CvcsoVVCEOVrcm人Tog℃T℃3DG1225006045300-65-2002003.3.2主要电特性主要电特性见表2(几=25'C)。SJ50033/160一一2002表2主要电特性几hFE,1)VCEsmV肠01laAICEOuA介MHzGpdBPOW1=30MA,tCE=10VJlc"S0mAIB=5mA几月VCB=10VIBS脸E=10V户400MHz曝=10VIC=30mA户100REF1z咬E=10VIG=30mA最小值最大值最大值最大值最大值最小值最小位最小值3DG122301200.30.10.1700100.11)直流法测试.3.4测试要求测试应符合GJB33A及本规范的规定。3.5J标志器件上应有如下标志:a.器件型号;b.承制方标志。4质量保证规定4.1抽样和检验抽样和检验应特合GIt}3入k}+}}范表4-:轰5认早翻、表7的规定。4.2鉴定检验鉴定检验应符洽翻Ij3WXi本规靶鹅勺规凳骂一4甲3筛选(仅对JT和JCT级)筛选应按GJB33式的铆的规定‘;一具体筛选项良按早祁进行奋琪测试幢孩沐规范表4的规定进行，超过本规范表4极限1fmff件应剔除货表全彬描选要求”嘴筛选见GJB33A表2”斌验方法一‘’“’一’pi吞珍SA方法一号条并J卿JCT1.内部目检26'72,,100倍显微镜2.高温寿命1仍1.20Q'二叙洲旧律3.温度循环1}0亏·14-*f#C,赫2QZk4.恒定加速度2666'Y,芳向，II9e如咧君’一保持。min要求不适用7.密封a.细检漏b.C检漏1071条件H1,R,--5X10-3Pa·cm'/s,P=517kPa,t--4h条件C,P=517kPa,t=2h9.中间测试电参数Icsoi和hFEI10.高温反偏1039TA=150C，Vc,B=48V,t--48hII.中间电参数ICBO;和hFEt12.功率老炼1039TA,=25-CYcE=10V,Pta,=500mW,r--160h13.终点测试QIcso:为初始值的100%或0.05vA,取较大者，}△hFE,}〔初始值的20%1)未指明的项目不适用。?????www.bzfxw.com????sJ5G033/16o--20024.4质量一致性检验质量一致性检验应按GAB33A和本规范的规定进行。4.4.1A组检验A组检验应按GJB33A和本规范表4的规定进行。表4A组检验检验或试验GBI'F4587除非另有规定TA=25'C抽样方案符号极限值单位方法条件最小最大1分组外观及机械检验G形128A2071LTPD=52分组集电极一~基极击穿电压集电极一发射极击穿电压集电极一基极截止电流集电极一发射极截止电流正向电流传输比集电极一发射极饱和电压IV.1.10.2GJB128A3011IV.1.2.1TV.1.3W.2.7IV.1.4.1IE=oIc-10011AI$=0Ic蕊100PA几=0狡B010V几=-01乞E=10VVCE=10V,Ic=30mAIc=50mAIB=5mA116(c=o)犷(BR)cooV(BR;CEOIcaolICEDhFEII.CEsat6045300.10.11204.3VVvAPAV3分组高温丁作集电极一基极截止电流低温工作正向电流传输比IV.1.2.1W.2.7TA=150'C，玲s=10V,IE-0TA-55℃，脸E=10V,Ic=30mA116(cam)IcsaxhM21510协A4分组特征频率输出功率功率增益IV.1。13GTB128A3320GJB128A3320bct=10V,Ic=30mA户404MFlzVcE=10V,Ic=30mA户100hfflzZCE=10V,左=30mA户100MIiz116(亡亡心)介POGp7440.110MF1zWdBSJ50033/160--20024.4.2B组检验B组检验应按GJB33A及本规范表5的规定进行。表5B组检验检验和试验G用128A抽样方案鉴定检验和大批量的质量一致性检验LTPD小批量的质量一致性检验nlc方法条件1分组可焊性耐溶剂性20261022每个器件受试弓{出端数:3154102分组温度循环(空气一空气)密封试验a.细检漏b。粗检漏终点测试1ofi1澎:石诱蝇铎汾s.}.Ifft}.户试验条件H1,P=517kPa,r"--4hR,,<5X10-3Pa.cm31s,试验条件C,P=517kPa,tw2h泛见袭91-J:八.}3、410b/03分组稳态工作寿命犷终点测试E公27rTA=2513忿)尽一，00mw,1cE=10V,r-340h，见表挂步攀2称乓、_5!2/04分组开帽内部目检(设计核实):键合强度2075},2盯目检判据稼舞.定找的姆排义试验Mf凡flim汗器件雾关效弓L办t3'F10才12-合纹数55分组热阻产办pftA587斗召}riV}i;1`T性s=10V,左=30mA几,j-,j,<0.35KImW梦6106分组高温寿命(不工作)终点测试叉032一争赘夕鸥.“4际-x琴8步骚事,M12107分组恒定加速度粒子碰撞噪声检测终点测试20062052X,，Y,，Z,兰万私〕，196000m/s'条件A见表8 步骤 新产品开发流程的步骤课题研究的五个步骤成本核算步骤微型课题研究步骤数控铣床操作步骤 1,3,410610?????www.bzfxw.com????sJ50033/160--20024.4.3C组检验C组检验应按GJB33A及本规范表6的规定进行。表6C组检验，’检验和试验GJII128A抽样方案鉴定检验和大批量的质量一致性检验LTPD小批量的质址一致性检验月/c方法条件1分组物理尺寸2066技图1规定尺寸156102分组热冲击(液体一液体)引出端强度密封试验:a.细检漏b.粗检漏耐湿外观及机械检验终点测试10562036107110212071试验条件A,15次试验条件A,F5N,r10s,每个器件受试引出端数:3试验条件III，P=517kPa,r-4hR,-5X1a"3Pa.cm3IS,试验条件C,P=517kPa,r2h不要求预处理见表S步骤1,3,4106143分组冲击扫频振动终点测试20162056不丁作，14700mls2,0.5ms,xj%YINZ,,每个方向5次见表8步骤1、3,4to6106分组稳态工作寿命终点测试1026八=25℃士3℃，r1000h，Pto(=544MW,YCF=10V见表8步骤2,5人二!012/01)GJB33A表8中未指明的分组不适用。4.4.4E组检验E组检验应按GJB33A及本规范表7的规定进行。表7〔组检验(仅供鉴定)”检验和试验GJB128A抽样方案LTPD方法条件!分组溢度循环(空气一空气)终点测试1051试验条件C,150次见表8步骤1,3,4204分组热阻GB汀45871V.1.11tcB=1bV，Ic=30mA凡、(j.。，"'}0.35K/mWj.21,101)GJB33A表7中未指明的分组不适用。SJ50033/160一一20024.5检验和试验方法检验和试验方法应按本规范相应的表中规定的方法进行。4.5.1测试直流或交流参数测试按GBrT4587或GJB128A相应方法测试。表8B组、C组、E组白勺最后测试步骤检验GB/T4587方法条件符号极限值·单位最小值最大值t集电极一基极截止电流W.1.2.11E=0,Yc$=10VICBOI0.1协A2集电极一基极截止电流W甲1甲2甲t、贷0},,1ro=:10Vy.一俪o30.2uA3集电极一发射极饱和电压.W-1.4.1一2岭夕办截疵牛矛·毗二V&,W0.3V4正向电流传输比，扮，才誉‘旅,uz;10V;-fce30,MA,、、一’”#析at厂又34,,1205正向电流传输比探，2.了Vcr,=10V,Ic=30mA}乱动饭奋与初始值的30%5交货准备5.1包装要求包装要求应确GJB3}M5.2贮存要求贮存要求按'rJB娜咖取念。:5.3运输要求运输要求应社口t'33A的视ha飞6说明事项6.1预定用途符合本规范的器件供新.夕备设计使用和供现有设备的后勤保}c0f}0}`-6.2订货资料合同和订货单应规走护歹了丙容:“本规范的名称和编’民-b.等级(见1.3.1);数量;d.需要时，其它要求。附加说明:本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第十三研究所负责起草。本规范主要起草人:高颖、王于辉、崔波。计划项目代号:B01[1150?????www.bzfxw.com????