基础物理实验—研究性报告
激光双棱镜/劳埃镜干涉实验
(分波面法)
第一作者:赵麒 学号:14271140
第二作者:姜惠雯 学号:14011142
目录
摘要 2
一、实验目的 2
二、实验原理 2
1、菲涅耳双棱镜干涉 2
2、劳埃镜干涉 4
三、实验
方案
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5
1、光源选择 5
2、测量方法 5
3、光路组成 6
四、实验仪器 6
五、实验内容 6
1、各光轴元件共轴调节 6
(1)调节激光束平行于光具座 6
(2)调双棱镜或劳埃镜与光轴平行 7
(3)粗调测微目镜和其他元件等高共轴 7
(4)粗调凸透镜与其他元件等高共轴 7
(5)用扩束镜使激光束变成点光源 7
(6)用二次成像法细调凸透镜和测微目镜等高共轴 7
(7)干涉条纹调整 8
2、波长的测量 8
(1)测条纹间距Δx 8
(2)测量虚光源缩小像间距b及透镜物距S 8
六、数据处理 8
七、误差分析 11
八、实验改进建议 11
九、实验收获及感想 13
摘要:两束光波产生干涉的必要条件事:1、频率相同,2、振动方向相同,3、相位差恒定。尽管干涉现象多种多样,但是为了满足上述的相干条件,总是把由同一光源发出的光分为两束或者两束以上的相干光,使它们经过不同的路径再次相遇而产生干涉。产生相干光的方式分为以下两种:分波阵面法和分振幅法。菲涅耳双棱镜干涉和劳埃镜干涉均属于分波面阵法。下面通过对实验结果误差分析,方案改进建议,更好的理解分波阵面法干涉。
关键词:激光干涉、实验误差分析、实验改进
一、 实验目的
1、熟悉掌握等高共轴调节的方法和技术;
2、用实验研究菲涅耳双棱镜干涉和劳埃镜干涉并测定单色光波长;
3、学习用激光进行实验时的调节方法;
4、学会消视差和空程误差。
二、实验原理
1、菲涅耳双棱镜干涉
菲涅耳双棱镜可以看成是有两块底面相接、棱角很小的直角棱镜合成。若置单色光源S0于双棱镜的正前方,则从S0射来的光束通过双棱镜的折射后,变为两束相重叠的光,这两束光仿佛是从光源S0的两个虚像S1和S2射出的一样。由于S1和S2是两个相干光源,所以若在两束光相重叠的区域内放置一个屏,即可观察到明暗相间的干涉条纹。
如图所示,设虚光源S1和S2的距离是a,D是虚光源到屏的距离。令P为屏上任意一点,r1和r2分别为从S1和S2到P点的距离,则从S1和S2发出的光线到达P点得光程差是:
△L= r2-r1
令N1和N2分别为S1和S2在屏上的投影,O为N1N2的中点,并设OP=x,则从△S1N1P及△S2N2P得:
r12=D2+(x-
)2
r22=D2+(x+
)2
两式相减,得:
r22- r12=2ax
另外又有r22- r12=(r2-r1)(r2+r1)=△L(r2+r1)。通常D较a大的很多,所以r2+r1近似等于2D,因此光程差为:
△L=
如果λ为光源发出的光波的波长,干涉极大和干涉极小处的光程差是:
△L==
= kλ (k=0,±1, ±2,…) 明纹
=
λ(k=0,±1, ±2,…) 暗纹
由上式可知,两干涉条纹之间的距离是:
△x=
λ
所以用实验方法测得△x,D和a后,即可算出该单色光源的波长
λ=
△x
2、劳埃镜干涉
劳埃镜实验是由一块普通的平板玻璃构成的反射镜实现分波前干涉。缝光源S与反射镜面MN平行,来自缝光源的光向反射镜掠入射(即入射角接近90度),再从反射镜反射,这部分反射光与从S直接射过来的光时从同一波前分出来的,所以它们是相干的,在两光波重叠区域内产生干涉,从观察者来看,两相干光分别来自S和S',S'是光源S在反射镜中的虚像。
从上图中可以看到,在屏幕P上看不到波程差为零的干涉条纹,除非将屏幕移到N点。又由于空气是光疏介质,玻璃板是光密介质,光波由光疏介质射向光密介质的
表
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面时,在镜面反射过程总要产生半波损失现象,即相位突变的数值为π,故在N点观察到的暗点,同理在屏幕P上本来是亮点的地方由于半波损失而变成了暗点。
现在更具波动理论中的干涉条件来讨论光源(其中一个为虚光源S和S'所发出的光在屏上产生的干涉条纹的分布情况。如上图,设光源S与S 的距离为a,D是虚光源到屏的距离。令P为屏上的任意一点,r1和r2分别为从S和S'到P点的距离,则S和S'发出的光线到达P点的路程差是:
△L= r2-r1
接下来和双棱镜干涉同理,可得到条纹间距为
△x=
λ
实验测得△x,D和a后,则可以得到该单色光的波长
λ=
△x
三、实验方案
1、光源的选择
当双棱镜(劳埃镜)与屏的位置确定之后,干涉条纹的间距△x与光源的波长λ成正比。为了获得清晰的干涉条纹,本实验采用单色光源,如激光、钠光等。
2、测量方法
条纹间距△x可直接用侧位目镜测出。虚光源间距a用二次成像的方法测得:当保持物、屏位置不变且间距D大于4f时,移动透镜可在其间的两个位置成清晰的实像,一个是放大像,一个是缩小像。设b为虚光源缩小像间距,b’为放大像间距,则两虚光源的实际距离为a=
,其中b和b’由测微目镜读出,同时根据两次成像的规律,若分别测出呈缩小像和放大像时的物距S、S’,则物到像屏之间的距离D=S+S’。根据波长的计算公式,得波长和各测量值之间的关系是:
λ=
3、光路组成
S K B
P E
具体的光路如图所示,S为半导体激光器,K为扩束镜,B为双棱镜(劳埃镜),P为偏振片,E为测微目镜。L为测虚光源间距a所用的凸透镜,透镜位于L1位置将使虚光源S1S2在目镜处成方大像,透镜位于L2处将使虚光源在目镜出成缩小像。所有光学元件都放在光具座上,光具座上附有米尺刻度读出各元件的位置。
四、实验仪器
光具座,双棱镜,劳埃镜,测微目镜,凸透镜,扩束镜,偏振片,白屏,可调狭缝,半导体激光器。
五、实验内容
1各光学元件的共轴调解
(1)调节激光束平行于光具座
沿导轨移动白屏,观察屏上激光光点的位置是否改变,相应调解激光方向,直至在整根导轨上移动白屏时光点的位置不再变化,至此激光光束与导轨平行。
(2)调双棱镜或劳埃镜与光源共轴
①双棱镜干涉:将双棱镜插于横向可调支座上进行调节,使激光点打在棱脊正中位置,此时双棱镜后面的白屏上应观察到两个等亮并列的光点(这两个光点的质量对虚光源像距b及b’的测量至关重要)。此后将双棱镜置于距激光器约30cm的位置。
②劳埃镜干涉:将劳埃镜放到导轨上,使劳埃镜面尽量与导轨平行,然后在白屏上观察到双光点,再微调劳埃镜,使双光源灯亮且相距较近。
(3)粗调测微目镜与其它元件等高共轴
将测微目镜放在距双棱镜约70cm处,调节测微目镜,使光点穿过其通光中心。此时激光尚未扩束,决不允许直视测微目镜内的视场,以防激光坐灼伤眼睛。
(4)粗调凸透镜与其他元件等高共轴
将凸透镜插于横向可调支座上,放在双棱镜后面,调节透镜,使双光点穿过透镜的正中心。
(5)用扩束镜使激光束变成点光源
在激光器与双棱镜之间距双棱镜20cm处放入扩束镜并进行调节,使激光穿过扩束镜。在测微目镜前放置偏振片,旋转偏振片是测微目镜内视场亮度适中。
(6)用二次成像法细挑凸透镜与测微目镜等高共轴
通过“大像追小像”,不断调节透镜和测微目镜位置,直至虚光源大、小像的中心与测微目镜叉丝重合。
(7)干涉条纹调整
去掉透镜,适当微调双棱镜,使通过测微目镜观察到清晰的干涉条纹。
2波长的测量
(1)测条纹间距△x
连续测量20个条纹的位置xi 。如果视场内干涉条纹没有布满,则可对测微目镜的水平位置略作调整;视场太暗可旋转偏振片调亮。
(2)测量虚光源缩小像间距b及透镜物距S
测b时应在鼓轮正反向前进时,各做一次测量。注意:i)不能改变扩束镜、双棱镜级测微目镜的位置;ii)用测微目镜读数时要消空程。
3)用上述同方法测量虚光源放大像间距b’及透镜物距S’
六、数据处理
(1)原始数据表格
1、激光双棱镜干涉
扩束镜位置:115.00cm
测微目镜:26.80cm
1) 条纹位置(单位mm,Δ=Xi+10-Xi)
i
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Xi
7.975
7.795
7.564
7.279
7.015
6.832
6.656
6.478
6.232
5.987
i
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Xi+10
5.462
5.243
5.036
4.807
4.593
4.375
4.258
3.931
3.698
3.492
Δ
2.513
2.552
2.528
2.472
2.422
2.457
2.498
2.547
2.534
2.495
2)成放大像和缩小像的物距S和S’,单位cm;测微目镜中缩小像和放大像间距b和b’(单位mm)
S
b =|b1-b2|
S’
b’=|b1’-b2’|
从左到右
60.60
6.384-4.989
31.60
6.251-2.158
从右到左
60.60
|4.950-6.395|
31.60
|2.187-6.291|
平均值
60.60
1.420
31.60
4.098
(2)数据处理
用逐差法计算条纹间距△x以及求其不确定度:
激光波长的计算以及其不确定度的计算:
2、激光劳埃镜干涉
实验中对方法掌握不当,因而实验并未来得及做出来,故在后面的实验改进和
总结
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里会对劳埃镜干涉进行研究和讨论。
七、误差分析
1、等高共轴调节过程中和后续观察测量中,由于仪器存在一定的误差,导致调节过程中误差传递;
2、实验中,采用二次成像法测虚光源间距时,对放大像和缩小像的判断存在视差,以致后面测出的虚光源间距存在一定的误差;
3、测微目镜中的放大像、缩小像呈现光斑,在测定b,b’过程中,光斑中心判断不一致,对后面b、b’的值测量有影响,故结果自然有一定的误差;
八、实验改进建议
1、激光双棱镜干涉
(1)将测微目镜移到较远的位置,测微目镜清晰看见干涉条纹的条件下,尽量增大扩束镜到双棱镜的距离,以达到增大两虚光源实际距离a,减小a的相对误差,同时可以使测微目镜里出现更多干涉条纹,方便测量并且提高条纹间距的测量精度;
(2)测量尽可能多的干涉条纹数,减小条纹间距测量存在的误差;
(3)类似虚光源间距a测量方法(共轭法),测量D同样也采用这种方法,实验过程中,记录两次成像的数据b,b’以及两次成像透镜移动的距离l,然后利用
求出D,在后续的计算中,这样的测量方法可以修正系统误差,保证结果准确性;
(4)登高共轴调节这个过程对整个实验的进行至关重要,改进调节工具,将各个元件的调节处采用摇柄式,这样可以减少手直接操纵元件所存在的不确定性和不方便性,提高了等高共轴调节的质量。
2、激光劳埃镜干涉
(1)控制激光束和劳埃镜存在一定的缝隙(1mm左右,过大过小都会对干涉条纹的形成、数目多少、清晰度有影响);